Магнитоэлектрический дефектоскоп

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советскиж

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 090473 (21) 1905401/25-28 с присоединением заявки РЙ(23) Приоритет

2 (Щ М. Кл..

С 01 N 27/86

Гиирдьрьтиьииыи ивиитьт

Вввьта Мививтрьв 666Р вь иьиви иввврьтвиий и итирытиФ (43) Опубликовано 2511.77,6воллетень М 43 (53) УЛК620. 179.14. ,08в, 088 . 8) (45) Дата опубликования описании 08,1277

И. A. Михайленко, Э. 8. Чуприняк и B. A. Зинин днепропетровский ордена 1тенина трубопрокатный завод им. 3Ьзнина (54) 1л1 рии1ОздектРический дефек1 ОскОтт

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и предназна» чена для контроля качества ферромаг- нитных изделий, в частности труб.

Известно устройство для контроля изделий цилиндрической формы, которое содержит систему I вращающихся индикаторов по типу магнитных зонда .В, расположенных в виде двух групп со сдвигом по оси иэделия, блока ампли тудно-фаэовой обработки сигнала и индикаторного блока 91$

Однако известное устрайствО не позволяет производить равноценнун дефектоскопию дефектов разных видов.

Известен также дефектаскоп, содержащий электромагнитный преобразо- ватель, линии задержки, выполненные, например, в виде кольцевой магнитной ленты, по периметру которой расположена голонка записи, соединенная с преобразователем, и 2 П (где Н = 1, 2, 3 ......И) головок воспроизведения, соединенных с входами решающего блока 2) дефектоскап предназначйн для контроля иэделий цилиндрической формы.

Преобразователь, проходя по поверхности изделия при наличии дефекта выдает сигнал, который поступает на записывающую головку и на решающий блок. Через половину оборота, когда над дефектом проходит снова преобразователь, сигнал Вновь поступает

8 на решающий блок и записывающую головку. Одновременна воспроизводящей головкой считывается сигнал, записанный ранее, и подается на решающий блок. Последний служит в качестве ин10 дккатора и срабатывает только в слу-чае одновременного прихода сигнала от второго по времени преобразователя и сигнала воспроизводящей головки.

К асновчым недостаткам известного

)5 дефектоскапа о. носится; неравноценная выявляемость дефектов разййх видав,, как например, трещин, плен, .эакаroB, рисок, эабоин и т.п., а также невоз- можность идентификации дефектов.

93 Целью изобретения является пав."пенне достоверности контроля, T.å. до»- тижение равноценной выявляемасти де-фектов разных видав с однаврем:. -и-ой кх идентификацией в автоматическом

25 режиме.

Зто достигается тем, что дефек оскап снабжен блоками опроса, подключенными к выходу решающего блока,,блоком автоматики, соединенным с выЗО ходами блока опроса- и подключенной

581424 к блоку автоматики дополнительной головкой воспроизведения, расположен"-ной между последней головкой воспроизведения и головкой записи линий задержки, 5

На чертеже представлена блоксхема дефектоскопа.

Дефектоскоп выполнен в виде подвижного каркаса 1, на котором устанав лены преобразователь 2 линии 3 задержки, выполненные в частности как кольцо магнитной ленты 4, головка записи 5 и 2 g, головок 6 воспроизведения. Головки 5 и 6 установлены на неподвижном каркасе 7. Головки 6 попарно подключены к входам решающего блока 8, выходы которого подключены к блокам 9 и 10 о1 роса, соединенным своими выходами с блоком 11 автоматики. Между послед ей головкой 6 воспроизведения и головкой 5 записи линий 3 задержки на неподвижном каркасе 4 укреплена головка 12 воспроизведения, подключенная к блоку 11 автоматики. Между преобразователем 2 и головкой 5 может быть включен усилитель 13.

Каждая нечетная головка 6 подклюЧена к усилителю 14 решающего блока 8

Каждая четная головка подключена к усилителю J4 своего канала через ин" вертор. 15.

К выходам усилителей 14 подключе.

Ны фсрмирователи 16 и решающие блоКи 17, свяэаннные с блоком 9 опроса.

К выходам формирователей 16 подключе

Ны логические блоки 18, связанные с блоком 10 опроса. С выходами блоков 9

И 10 опроса связаны управляющие блоКи 11 автоматики, рабочий вход. которого связан с головкой 12 воспроизведе- 40 ния.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Когда преобразователь 2, обегая поверхность иэпелия 19, проходит над 45 дефектом, например, типа нарушения оплошности, cHlнал В Виде двухполярного импульса псступает на записывающую головку 5 и через усилитель 13 фиксируется на магнитной ленте 4. По ®. иере перемещения псдвижного каркаса 1 участок магнитной:ленты 4 с записью сигнала о дефекте проходит в зоне воспроизводящих головок 6. Головки 6 размещены пспарно, образуя линии у задержки, а линейное расстояние между головками 6 в паре выбирается таким образом, что, с учетом линейной скорости магнитной ленты, обеспечивается за-. держка сигнала на время, равное полонине периода сигнала определенного вида дефекта. Каждая пара головок 6 настраивается на время задержки, характеризующее один из видов дефектов.

Нечетные в парах головки 6 являются. всходом линии задержки, а четные — выЯодом. С нхода линии задержки сигнал через усилитель 14 поступает на один из входов решающих блоков 17. На другие входы решающих .блоков сигнал поступает через инверторы 15 и усилители 14, включенные последовательно. Таким образом, на входы решающего блока 8 поступает прямо и задержанный инвертированный сигнал о дефекте преобразователя 2. Каждый из каналов решающего блока 8 реализует функцию сложения входных сигна лов и определения отношения суммы сигналон и амплитуды одного из нходных сигналов. В тоМ случае, когда se личина этого отношения окаэывается равной заданной величине, срабатывает командное устройство решающего блока 17 и фиксирует высокий выходной по-.енциал.

Наличие высокого потенциала на ввцходе одного иэ решающих блоков 17 свидетельствует о появлении в зоне контроля дефекта того вида, на который настроена соответствующая пара головок 6.

Таким образом, в автоматическом;. режиме производится определение нида: дефекта или, другими словами, идентификация .дефектов. Выходной сигнал решающего блока 17 считывается блоком,9 опроса и поступает на соответствующий упраВЛЯЮЩий вХОд блока 11 автоматики. Сигналы о таких дефектах как плены, скворечники и т.п, сильно искажены гармониками. В этом случае идентификация дефектов путем амплитудно-,фазового анализа невозможна.

В дефектоскопе для идентификации та" ких дефектов сигналы с выхода усили телей 14 (прямой и задержанный инвертированный) поступают на вход @os мирователей 16, которые преобразуют двухполярный входной импульс в прямоугольный импульс отрицательной полярности с длительностью, равной половине периода основной гармоники входного сигнала. Выходные сиг-. налы формирователей постуйают на вхо", ды логических блоков 18. Логическая ,функция блоков 18 такова, что в случае совпадения во времени входных сигналов срабатывает командное, устройство соответствующего логическогЬ блока и фиксирует на выходе высокий потенциал, что соответствует появлению в зоне контроля дефекта такого вида„, на который настроена соответствующая пара головок. 6. Выходной сигнал логического блока 18 считывается блоком 10 опроса и поступает на соответствующий управляющий вход бло ка 11 автоматики. Параллельный ввод сигналов, сформированных в тракте амплитудно-фазового аналиэа1и в трак« те фазового анализа, в значительной мере повышает точность идентификации

581424 дефектов эа счет установления факта одновременности присутствия сигналов на выходе блоков 9 и 10 опроса. Выходные сигналы блоков 9 и 10 опроса воэ" действуют на управляющие входы блока

11 автоматики, изменяя уровень амплитудной дискриминации и устанавливая последний соответственно тому виду дефекта, который зафиксирован преобразователем 2 и в зоне контроля.

На рабочий вход блока 11 автоматики поступает сигнал преобразователя 2 с выхода воспроизводящей головки 12, т е ° задержанный на все время автоматического ойредЕления вида дефекта.

Таким образом,. к тоМу моменту времени, когда участок магнитной ленты 4 с записью сигнала а дефекте появляется в рабочей зоне головки 12 (на выходе линии задержки), в блоке 11 автоматики установлен уровень ампли- з0 тудной дискриминации, соответствую À зафиксированному дефекту. В случае превышения 1амплитудой сигнала о ятефекте уровня амплитудной дискриминации срабатывает командное устрой- 25 ство (на чертеже не показано), уп«равляющее сортировкой, и выводит забракованное изделие из технологичес«ого потока. Таким образом обеспечива« ется избирательность отбраковки иэде- Зр пий в зависимости от вида дефекта.

В то же время на другом выходе блока 11 автоматикИ формируется кодированный сигнал, несущий информацию о

Виде дефекта, появившегося иа изделии 5

s технологическом потоке. Этот сигнал

Формируется и в том случае, когда по условиям стандартов и технических условий глубина дефекта еще не достигла браковочного уровня. Таким обравом.;осуществляется автоматическая идентификация дефектов Во видам или, другими словами, повышение достоверности контроля.

Формула изобретения

Магнитоэлектрический дефектоскоп, содержащий электромагнитный преобразователь, линии задержки, выполненные, например, в виде кольцевой магнитной ленты, по периметру которой расположена головка записи, соединенная с преобраэовате" лем, 2 и головок воспроизведения и

Решающий блок, соединенный с толов-.

Ками воспроизведения, о т л и ч а юШ и и с я тем, что, с целью повышения достоверности контроля, он снабжен блоками опроса, подключенньэя к выходу решающего блока, блоком автоматики, соединенным с выходами блоКа опроса, и подключенной к блоку автоматики дополнительной головкой воспроизведения, расположенной между последней головкой воспроизведения и головкой записи линий задержки.

Источники информации, принятые ро внимание при экспертизе:

1, Авторское свидетельство СССР

Р 216350, N. Кл. 9 01 .И 27/86, 1967.

2. Авторское свидетельство СССР

Р 222715 М. Кл . Су 0.1 й, 27/86ю

1966.

581424

Составитель A. Матвеев .Техред Э.Фанта Корректор Л.Небола

РадаКтор И. Рогова

Филиал ПИП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Закаэ 4567/Зб Тираж 1 1 О 1 Подпи си о е

ЦНИМЙИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам иэобретений и открытий

113035, Москва, K-35, Раушская наб., д. 4/5

Магнитоэлектрический дефектоскоп Магнитоэлектрический дефектоскоп Магнитоэлектрический дефектоскоп Магнитоэлектрический дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительным приборам и может быть использовано для контроля жидких сред, например молочных продуктов

Изобретение относится к аналитическому приборостроению и может быть использовано для определения концентрации паров ароматических углеводородов в атмосфере промышленных объектов и при экологическом контроле

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля анизотропии прочности твердых металлических и строительных материалов и изделий

Изобретение относится к области исследования физико-механических свойств металлов и может быть использовано при диагностировании фактического состояния конструкции летательного аппарата после определенной наработки в процессе профилактических осмотров самолета

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа материалов путем определения их физических свойств, в частности предела прочности

Изобретение относится к геофизике (гравиметрии, геомагнетизму), к общей физике и может быть использовано при определении взаимодействия материальных тел, при расчетах магнитной напряженности вращающихся тел, объектов, тяжелых деталей аппаратов, вращающихся с большой скоростью

Изобретение относится к способам анализа смесей газов с целью установления их количественного и качественного состава и может быть использовано в газовых сенсорах
Наверх