Прибор для измерения прозрачности среды, в частности толщины облаков

 

М 612 1

Класс 42h, 17<>(CCCP

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Х. М. Ш.зейфман

ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОЗРАЧНОСТИ СРЕДЫ, В

ЧАС1НОСТИ ТОЛЩИНЫ ОБЛАКОВ

Н >3;»>»<>3!» )!>><> <3,>)> -3)(>3<

0(>? <>а«к!>i;>i!;> 3П «>3>t.i>i 18 3" г.

О иисы в я t .м ы и I! (? Iiоор 13!я IЗ )

Г Г)3 Т01П!ИНЬ! 00.1:1 КОН. СОСТОИТ 133 фОТОЭЛ>С)!ЕПТЯ II МСИ,III Гt.,1ÜHOI3 Э,l(. !(-! POH 8(>3I, 3! I:! (. . ОСО()< IIIIOC I I> . 1;1 КГ! IO3 H I t?Xi, i )O ))Е)К,(> )HO,!O .

С< тКОИ Э.)< Ктj)0if!IOII ЛЯМПЫ ВКЛ)0 ILI! Ип )ИК (3) ММ(I?) < т(>ll Ht.,Ii>IO, ЧтOObi

< l H 1(1)Т:i il В ТO ?К(. 8(7(>3 и Г(. И (. Р H (?OH <1,1 Я ТОК, . (. ?11>) li

С i ! I H II Hi!3 3(8 31(713 OC,1 <) t)Г)(Il Jl li О<. HL>п! Hi!OCT!i ф01 ОЭ, )Е?)Е))ТЯ.

1 1 Я < I (P T (. )к е и 3 0() Р Я f(<>11 а:->Гl е кт () и ч (. с к <) Я c . (P )l Л, .<)Е)К1> CP) l(OÉ II 8 8010. >1 Оторой Вкл очеп HIIHlllh (зл)?)е(? (3, им()ОН!ий якорь Sl н 3)е))ол)13)жнь)))

КОН)ЯКТ К.

Б Я т Я (? е Я c >I P I i) c u I I Я Ь C со(. ;)и и е и Я (. ф От 0 3, i (. . i c! I To? >I P (? <) 3 co li (? От и В, i C f l H (Р; М ()3(3)>;1 11(? Л О Э 1 (h T P O I I H O I I, ) IIООP 1)м(cт licтÎчl! Iiкii !) I!О;)IIОГО II llтli llliя и в . IОМ(. нт

H!(Л)ОЧЕ)13)я И. КО)!1 ВКТ I(Г1!!П!ИК<3 (3>, (3?)ер, 11 .) 8МКИМТО)! (0 С 1 О >3 И 1 1! . > Г) < К Т P О!! 3! <3 и .1 Я М 1 Я ° H 8 Ч 3 3 а (. Т () Я О 0 Т Я 1 Ь К и К ГС I i C P <1 TO (>, <) НОЛ))Ы)! TOK 803P8CT3, ЛОС 33 H, I H П Р!38С1PH JI >I в .!ей с в!3(llilllill(<1, и (? и этО. Я ко)? ь 53 ll() llтЯ Ги в;! (т<. Я h (ГО ПОГИ(>С<) . i I в, В 3 "ICI I 8 <. ТОГО 8()е?1<. Hi! > KOГ. 1 (7<330!! H (ll, I 8ÒP;IÜ ф010токов, тяк кяк КОГ)еб<)тез)ь)11)й ко )тур отклкочеH 01 сетки лампы и HL п)уитирует сопротивление !, Явля)оп)ееся 3)ягрузкой в цепи фот03,)е. :(! I! < Г >! (», <) кОГ;i <) c;IPT (>cHL 1ö(. HH()сть фотоэлем HTH В 1<)(! ОГ!) < L, Iih Ã(!) <(t? f0»1(мсн.< (свещс)3 мяло или совсем не осве)не, в; 1>ii1:<> а силы

Я ПО. )НОГО ТОКЯ Л ) МПЫ !!(. ВСЛИ К i, Т!) К К ЯК ОЯТЯ(? ЕЯ <)(3 i;J<)PТ ПОСТОЯH)10<> отрицате;IHHop с>меLIJPHHP ня сетку лампы, сдв)3)ая тем самы(м p()t)o(I>,.)o )! 61222 точку на карактернстикс лампы влево. Вследс)1)ис нсзначите,lbHocòi

ВЕЛИ«1 ИНЫ аНОДНОГО О! а ПИ!ЦНК IIC . ЬНОЖЕ1 > ДЕР?1 d7 Ь ЯКОРЬ В Н(?ИТЯIJ О. положении, вследствие чего сн возврашается в искодное положение и и)сстананливает связ1 сетки с колебательным контуром (,cTo !нос сÎIJ j) ÎTIIBлсн нс Il i) H 31 Ом 3<1. >1ы к I(IIÒil II, I II I i pl!

НÒ l(ll)Н Ьl Н TOI I B, 11>ll bi! i СН Гll <1.7 (и

Н РИ P .1 301 (KO! 31 0!I j) 3007 аЕТ !(, I Ь Cj)Oтотоков) <)нодны!1 ток л. мны 3llil III i cëc ll, Tiilc как фототок, нротекаюllJ H H Ч ЕРС3 I H t j? < 30Ч Но(0011() 0TH B, l(. 13 H C / KO)I I I (I I(. IJ j? < Е T OT j) H H HTC> I bH 0(> смешение ()атарси БС ВслелсTI)il(? гого, пока фотозлсмсH I ooHcHH(ll, ;1»ОРь,)) IIHIilHKH 3 ocTii(lett B II()II f 5!II(! u. I f)oiio)Kc нин,:1 контакт К tlH! (и К

llil ./ раб(тас! в»:)чесгв(ус!!Лн !(15! (ро!огок(?(3.

11 Р o;i . (I (. 7 It 3 (? 0 P (I с н H 51

I lPH00j);t 35I tt3)I с.(?ñI i H 5! l1P03 P<1 it H 00TH c j?c . thl, В ас1 ности толи(ни ь!

ООЛ IKOB, С П (?И!>!Сl!(. НИСМ Cj)OTOH 7(.",

1Нс>м пнн(н! ;1 (3)<ммср<1), I:I, 11оч(нн(?! !(1е?к, (М <)иодом и OOTKoJI алектро. 1НОЙ .7 а !НН bl, t 7 5! ТОГО, I 1 ООЫ O Ч I I i определен и?м освсiiio! IH!I фотозлсм(.нта II геfl(. j) llpoi!;Iла ток, мод лир1 ем ы Й с час! 01 011 Г! и н(и K и, и j) н ()(, I

Р«>(акт<о!) Р; Б. Кауфман « f>«3 I . Л Курилко

Ф,>;);>(ит б) >I. i Il .>, J t!(!«Ппй и о)крь>(!ill при (. яе)(. > (пни I f)ои (;((.Р

it<5«киа, j(итр, 3(, !ерк<)О(киЙ и(. р;(. 2, G.

Киржач«»ПИ типОГрафи5! r)T 1««Iа из (

Влали5!5!рского облаетного Упранлеиия культуры.

Ко(>И<к )(>j! В. Те.!ьиыъ

Об ь(м (1,18 изл л

1(е!а б к5»

Полп. к печ. 3()/ (-6Н 1

Заказ 2()4?

Прибор для измерения прозрачности среды, в частности толщины облаков Прибор для измерения прозрачности среды, в частности толщины облаков 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для регистрации и измерения потока ИК-излучения

Изобретение относится к технике измерения оптических характеристик атмосферы с целью определения метеорологической дальности видимости при метеообеспечении взлета и посадки воздушных судов, а именно к технике контроля линейности световых характеристик фотоэлектрических преобразователей светового коэффициента пропускания

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к области фотометрии и может быть использовано для измерения световых характеристик фотоприемников

Изобретение относится к области измерения оптического излучения в ультрафиолетовой области спектра

Изобретение относится к оптоэлектронике, в частности к способу и устройству для измерения интенсивности ультрафиолетового излучения

Изобретение относится к устройству для измерения интенсивности излучения электромагнитной радиации, исходящей из лампового устройства, содержащего, по меньшей мере, одну УФ-лампу, предпочтительно относящуюся в типу ламп, размещенных в контейнере, предназначенном для дезинфицирующей или фотохимической обработки проточной воды

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к области физики и электричества

Изобретение относится к области контроля облучения ультрафиолетовым излучением
Наверх