Способ определения диэлектрического коэффициента и проводимости материалов при сверхвысоких частотах
Авторы патента:
Похожие патенты:
Устройство для измерения емкости // 45680
Устройство для измерения емкости // 43085
Способ измерения rlc-параметров // 2100813
Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, индуктивных или резистивных датчиков
Способ измерения параметров rlc-цепей // 2100814
Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, резистивных или индуктивных датчиков
Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия
Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности
Изобретение относится к измерительной технике, в частности, может быть использовано для измерения диэлектрических характеристик веществ с помощью емкостного или индуктивного датчика
Изобретение относится к электронному приборостроению и может быть использовано для контроля и измерения диэлектрических параметров различных сред
Изобретение относится к измерению электрических величин, в частности емкости
Изобретение относится к способам и устройству для передачи электромагнитных сигналов в землю через конденсатор
Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано при измерении тангенса угла диэлектрических потерь твердых изоляционных материалов, жидких диэлектриков, например, трансформаторного масла
