Кассета для нанесения пленки на плоские пластины

 

514378 этого 4 снлия Выст пbI 5 " пругой по Ioi!(KII 3, деформируясь направленно в сторону их угла наклона к основанию, перемещают размещен ные на пх опорных площадках 7 к геометрическому центру кассеты до тех пор, пока не 5 устранятся имеющиеся зазоры;как между отдельными пластинами в рядах, так и между рядами. Рабочим усилием прижимают пленку к.пластинам, выдерживают давление заданное время, а затем сии мают нагрузку. Так как ад- 10 гезия ленты 10 с пластинами 9 выше, .чем с упругим основанием рабочего органа, то налипа ния плепки к пабочем1 орга! у не происходит.

Пластины . 1. !песе(,-lо я Il! х 7.;1к"..é ге- !5 регружаются гя кассеты для дальпси1ппх опс1гцпй!. Для ",oe-..ïå÷27!!". Независимого и ливидуяльпого перемещения кэждой пластины ширина выступа кассеты не должна превышать шир1гны пластины, т. е. a(b. Минимальная 20 величина выступа до IiKна обеспечивать устойчивое размещение пластины на его опорной площадке 7, Высота выступа h)2b определена и" того условия, что при приложении предв<-.рительного усилия ня п,1аст1гны с наложен- 25 ной на,них пленкой, например, стсклосуспензии, устранение зазора бы,.!о бы полным, Од1!Я ко прч увели-!2íèè силия дэ ря.=очего предела, обе" печивающе-.о нанесение пленки, дальнейшяя дополнительная,12ôîpìà !ил не 30 нар шает взаис!Ного располо!кени !,пластин.

Угол наклона вы тая нов!1(осповапи!о 85 ) р)

)60 выбирается из того расчета, что при при1о кенном усилии параллельность опорной площадки 7 высту1пов 5 к основанию 2 оста- 35 ется все время постоянной.

Для беззазорпого сжатия пластин кяк в рядах, так и между рядами необхочимо, чтооы каждая пластина под действием приложение го усилия пер.".мешалась по направ1снию к 10 геометрическому центру кассеты. Это возможно только при соответ -;вующем угле накло ня выступов к продольной оси кассеты, который определяется отношением ширины пластины к б ее длине 1, т. е. tga= —, при этом чем меньше

l ширина пластины б, тем меньше уго1 наклона высту нов, а чем меньше длина l, тем больше у1гол. Предельное значение угла будет в том случае, копда длина и ширина пластины станут равными b=l (квадрат), тогда tga= l, а=45 .

III,рина канавок не имеет принципиального

::íяч2ния и предназначена для Ооеспе !ения необходимой направленной деформации выстуllîâ. Продольные канавки 8 улучи "-,þò усЛОЗИЕ ДЕфОРМЯЦИИ ВЫСТ1 ПОВ, И ИХ ЧИС:IO РЕГламентируется толь ко обеспечением условий независимого перемещения каждой пластины.

Формула изобре гения

Кассета для 1!анесения пленки на 1плоские

ПЛ ЯСТ НЫ, IIPCHÌ, Щ2 1 БЕННО II Pil ИЗ ГОТОВ 12НИИ по 1"!.po!2!3ii.lfковых лриооров, со12ржящая корп с, оспозя!i!2 с размещенной ня нем упругой пол ".Ож кой .-! э !21(2нты креп.12ни51 О т1и -! я 1о щ а я я тем, что, с 1121üþ повышения

Ка 1С Т ЗЯ ПЯПСССП!,и П 121 КИ ЭЛС;1СПТЫ КРЕПЛЕи!;! выло.".и ны в виде черед юшихся на поверхности !рутой подложки наклонных к основа!!1!!о Il к 1продольной оси симметрии кассеты выстуl!îâ и капавск, с образованием ромоообр;- . ных (ригур, причем высота и,ширина выступов I" àõîäëòñÿ в соотношении

6 26 и a(b, гд" /! — высота выступов;

b — шип:f!Ia пластин; и -- ширина выстулов.

Редактоо Т. Янова

Составитель H. Блинкова

Текред Е. Подурушина!

<орректор Н. Аук

Заказ 145б/4 Изд. ¹ 1383 1 и р а гк 963 Подписное

ЦНИИ!И! Гoc)äàðñòâåííîãe комитета Сове а Министров СССР по делам изобретений и огкрытий

113035, Москва, )K-35, Раушская наб.. д. 4 5

Тги ография. п и Сапунова, о

Кассета для нанесения пленки на плоские пластины Кассета для нанесения пленки на плоские пластины Кассета для нанесения пленки на плоские пластины 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области оптико-электронного приборостроения и касается способа измерения пороговой разности температур инфракрасного матричного фотоприемного устройства. Измерения осуществляются с использованием снабженного оптическим модулятором абсолютно черного тела (АЧТ) с площадью излучающей площадки, не превышающей размеров матрицы фоточувствительных элементов. При осуществлении способа устанавливают заданную температуру АЧТ (Tсигн), измеряют интегральные шумы Vш_ij всех ФЧЭ, измеряют спектр пропускания холодного светофильтра МФПУ, определяют его коротковолновую и длинноволновую границы пропускания λк и λд, измеряют сигналы всех ФЧЭ Vсигн_ij и рассчитывают величину пороговой разности температур по формуле где с=2,998⋅1010 см⋅с-1 - скорость света; kB=1,381⋅10-23 Вт⋅с⋅К-1 - постоянная Больцмана; h=6,626⋅10-34 Вт⋅с2 - постоянная Планка; N(Tсигн; λк; λд), квантов⋅с-1⋅см-2 - интеграл от функции Планка, определяющий квантовую облученность в телесном угле 2⋅π в спектральном интервале [λк; λд]; Z(Tсигн; λк; λд) - интеграл от производной функции Планка по температуре. Технический результат заключается в повышении точности и упрощении методики измерения. 1 ил.
Изобретение относится к приборам и методам экспериментальной физики и предназначено для исследования дефектной структуры кристаллов. Способ имеет преимущество по сравнению с методом рентгенодифракционной топографии: нет необходимости разрушать исследуемый образец, можно осуществлять экспрессный контроль больших партий монокристаллов. Способ впервые обеспечивает возможность экспресс-определения направления дислокаций в монокристаллах и эпитаксиальных пленках. Способ определения дислокаций в кристаллах включает селективное химическое травление кристалла до получения ямок травления размером 0,4-2 мкм и наблюдение ямок травления с помощью атомно-силового микроскопа. Измеряют угол наклона граней ямок травления, по полученным данным строят геометрические модели ямок и по наклону пирамид ямок травления рассчитывают направления дислокаций.

Кассета для нанесения пленки на плоские пластины

Наверх