Объектив спектрографа

 

Эй 61495

СССР

Класс 42Ь, 20„

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зарегистрировано в Бюро изобретений Госплана при СНК СССР

К. А. Кириллов

ОБЪЕКТИВ СПЕКТРОГРАФА

Заявлено 18 октября 1940 г. в НКВ за ЛЬ 1078 и 1336

Опубликовано 30 июня 1942 г.

Из теории оптических инструментов известно, что исправления кривизны поля можно достигнуть двумя путями: выбором материалов, из которых изготовляется объектив, и конструкцией объектива.

Кривизна зависит от вторичного спектра, который обусловливается дисперсией входящих в систему материалов. Выбором конструкции объектива можно получить реально наименьшую кривизну, которая not лучается от применения того или иного материала.

Применение фтористого лития может дать наименьшую кривизну благодаря тому, что он из всех известных материалов обладает наименьшей дисперсией для ультрафиолетовой области спектра.

Наклон плоскости спектра к оптической оси камеры зависит (при одной и той же системе призм) исключительно от дисперсии объектива камеры.

Таким образом ооъектив, изготовленный из фтористого лития, может дать плоскость спектра с меньшим наклоном к оптической оси, чем объектив, изготовленный нз других материалов.

Предметом настоящего изобретения является объектив спектрографа для ультрафиолетовой области, состоящий из положительного и отрицательного менисков из фтористого лития. В таком объективе поддается исправлению кривизна поля при относительном отверстии

1: 20 для спек тра от 2100 до

7000 А.

Вместо наклона плоскости спектра к оптической оси камеры спектрографа в 60 при кварцевом объективе наклон плоскости спектра при объективе, выполненном из предложенного материала и комбинации линз, может быть достигнут 70, что приближает систему спектрографа к ахроматической.

В случае использования объектива в автоколлимационном спектро

Объектив спектрографа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области физической органической химии, к разделу спектрофотометрии растворов, находящихся при повышенном давлении, и используется для научных исследований

Изобретение относится к измерительному устройству (14), содержащему датчик (16) для определения, по меньшей мере, одного компонента и/или, по меньшей мере, одного из свойств материала (4), причем датчик (16) содержит, по меньшей мере, один источник (18) освещения, который направляет, по меньшей мере, один световой луч (20) на подлежащий исследованию материал (4), а измерительное устройство (14) содержит, по меньшей мере, один эталонный объект (34, 32, 33) для калибровки измерительного устройства (14), при этом часть светового луча (20) источника (18) освещения отклоняется на эталонный объект (34, 32, 33) так, что устраняется необходимость в попеременном переходе с исследуемого материала на эталонный объект

Изобретение относится к специальным объективам и может использоваться в ночных зрительных трубках

Изобретение относится к специальным объективам и может использоваться в качестве насадки в ночных зрительных трубах

Объектив // 2112255
Наверх