Способ измерения размера дефекта

 

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

0i! 584243

Союз Советских

Социалистических

Республик (á1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 16.01.75 (21) 2096701/25-28 с присоединением заявки М (23) Приоритет (43) Опубликовано 15.12.77. Бюллетень Хе 46 (45) Дага опубликования описания 12.12,77 (51) М. Кл. - С 01М 29/04

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 620,179.16 (088.8) (72) Авторы изобретения

Д. И. Навроцкий и P. С. Огрызков

Северо-западный заочный политехнический институт (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗМЕРА ДЕФЕКТА

Изобретение относится к области неразрушающего контроля. Способ может быть использован при измерении размеров ядра электрозаклепок и сварных точек с помощью ультразвуковых колебаний.

Известен способ контроля изделия, заключающийся в том, что по амплитуде прошедшего ультразвукового сигнала судят о наличии дефекта (1). Однако данный способ не дает возможности точно определить размер дефекта.

Известен способ измерения размера дефекта, например, ядра заклепки, заключающийся в том, что в контролируемое изделие вводят ультразвуковые колебания определенной частоты, принимают сигналы, прошедшие через бездефектную и дефектную области, и по отношению амплитуд этих сигналов судят о размере дефектов (2).

Недостатками известного способа являются низкая точность измерения и длительность процесса контроля, связанная со сложностью процесса настройки при измерении.

Цель изобретения — повышение точности контроля. Это достигается за счет того, что дополнительно измеряют прошедшие сигналы на другой частоте, выбирают отношение минимальной амплитуды сигнала в дефектной области к амплитуде сигнала в бездефектной области на этих частотах и по разности этих отношений судят о размере дефекта.

Согласно предлагаемому способу иска-.ель устанавливают непосредственно иа изделие и сначала измеряют амплитуду сигнала, проходящего вне зоны дефекта. Затем перемещают искатель в дефектную зону и определяют минимальную амплитуду проходящего через иес сигнала.

10 Вышеописанные операции проводят на двух частотах и для каждой частоты рассчитывается отношение амплитуд прошедших сигналов, по разнице этих отношений определяют размер дефекта.

При данном способе значительно иовьиииет— ся точность измерения, так как флуктуация амплитуды сигнала за счет изменения чистоты поверхности и анизотропии матер ала в различных точках не оказывает влияния, так

20 как оценка диаметра ядра производится по относительным величинам.

Использование предлагаемого способа позволяет значительно повысить качество контроля электрозаклепочной и точечной сварки, 25

Формула изобретения

Способ измерения размера дефекта, например, ядра заклепки, заключающийся в том, 30 что в контролируемое изделие вводят ультра584243

Составитель Г. Федоров

Техред И, Михайлова

Корректоры: Л. Денискина и Л. Орлова

Редактор Т, Юрчикова

Заказ 2624/4 Изд. № 979 Тираж 1109

НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Типография, пр. Сапунова, 2 звуковые колебания определенной частоты, принимают сигналы, прошедшие через бездефектную и дефектную области, и по отношению амплитуд этих сигналов судят о размере дефектов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, дополнительно измеряют прошедшие сигналы на другой частоте, выбирают отношение минимальной амплитуды сигнала в дефектной области к амплитуде сигнала в бездефектной области на этих частотах и по разности этих отношений судят о размере дефекта.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Шрейбер Д. С. Ультразвуковая дефектоскопия, М., изд. «Металлургия», 1965, с.

79 — 84.

2. Гуревич А. К., Ермолов И. Н. Ультразвуковой контроль сварных швов, изд. «Техника», 10 1972, с. 360 — 362.