Способ определения параметров дисперсной системы

 

У (») 5242-08ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

{61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявленб05.04,71. (21) 1641948/25 (51) М. Кл.е

&01 N 15/02

Cr01N 21/00 с присоединением заявки №

Гасударственный комитет

Соната Министров СССР но делам изоорвтвний и открытий (23) Приоритет (53) УДК 543.275.3 (088.8) (43) Опубликован 05,08.76.5толлетень № 29 (45) Дата опубликования описания 27;10.76 (72) Авторы изобретения

10, П. Коврижных, Ю. П. Вейгельт и Л. Е. Стерни (71) Заявитель Институт горного дела Сибирского отделения АН СССР (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИСПЕРСНОЙ СИСТЕМЫ

Изобретение относится к техническому, анализу процессов производства и перерабо .,ки дисперсных систем и может быть испол зовано при определении размера, удельного веса, концентрации н, скорости:, движения 5 частиц, степени и времейи влияния на них реагентов — коагулянтов и пептнзаторов.

Известен способ определения технологи ческих параметров дисперсной системы, ос-Г нованный на фотосканировании, при котором l0 частицы, помещенные в среду, подвергаютс действию классифицирующих сил и вызывают ослабление светового потока Г 11. Одн ко этот способ дает возможность определять параметры среды только в неподвижна х !5 .средах.

Наиболее близким к предлагаемому сп собу является способ, по которому параме ры дисперсной системы определяют с помощью кюветы, источника и приемника светово.20

ro излучения. Он заключается в измерении, ! характеристик прошедшего через систему или отраженного излучения, по которым су- ! лят о параметрах цисперсной системы (2).

Опнако из-за беспорядочного движения

2 ,частиц в дисперсной системе интенсивност ;прошедшего через нее или отраженного от

,нее излучения беспорядочно колеблется, о рицательно влияя на точность определения, ïàðàìåòðîâ дисперсной системы, особенно на размеры и удельный вес частиц.

Цель изобретения - повышение точностт

:определения параметров дисперсной системы за счет учета размера и удельного ве,.са частиц.

Эта цель достигается тем, что дисперс- ! 0

:ной системе придают периодические : колеба; тельные движения в направлении, перпенди кулярном ходу лучей, и регистрируют амплтуду прошедшего через систему нли отра н.ного излучения. Колебательные движения 1 I могут придавать, одновременно кювете, источтптку и приемнику излучения. В случае текущей системы орт.аниэуют течение систь мы в слое, перпендикулярном ходу лучей.

Кроме того, луч и площадь приемника излучения применяют прямоугольной формы и; ориентируют направление колебаний измери-;

:тельной системы перпендикулярно параллельным им сторонам.

524108

Составитель Н. Преображенская

Редактор Н. Вирко Техред Н. Андрейчук Корректор С. Шекмар

Заказ 4996/379 Тираж 1029 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ПП!1 "Патент", г. Уж"ород, ул. Проектная, 4

Формула изобретенйя

1. Способ определения параметров дис-, персной системы с помошью кюветы, источ

-,Мика и приемника светового излучения, за ключающийся в измерении: характеристик. прошедшего через систему или отраженного от нее излучения, цо которым судят о па раметрах дисперсной системы, о т л и ч аю ш и и с я тем, что, с целью повышении точности определения за счет учета размера g и удельного веса частиц дисперсной системы, йоследней придают периодические колебательные движения в направлении, перпенфь» кулярном ходу лучей, и регистрируют амплитуду прошедшего или отраженного излуче- 15 ния.

2. Способ по и, 1, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что организуют течение системы

is слое, перпендикулярном ходу лучей.

3. Способ по и, 1, о т л и ч а ю щ и й1с я тем, что колебательные движения при .дают одновременно кювете, источнику и при»

; емнику излучения.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Патент США, кл. 346»33, №3377597 от 09.04.68 г.

2. Григоров О. М. и др. Руководство к практическим, работам по коллоидной химии . М. 1 964, стр. 42-44-, прототип.1

Способ определения параметров дисперсной системы Способ определения параметров дисперсной системы Способ определения параметров дисперсной системы 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследовании двухфазных потоков в ядерной и тепловой энергетике

Изобретение относится к исследованию или анализу материалов с помощью отраженного рентгеновского или гамма-излучения и может быть использовано для автоматического контроля гранулометрических характеристик перемещаемого в технологическом потоке кускового материала
Изобретение относится к области исследования физико-химических свойств веществ

Изобретение относится к области экологии и предназначено для мониторинга окружающей среды, в частности для непрерывного контроля уровня вредных механических примесей (пыль, дым, туман) в воздухе

Изобретение относится к газоразрядным приборам, использующим электрический разряд, и может быть применено при исследованиях плазмы
Изобретение относится к области определения свойств частиц и может быть использовано для проверки аэрозольных датчиков веществ, содержащих третичные аминные функциональные группы

Изобретение относится к строительству, в частности к реконструкции и восстановлению зданий, и может использоваться для оценки качества гидроизоляции строительных конструкций

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для определения концентрации металлосодержащих аэрозолей в воздушной атмосфере

Изобретение относится к способам исследования процессов перемешивания жидких однородных и неоднородных сред и может найти применение в химической, нефтехимической, фармакологической, пищевой, биохимической и других отраслях промышленности, а также в экологических процессах очистки промышленных и бытовых сточных вод
Наверх