Устройство для получения тестов бесповоротных комбинационных схем

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (I I1 526895

Союз Советских

Социалистических

Республик (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 25.09.74 (21) 2061964,. 24 (51) М, Кл.- 6 06F 11 00 с присоединением заявки М

Совета Министров СССР ло делам изобретений и открытий

Опубликовано 30.08.76. Бюллетень № 32

Дата опубликования описания 21.10.7б (53) УДК 681.326(088,8) (72) Авторы изобретения

А. Я. Бессмертных и Н. И. Ишков (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ТЕСТОВ БЕСПОВТОРНЫХ

КОМБИНАЦИОННЪ|Х СХЕМ

Государственный комитет (23) Приоритет

Изобретение относится к области вычислительной техники и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей комбинационных схем.

Известна система конпроля работоспособно- 5 сти и диагностики логических схем на основе случай ных логических тестов (1).

Система включает генератор случайных чисел, .контролыную логическую схему и блок сравнения. Генератор случайных чисел под- 10 ключен,к входа м проверяемой и контрольной логически м схема,м, выходы которых соединеIHbI с логическим бло ком сравнения.

В .качестве устройства для получения тестов используются генератор времен ных сигналов, lо стробирую щий регистр, генератор случайных чисел, буферный усилитель,,шаговый коммутатор и линии задержки. Генератор временных сипналов через строби рующий,регистр подключе н к генератору случайных чисел и к буферному усилителю, а через линии задержки — к буферному усилителю и шаговому,коммутатору. Выходы буфер ного усилителя подKJIIoHBHbI к KQIHTpo;IhHQH логической схеме, а через шаговый коммутатор — к входам проверяемой схемы.

В качестве тестов используются случайные числа, вырабатываемые генератором и пода,ваемые в двоичной форме на управляющие входы проверяемой и контрольной логических ЗО функций. Логический блок по результатам сравнения выходных сигналов выдает и нформацию о неисправности проверяемой схемы.

Недостатком данной системы является большой расход ресурса при контроле логических схем и большое время контроля. Система не предусматривает разграничения в набо рах проверяющего и диагностического теста, полнота и длина теста ха ра ктеризуются вероятностными величинами, а также возможны повторения тестов при контроле. Указа нный недостаток присущ вследствие использования В качестве устройства для получения тестов генератора случайных чисел.

Из известных устройств наиболее близким по технической сущности,к изобретению является устройство, описанное в (2).

Это устройство содержит блок управления, коммутатор перемен|ных логической функции, соединенный входом с перВым Выходом блока управления, и ком мутатор переменных элементарных ко нъюнкций, вход которого подключен к выходу коммутатора переменных логической функции, управляющий вход — к первому выходу блока управления, первый выход соединен со входом индикатора тестовых наборов.

Недостатком данного устройства является необходимость выполнения большого объема логических преобразований для выделения из

26S95

3 получаемого диапностичеекого теста набора полного проверяющего теста. В практике целесообразно сначала проверять работоспособность комбинационной,схемы:Hа основе полного п роверяющего теста, входящего в полный диапностический тест. П ри отсутствии неисправности необходимость в дальнейших проверках отпада ет. При обнаружении же факта неисправности для отыскания ее вида и места нео бходи ма реализация остававшихся наборов

TcIcTB, не входящих в про веряю щий, но в сумме с IHHIM составляющих диапностический тест.

В результате этого уменьшаются расход ресур са провЕряемой схемы и время контроля.

Целью изобретения является повышение эффективности работы устройства получения тестов бесповторных комбинационных схем.

Поставленная цель достигается тем, что устройство содержит блок памяти, подключе нный управляющим Hxopом ко второму выходу блока управления и входо м ко вто ро му выходу коммутатора перемен|ных 3JIOMBHTBIp!Hblx конъю н кций, элемент И и инди като!р наборонив проверяющего теста, вход которого через элемент И подключен к выходу блошка памяти.

Это позволяет выделять из получаемых тестов пол ные проверяющие тесты.

Схема устройства изображена на чертеже.

Устройство содержит бло к управления 1, коммутатор переменных логической функции

2, ко ммутато р перемененных 3JIBIIcHTB!plHblx ко ныониций 3, FIHI+HIKBT тестовых наборонив 4, бло к памяти 5, элемент И 6 и индикатор набо|ров п роверяю щего теста 7.

Бло к управления .1 первым выходом подключен н входу ко ммутато ра пе реме н ных логической функции 2 и у1п равляющему входу коммутатора,переменных элементарных IKoiHъюнкций 3, вход KoTolporo подключен к,выходу коммутатора переменных логической фун|кции

2. Второй выход блошка уп ра вления 1 подключен к упра вляющему входу блока памяти 5, вход кото рого соединен со вторым выходом коммутатора переменных элеме нта р ных ко нью нкций 3. Первый выход коммутатора 3 подключен к входу индикатора тестовых .наборов

4. Вход индикатора 7 подключен через элемент И 6 к выходу блока памяти 5.

Блок управления 1 служит для подачи напряжения источника памяти |на коммутаторы

2 и 3, снятия, напряжения с блока па мяти 5 и представляет со бой коммутирующие устройства для выполнения указан ных функций.

Ко ммутато р переменных логической фу!HIKции 2 предназначен для ввода IlppBMcFIHblx логичес кой функции контролируемой комби нацио нной схемы и,представляет собой на бо1р

КО М М УТИ РУ10 ЩИХ ЭЛЕМЕНТОВ, Н BIIIP HMCiP <П ЕД Еключгтелей, во включенном состоянии которых соответствующие выходы коммутатора подключают ся ко входу.

Коммутатор переменных элемента|рных ко ныонкций 3 служит,для ввода переменных элемента рных .ко нъю нкций логической фун|кции и представляет со бой набор коимути рую5

4О

4 щих элементов, например переключателей с тремя фиксирова нными устойчивыми состояниями. В нейтральном положении их первые выходы коммутато ра подключены .к его входу, в односум из включенных положений,:вторые выходы по д ключены,к его управляющему входу, а в другoM включенно м .положении IK упра вляю щему входу подключены оба выхода коммутато,ра 3.

Инди като р тестовых наба ров 4 представляет собой набор индицирующих элементов, отображающих в двоичном коде информацию о тестовых наборах.

Бло|к па мяти 5 служит для хранения и нфо рмации î наличии переменных в элементарных коíъю н кциях и содержит элементы па.мяти, число KoTopblx определяется возможностью устройства.

Элемент 6 п редназначе н для выполнения логичеакой операции И, а индикатор наборов проверяю щего теста 7 сигнализирует о получении минимально го количества наборов диагностического теста, составляющих,в су мме

IIo;IlkIbIH проверяющий тест. И ндHIKBTolp 7 представляет собой, например, и ндици рующий элемент.

Устройство работает следующим обра зом.

В исходном положении устройства,все коммутирую щие элементы находятся в выключенном или нейтральнои,положении.

Для определения IHaборов разрыва с помощью коммутато1ра перемененных логической фу нкции 2 |набирают переменные инверсной логической функции, а с .помощью коммутатора перемененных элемента р ных коныон кций 3— переменные одной из элемента рных конъюнкций логической функции. С подачей на|пряжения с блока управления 1 на коммутаторы 2 и 3 и нди като р тестовых наборов 4 отобразит и нфо рмацию î cocToHIHии, переменных в данном тестовом наборе. Для получения других наборов разрыва с помощью коммутатора переме н ных элементарных конъюнкций 3 вводят переменные других конъюнкций при неизменном положении коммутирующих элементов коммутато!ра перемененных логичеакой функции

2. ITðH поочередном вводе всех конъюнкций получают все,на бо ры разрыва лолного диапностическоно теста.

При вводе переменных с помощью ком мутатора 3 бло к па мяти 5 запоминает их. При вводе всех переменных логической функции включится и ндикатар наборов п роверяю щего теста

7. Это lolBO!pHT о то м, что все наборы,разрыва, полученные до и в момент включения индикато ра,, входят в проверяющий тест.

Перед получением наборов ш HTHlpîâàlíèÿ с помощью блока управления 1 снимается напряжение источника пита пня с блошка .памяти

5, в результате чего его элементы памяти возвращаются в исходное состояние и обесточиваегся инди като р наборов п роверяющего теста.

Для оп ределения наборов шунтирования с помощью коммутатора переменных логиче кой

526895 фу вакцин 2 набира1от переменлные логической фупкции, а с помо щь1о коммутатора переменных элементарных коньюнщий 3 — переменные одной из элементарных ко нъю н кций,дизьюнктивной нормальной формы инверсной логической функции. С подачей на пряжения с блока управления 1 на ком мутаторы 2 и 3 .индикатор тестовых наборов 4 отобразит информацию î colctoHнии Гперемен ных в данном тестовом наборе. Для получения других наборов шунгги рования с помощью коммутатора 3 вводят:переменные других конъюнкций при неизменном положении коммутирующих элеме нтов,коммутатора 2. При Гпоочередном вводе всех коньюнкций получают все наборы шунтирова ния пол ного диагностического теста.

П ри вводе перемененных .с,п омощью коммутаI oipa 3 блок па мяти 5 за поминает их. При вводе всех пЕременных и нвероной логической функции включится индикатор IHBбо ров проверяющего теста 7. Это тово рит о том, что все наборы шунти рова ния, полученные до и в момент .включения индикатора, входят в проверяющий тест.

Объединяя все полученные наборы разрыва и шунтирования, получают пол ный диагностический TQcT для дан ной комби наIIHQIHной схемы. Объединяя все зафи иси1рованные на боры разрыва и шунтирования, полученные до и в момент включения ин ди1катор а 7, получ а ют полный п роверяющий тест, входящий в полученный диагностический.

В отдельных частных, случаях проверяющий тест может являться и диагностическим.

Но всегда прове ря1ощий тест будет полность1О входить в .1иагнocти 1сский.

5 Формула llзобретения

Устройство для получения теcTois бесповгорных комбинационных схем, содержащее блок Hip BiBëåíèÿ, коммутатор переменных логичеIo ской функции,,соединенный входогм с первым выходом блока управления, .и коммутатор переменных элемента рных коныонкций, вход которого подключен к выходу, коммутатора переменных логической функции. управляющий

15 вход — к первому выходу блока управления, первый .выход соединен со входом индикатора тестовых наборов, от л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения эффективности работы устройства, оно содержит блок памяти, под20 ключенный управляющим входом ко .второ му выходу блока управления и входом ко второму выходу коммутатора переменных элементарных конъюнкций, элемент И и индикатор на боров:проверяющего теста, вход .которого

25 через элемент И подключен,к выходу блока па,:мяти.

Источники и нфор мации,,принятые во внимание при экспертизе:

Зо 1. Патент СШЛ ¹ 3614608, 32473R, 19.10.72.

2. Описа ние изобретения по заявке

¹ 1914008/18-24 от 03.05.73, по которой вынесено решение о выдаче авторского свидетельства.

526895

Составитель А. Жеренов

Техред 3. Тараненко

Корректор А. Галахова

Редактор Е. Шепелева

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 2180/9 Изд. М 1655 Тираж 864 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5