Устройство для автоматического кон-троля больших интегральных схем намоп структурах

 

(11) wM UÕ З ФЪ ф Ч" фО

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Соки Советских

Социалистических

Ресиублик (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 11.04.74 (21) 2015235j18-24

15 (; л 1 — - (0.

G 01R 31, 28

1 (53) УДК 681,325.74 (088.8) с присоединением заявки ¹

Государственный комитет (23) Приоритет

Опубликовано 30.03.76. Бюллетень ¹ 12

Дата onl oликования опп,:гния lÁ.07.7б

Совета Министров СССР по аслам изооретений и отнрытий (72) Авторы изобретения

А. А. Ошемков, A. A. Уразов, Ю. Ф. Лисицын, 8. у«. Вгснляускги Е. А. Иохин (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ

БОЛЬШИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ HA МОЛ-СТРУКТУРАХ

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано при изготовлении больших интегральных схем (БИС) на МОП-структурах, например, для электронных клавишных вычислительных машин (ЭКВМ).

Известно устройство для контроля цифровых вычислительных машин, включающее в себя испытываемую схему, блок задания входных и выходных комбинаций, блок сравнения, блок компараторов логических уровней, измерительные входы которого подключены к испытываемой схеме, а опорные входы — к блоку эталонов, блок формирователей, блок управления, блок индикации годности.

Однако известное устройство характеризуется большим количеством программируемых комбинаций и сложным программированием, требует применения быстродействующих дорогостоящих запоминающих устройств при контроле БИС на МОП-структурах с динамической логикой и не обеспечивает предварительного контроля наличия электрических контактов выводов многовыводных цифровых схем с контактирующим устройством, необходимого для избежания ложной отбраковки испытываемых схем при функциональном контроле.

Кроме того, в таком устройстве невозможно выполнение ручного режима контроля по произвольной программе, необходимого для отладки программ испытаний и выявления некоторых неполадок устройства.

Цель изобретения — увеличение достоверности контроля.

5 Это достигается тем, что в устройство введены клавиатура, соединенная блоком задания программы, вычислитель, связанный через формирователь, коммутатор и контактирующийй блок с испытываемой схемой, блоком

10 сравнения и блоком задания выходных результатов, а входами — с клавиатурой, цифровой индикатор, соединенный с выходамп вычислителя, блок определения контакта, подключенный к первой группе выходов коммутатора il

15 к блоку управления, и блок индикации отсутствия контакта, подсоединенный к блоку определения контакта.

При ручном режиме контроля по любой произвольной программе оператор задаег кла20 виатурой код операции для ЭКВМ и контролирует на блоке цифровой индикации впзуально результаты операций, выполненные

ЭКВМ.

На чертеже представлена блок-схема пред25 лагаемого устройства.

Испытываемая схема 1 подсоединена сгоими выводами к контактирующему блоку 2, выходы последнего — к з. :oдгм ком. утгтор; 3.

Группа а выводов коммутатора 3 подклю31 чена к блоку 4 определения контакта, группа

508788

65 выходов блока 4 — к блоку 5 индикации отсутствия контакта, управляющий выход — к первому входу блока 6 управления, а первый выход блока 6 — к управляющему входу коммутатора 3. Одна часть группы б выводов коммутатора подсоединена к измерительным входам блока компараторов 7 логических уровней и входам блока 8 формирователей, выход блока компараторов 7 — к первому входу блока 9 анализа годности, другая часть группы б выводов коммутатора — к выходам блока 8 формирователей. Блок формирователей соединен с вычислителем 10 с учетом направления прохождения сигналов, индикационные сегментные выходы вычислителя — с сегментными, входами блока 11 цифровой индикации, выполненного по принципу последовательной поразрядной индикации, и с первой группой входов блока 12 сравнения, а индикационные разрядные выходы — с разрядными входами блока 11 цифровой индикации и с первой группой адресных входов блока 13 задания выходных результатов. Выходы блока 13 подключены к второй группе входов блока 12 сравнения, выход блока 12 — к второму входу блока 9 анализа годности. Вторая группа адресных входов блока 13 задания выходных результатов подсоединена к выходам

1-М блока 14 распределения тестовых команд, выходы 1-М блока 14 — к входам блока 15 задания программы, а (М+ 1)-й ьыход — к второму входу блока 6 управления. Выходы блока 15 задания программы подключены к входам блока 16 клавиатуры, выходы блока

16 — к клавишным входам вычислителя 10.

Потенциальные уровни разбраковки логических «О» и «1» вырабатываются блоком 17 эталонов, выходы которого связаны с опорными входами блока 7 компараторов. Второй выход блока 6 управления соединен с входом блока

14 распределения тестовых команд, третий его выход — с третьим входом блока 9 анализа годности, первый выход которого подключен к блоку управления, а второй выход — к блоку 18 индикации годности.

Все блоки устройства для контроля БИС подключены к блоку 19 питания.

Испытываемую схему (БИС) подсоединяют выводами к контактирующему блоку 2.

При автоматическом контроле по команде

«Пуск» все блоки устройства устанавливаются в начальное состояние, затем блок 6 управления вырабатывает команду на подключение

БИС через коммутатор 3 к блоку 4 определения контакта.

Для определения наличия электрического контакта выводов БИС с конгактирующим блоком 2 на все выводы БИС через коммутатор 3 подается относительно подложки напряжение E в прямом нерабочем направлении и пороговыми элементами одновременно на всех выводах группы а коммутатора 3 измеряются напряжения р-и-переходов стабилитронов, имеющихся в БИС для защиты от статического электричества и соединяющих каждый вывод БИС с подложкой. Если пороговый элемент регистрирует низкое напряжение, то контакт есть, если напряжение равно Е, то в цепи обрыв. B случае нормального контактирования из блока 4 определения контакта поступает разрешение на начало кон роля БИС в блок 6 управления.

Если какие-либо выводы БИС не законтактировали с контактирующим блоком 2, то блок определения контакта не дает разрешение на начало контроля БИС и на блоке 5 индикации отсутствия контакта включаются лампочки под номерами этих выводов. Когда оператор поправит выводы БИС в контактирующем блоке, лампочки гаснут и после повторного запуска поступает разрешение па начало контроля БИС в блок 6 управления.

Блок управления дает команду, по которой коммутатор 3 подключает выводы БИС к компараторам 7 логических уровней и блоку 8 формирователей, после чего совместно с вычислителем 10 в устройстве образуется полная электрическая схема ЗКВМ. Формирователи служат для восстановления сигналов, ослабленных B соединительных проводах. Компараторы подключены как можно ближе к выходам БИС до формирователей.

Из 6;IQK2 ) правления в олок 14 распределения тестовых команд поступает импульс, по которому вырабатывается команда на проведение первого теста. Эта команда в виде разрешающего потенциала подается на адресную шину в блок 15 задания программы и в блок

13 задания выходных результатов. L блоке задания программы вырабатывается команда, которая в клавиатуре производит действие, эквивалентное нажатию на клавишу ЭКВМ, согласно заложенной программе испытаний.

Зто вызывает выполнение в ЗКВМ некоторой операции, состоящей из большого числа промежуточных действий, равного числу тактов, необходимых для ее выполнения, например при умножении до 7500 тактов. БИС, будучи включенной в схему ЭКВМ, участвует во всех этих действиях и хотя бы один ее сбой приводит к искажению конечного результата операции. Во время проведения операции импульсы, поступающие с каждого выхода БИС, сравниваются компараторами логических уровней по амплитуде с эталонными уровнями

«О» и «1», задаваемыми блоком 17 эталонов, и результат сравнения подается в блок 9 анализа годности.

При проведении операции в ЭКВМ сигналы на блок 11 цифровой индикации не проходят. После выполнения операции результат подается на блок цифровой индикации и блок

12 сравнения, где поразрядно сравнивается с ожидаемым результатом, поступающим на вторые входы блока сравнения с блока 13 задания выходных результатов.

Результат сравнения по каждому разряду поступает в блок анализа годности, где обрабатывается информация, поступающая от компараторов логических уровней и блока срав508788 ненпя,;I по совокупности параметров определяется годность испытываемой схемы по данноо м у тесту.

Результат анализа подается на блок 18 индикац:lп годности, на котором расположены индикаторы «Годен», «Брак». Брак в свою очередь подразделяется на «Брак по логическому уровню» и «Функциональный брак».

Информация о годности БИС подается также в блок 6 управления, который в случае годности по первому тесту вырабатывает очередной импульс в блок 14 распределения тестовых команд, где тот преобразуется в команду на проведение второго и других тестов до

М-го теста. Если БИС годна по всем М тестам, то блок распределения тестовых команд вырабатывает последнюю (М + 1) -ю команду, которая заводится в блок управления и расшифровывается как конец контроля. По этой команде происходит остановка работы и на блоке индикации годности индицируется «Годен». В случае негодности БИС по какому-либо тесту происходит немедленный останов работы устройства и на блоке индикации годности индицируется «Брак».

В устройстве предусмотрен ручной режим контроля, при котором оператор работает по любой программе с клавиатуры и анализирует функциональную годность БИС визуально на блоке цифровой индикации. При этом блок компараторов логических уровней контролирует амплитуду сигналов как и в автоматическом режиме, а блок управления, блок сравнения, блок задания выходных результатов, блок распределения тестовых команд и блок программы отключаются.

Формула изобретения

Устройство для автоматического контроля больших интегральных схем на МОП-структу5 рах, содержащее коммутатор, входы которого соединены с выходами контактирующего блока, олок управления, соединенный с коммутатором, блок анализа годности, соединенный с блоком управления, индикатор годности, со10 единенный с выходом блока анализа годности, блок эталонов, компаратор логических уровней, соединенный с блоком эталонов, блоком анализа годности и второй группой выходов коммутатора, блок задания программы, 1 блок распределения тестовых команд, соединенные выходами с блоком задания программы и блоком управления, а вхо; ом — с блоком управления, блок задания выходных результатов, соединенный с выходами блока рас2О пределения тестовых команд, блок сравнения, входы которого соединены с блоком задания выходных результатов, а выход — блоком

à..l;.èçà годности, форм;1рователь, соединенный с второй группой выходов коммутатора, и блок питания, соединенный 00 вс-ми блоками, отлll÷à10ùååся тем. -IT0, с целью увеличения достоверности контроля, оно содержит кл авиа т 1 pv, соед:!Чснп1 IO с Оло ком заданияя программы, вычислитель, соединенный чезо роз формпюватель, коммутатор и контактиру1ощий 0.1ок с исгытываемой схемой, с олоком ср авпеllпи и блоком задания выходных рез льтатов, а входами — с клавиатурой, цифровой индикатор, соединеннь;."1 с выходами вычислителя, блок опредслепп . контакта, соединенный с первой группой выходо» коммутатора и с блоком управлен IH, II блок индикации отсутствия контакта, соед..пенный с блоком ollределения контакта.

508788

Составитель В. Финогенов

Тс., .д А. Галахова

Тскосд Т. Лясдеи о

Р.--.", òîð И. Грузоьа

Типография, пр. Сапунова, 2

За;:аз 1799 10 Изд, Уо 1271 Тираж 861 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытии

113035, Москва, 7Ê-35, Раушская наб., д. 4/5

Устройство для автоматического кон-троля больших интегральных схем намоп структурах Устройство для автоматического кон-троля больших интегральных схем намоп структурах Устройство для автоматического кон-троля больших интегральных схем намоп структурах Устройство для автоматического кон-троля больших интегральных схем намоп структурах 

 

Похожие патенты:

Авторы // 392504

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для выделения из партии интегральных схем (ИС) схемы повышенной надежности

Изобретение относится к области испытания объектов электронной техники, в частности предназначено для отбраковки образцов интегральных микросхем с аномально низкой радиационной стойкостью и надежностью

Изобретение относится к области вычислительной техники, а именно к системам и способам профилирования и трассировки виртуализированных вычислительных систем
Наверх