Способ многоэлементного рентгенорадиометрического анализа

 

О П И С А Н И Е (и) 529397

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистииеских

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 17. 10, 74. (21) 2067892/25 (51) М. Кл.о 6 01 и 23/22 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет (43) Опубликовано 25. 09. 76. Бюллетень № 35 (53) УДК 543. 52 (088.8) (45) Дата опубликования описания 10.06.77

Государственный номнтет

1 оееха Министров СССР по делам изобретений н открытий

С. В. Мамиконян, А. А. Вайгачев, В. И. Мильчаков и К. И. Щекин (72) Авторы изобретении (71) Заявитель (54) СПОСОБ МНОГОЭЛЕМЕНТНОГО РЕНТГЕНОРА —.

ДИОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА СПЕКТРОМЕТРОМ

Известен способ многоэлементного анализа путем возбуждения флуоресцентного излучения искомых элементов в исследуемой пробе с помощью изотопного источника, согласно которому на спектре выделяют цод пиками аналитических линий и участки, лежащие рядом с пиками, что позволяет учесть фон.

Однако для измерения N — линий по такому способу требуется 2 N каналов, а, кроме того, в случае неразрешенных пиков учет фона практически невозможен.

Известен способ многоэлементного рентгенорадиометрического анализа, согласно которому измеряют интенсивности аналитических линий от исследуемой пробы и по шм определяют концентрации анализируемых элементов.

Цель изобретения заключается в том, чтобы повысить чувствительность и то пюсть анализа без усложнения измерительной аппаратуры.

Это достигается тем, что предварительно производят измерения энергетического распределения импульсов детекторов излучения от каждой из аналитических линий, определяют коэффициенты фоновых вкладов на месте аналитических линий от каждой из остальных аналитических линий и по изме1 ренным на исследуемой пробе интенсивностям анали-I

1 тических линий рассчитывают фон на анализируемой пробе.

Кроме того, коэффициенты фоновых вкладов определяют при двух различтп)х интегральных загрузках спектрометра.

Физическая сущность предлагаемого изобретения заключается в следующем. При регистрации моноэнергетических квантов ренттеновского излучения аппаратурный спектр ионизационных спектрометрических детекторов (пропорциональных счетчиков и полупроводниковых детекторов) со цержит, кроме пика полного поглощения Гауссовой . формы, низкоэнергетическое непрерывное распрецеление, простирающееся от нулевой энергии до энергии подающего излучения, а также фоновое распределение с энергиями выше энергии падающего излучения, Таким образом, любая из регистрируемых линий даже при условии ее полного энергетического разрешения с соседними линияы находится на некотором аппаратурном фоне, обусловленном остальными интенсивными линиями содержащихся

) элементов и однократно рассеянным излучением.

529397

Известны две тзсыовные причины образования

О!O ЕППара: ура!ОГО фоиа. ПроцЕССЫ В Самом ДЕТЕКтот, приоодящие к образованию импульсов с

",." .Сноп.,виной амплит; дой.,и наложение импульсов, приводящее как к умень "ению, так и к увеличению амплитуды импульсов. Причем характер и соотноьцение этих факторов таковы, что "= обл:-;сти энергии меньших энергий пика полного поглощения преобладающими являются процессы в детекторе и в первом приближении величина фона пропорцио- щ нальна величине пика полного поглощения. В области бопьцтих энергий основной при иной образования фена является наложение импульсов и фон, обусловленный этим фактором, пропорционален квадрату величины пика полного поглощения. и

Таким образом, величина фона под -Ой аналитической линией может быть записана в виде

1. Способ многоэлементного рентгенорад!!Ометрического анализа спектрометром, заключа!ощпйся в том, что .«а исследуемой пробе измеряют интенсивности аналитических линий и по ннм определяют ко)щентрации анализируемых элементов, о т л и ч ае

30 ю щи и с я тем, что, с цепью повышею!я чувстви- ( тельности и точности анализа, предварительно производят измерение элер!етического распределенияимпульсов детекторов и зг!уче пня от каждой и з аналитических линий, определяют коэффициенть! ф5 фоновых вкладов на месте аналитических линий от каждой пз остальных аналитических пиний и по измерепым на исследуемой пробе интенсивностям аналитических линий рассчитывают фон на анализируемой пробе.

4!О 2. Способ по и. 1, отличающий сятем,что коэффициенты фоновых вкладов определяют при двух разпи и!ых интегральных загрузках. спектрометра.

К. Кононов

Техред И. Ковач

К„ррек- тор .!!. !3о риис кая

РедактоР з!. Иародиая

Тираж 1032 1!одиисиос!!НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СС(! ио делам изобрстс!шй и открытиа

1! 3035, Москва, Ж вЂ” 35, ау!нская иаб.. д.4/5

Заказ 5 345/110

Филиал ППТГ 71RTFHT, г. V>KIopo/L, ул. Т!росии!ая, 4

M e i = Кот + Е N j (K j j+ К j j !ч,! ) (1)

j=! где М вЂ” общее число регистрируемых линий (вклю- ° чая пики однократно рассеянного излучения );

N j — интенсивность ) — ой регистрируемой линии за вычетом фона;.

Ко1 — постоянная составляющая фона под — ou ,регистрируемой линией, которая опредепяс гся естественным фоном и наличием высокоэнергетических,линий v источника возбуждающего излучения;

Кз 1, К1$ — постоянные коэффициенты, опрепе.лятощие вклад от g -ой регистрируемой приши в фон под i -ой пинией от составляющих апперетурного фо:.е и фоне наложений соответственно.

Способ реализуют следующим образом.

Перед измерением анализируемых проб производят измерения проб, содержащих по одному из

:;.предепяемых и мешающих элементов, и производят измерение пробы, состоящей только из напопкм,еля. Эти измерения производят при различных, минимз м двух) импульсных интегральных загрузках, соответствующих рабочему диапазону загрузок рентгенорадиометрического анализатора. Затем определяют для всех аналитических линий постоянные коэффициенты К з j и К j . После этого измеряют скорости счета. аналитических линий, интенсивных линий, мешающих элементов и пиков рассеянного излучения, т.е. производят те же самые. измерения, которые являются необходимыми в многоэлементном рентгенорадиометрическом ана- лизе для расчета концентраций определяемых элементОв, после чего по формуле (1) рассчитывают фон под каждой из аналитических линий и вводят фоновые поправки в расчетные формулы определения концентраций анализируемых элементов.

Указанная операция производится только один раз перед исследованием проб, отличающихся только процентным соотношением компонентов.

Это позволяет повысить чувствительность и точность анализа беэ увеличения количества спектрометрическпх каналов дпя измерения фона, Формула изобрете пия