Интерферометр

Авторы патента:

БЕЛЕВЦЕВА ЛАРИСА ИЛЬИНИЧНА

КОРОЛЕВ ЕВГЕНИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ

ПУШКИН ЮРИЙ ДМИТРИЕВИЧ

КИРИЛЛОВА НАТАЛЬЯ ВАСИЛЬЕВНА

G01B9/02 - интерферометры

и® - аида »

° аа

° Фаа баее т рд щ

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВЯДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (») 532755 (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено03.01 74 (21) 1983919/25 с присоединением заявки № (23) Приоритет(43) Опубликовано25,10.76.Бюллетень №39 (45) Дата опубликования описания 22.02.77 (51) И. К .

G 01 B 9/02

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изооретений и открытий (53) УДК 535,854 (088,8) (72) Авторы изобретения Il. H. Белевцева, Е, А. Королев, Ю, Д. Пушкин и Н. В. Кириллова (71) Заявитель (54) ИНТЕРФЕРОМЕТР

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для определения оптических неоднородностей синтетических кристаллов, например рубина, 5

Известен интерферометр Майкельсона, содержащий источник монохроматического излучения, входную диафрагму, коллиматор, светоделитель, два плоских зеркала, компенсатор разности хода; приемный объектив 10 и фотокамеру (11. Такие интерферометры широко используются для исследования неоднородностей прозрачных сред, Известен также интерферометр типа Майкельсона, содержаший те же самые основ- 15 ные элементы для контроля оптической неоднородности синтетических кристаллов (2 $.

В рабочую ветвь интерферометра вводится исследуемый образец и в монохроматическом свете фотографируется интегральная интерфе- 20 ренционная картина фронта волны, искаженного неоднородностями образца. Полученная таким образом интерферограмма требует обработки, т,е, определения графически и с помощью расчетов поддающихся коррекции сос тавляюших общей неоднородности, в частности сферической и клиновой, которые обусловлены существующей технологией получения синтетических кристаллов.

Однако этот интерферометр дает низкую точность определения величин составляющих неоднородности из-за трудности расшифров ки интерферограмм, содержащих большое число интерференционных полос сложной формы, что приводит к необоснованно малому выходу годных кристаллов, Цель изобретения вЂ” раздельное определение и повышение точности измерения сферической и клиновой составляющих оптической неоднородности образпа в широких пределах и повышение производительности интерферометра, line этого в рабочей ветви интерферометра перед образцом установлена система переменной оптической силы, выполненная из двух линз вЂ” положительной и отрицательной, снабженная средствами для продольного перемещения одной линзы относительно другой и поперечных перемещений всей системы, 532755

Составитель Н. Решетников

Редактор Н. Козлова Техред М. Левипкая КорректорС. Яолдижар

Заказ 5646/192 Тираж 864 Подписное

0НИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Похожие патенты:

Голографический интерферометр // 532279

Бесконтактный датчик геометрических размеров стекловолокна // 532000

Интерференционное устройство для контроля оптических поверхностей // 530169

Интеферометр для исследования качества поверхностей и аберраций крупногабаритных оптических элементов и прозрачных неоднород ностей // 529362

Поляризационный интерферометр для измерения угловых перемещений // 524075

Интерфереметрическая система сканирования // 524074

Интерферометр для контроля качества выпуклых гиперболических зеркал телескопа кассегрена // 523274

Двухлучевой интерферометр // 523272

Устройство для диагностики оптических активных сред // 521455

Устройство интерференционного измерения проекции вектора перемещения поверхности диффузно-отражающего обьекта // 520507

Двухлучевой интерферометр для измерения показателя преломления изотропных и анизотропных материалов // 2102700

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения с высокой точностью показателей преломления изотропных и анизотропных материалов

Звездный интерферометр майкельсона // 2103662

Устройство для автоматизированного измерения угловых величин // 2112208

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для высокоточных измерений малых угловых перемещений в специальных геодезических работах, в точных геофизических измерениях и при производстве крупногабаритных изделий в качестве контрольно-измерительной аппаратуры

Интерферометр для контроля формы поверхности выпуклых гиперболических зеркал // 2114390

Устройство для записи голографических интерферограмм // 2119644

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Устройство для измерения поверхностных характеристик // 2124701

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Способ обработки сигнала кольцевого интерферометра волоконно-оптического гироскопа (варианты) // 2130587

Изобретение относится к области волоконной оптики и может быть использовано при конструировании электронного блока обработки информации волоконно-оптического гироскопа, а также других датчиков физических величин на основе кольцевого интерферометра

Интерферометр перемещения // 2139496

Изобретение относится к интерферометрам и может быть использовано для абсолютного измерения линейной длины отрезков

Микрорезонаторный волоконно-оптический датчик концентрации газов // 2142114

Изобретение относится к волоконно-оптическим автоколебательным системам на основе микромеханического резонатора, возбуждаемого светом, и может быть использовано в системах измерения различных физических величин, например, концентрации газов, температуры, давления и др

Способ измерения квазипериода дифракционного распределения излучения от узкой щели // 2145054

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в скоростных дифрактометрах