Станок для резки керамических изделий

 

Союз Советскнх

Соцналнстнмескнх

Республнк

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (») 6139OS

i graf с,.

3 т

4 > 4r zs (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено08.12.74 (21) 2082306/29-33 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опублнковано05.07.78.(бюллетень № 25 (45) Дата опубликования описания.29,05.78 (51) М. Кл.

Б 28 Х) 1/04

Гасударственный комитет

Соната Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) У Л К 679.8.05 ;..3:621.93 (088.8) (72) Авторы изобретения

ll. Б. Салитра, М. Я. Рабинович, А, А. Лукашов и Л, А, Гельперин (71) Заявитель (54) СТАНОК ДЛЯ РЕЗКИ КЕРАМИЧЕСКИХ

ИЗДЕЛИЙ

Изобретение относится к радиотелестроению и предназначено для резки групповых пакетов малогабаритных многослойных керамических конденсаторов на отдельные конденсаторы, а также для резки других подобных керамических структур, Известен станок, включающий станину, рабочий стол с приводом и зажнмное приспособление (11 .

Наиболее близким техническим решением к изобретению является станок для резки иэделий из керамических материалов, включающий станину, рабочий стол с приводом, шпиндель с алмазным кругом и электроприводом и систему водяного охлаждения алмазного круга (2).

Недостатки л данных станков является то, Что при малых краевых зазорах (О, 1-0, 15 мм) разреэка пакетов на данных станках по расчетным координатам приводит к "зареза- нию" конденсаторов из-за незначительных, но неизбежных смещений расположения электродов при прессовании пакета, даже если прессование производят в закрытом гнезде.

11елыо изобретения является повышение

:точности резки.

Для достижения поставленной пели станок для резки керамических изделий, преимущест5 венно групповых пакетов керамических конденсаторов на отдельные элементы, включающий станину, рабочий стол с приводом, шпиндель с алмазным кругом и электроприводом и систему водяного охлаждения алмазного

10 круга, снабжен двумя системами кареток, каждая из которых выполнена из двух взаимно перпендикулярных:кареток, причем одна система снабжена экранным микроскопом с,откидным зеркалом и установлена на ста15 нине станка, а другая снабжена сменными фотошкалами и установлена на рабочем сто ле станка, На фиг. 1 и 2 изображена конструктивная схема станка; на фиг, 3 - баэировка

29 группового пакета на индивидуальном столике; на фиг. 4 и 5 — схемы оптической установки места разрезки (А, Б, В, Г, Д, .Е, Ж, И), На направляющих станины 1 смонтиро25 вана каретка 2 поперечной подачи стола 3, 5.

2S

ЗО

Йесуяая на себе направляющие 4 его продольной подачи (рабочего хода).

Привод поперечной подачи стола осущес Рвляется вручную с помощью маховика 5.

Привод рабочего хода осуществляется как вручную маховиком 6, так и с помощью злектропривода 7 с широким диапазоном скоростей, Йад столом расположена шпиндельная головка с алмазным кругом 8. Стойка шпиндельной головки закреплена на станине по» зади стола и имеет каретку, позволпошую регулировать высоту расположения алмазного круга над поверхностью стола. На столе

3 крепится станочное приспособление 9 для закрепления обрабатываемого изделия.

Ввиду того, что процесс резки требует интенсивного водяного охлаждения, способ= ного также удалять отходы обработки из прорези, зона перемещения приспособления

9 и алмазный круг 8 находятся в брызгозащитном кожухе 10, имеющем на лицевой стороне плотно прилегаюшую дверцу для введения и удаления обрабатываемых изделий, а на боковой стенке закрываемое заслонкой окно 11 для пропускания света ог проеЕхора, Вода подается через двойной рожок 12, охвачываюший алмазный круг. Экранный микроскоп 13, работающий в отраженном свете от собственного источника .(например, типа ПН-80), установлеп на каретке 14, которая, в свою очередь, закреплена íà передвижной консоли 15. Эта консоль смонтирована на.стойке, жестко установленной на станине, С помощью каретки

14 и передвижной консоли 15 микроскоп

13 можно перемешать вертикально и в поперечном направлении. Направления стрелки а возможного перемещения микроскопа

13 показаны на фнг. 2.

Непосредственно под объектом микроско= па 13, на нижней стороне каретки 14 закреплена коробка 16, в которой смонтировано откид,ное зеркало 17. В своем рабочем"

Р, оложеиии зеркало расположено под углом

45 к оптической оси микроскопа и, отклоняя световой лучок, направляет его на торец изделия, закрепленного на стоночном приспособлении 9. Крайнее левое положение стола 3, при котором изображение ropua изделия фокусируется на экране микр. копа, фиксируется упором 18. При повороте зеркала 17 во "вспомогательное" положение (показано на фиг. 1 пунктиром) световой пучок от микроскопа направляется вдоль оптической оси на находящуюся ниже проекторафотошкалу 19. Таким образом, установкой зеркала 17 в "рабочее или "вспомогательное положение можно на экране микроскопа попеременно получить изображе ние либо торца изделия, либо индексов шкетпа. Фотошкала 19 (набор фотошкал) являеъся существенным элементом системы, обеспечиваюшдй быструю точную и безошибочную установку изделия в нужное для резки йоложение без необходимости производить подсчеты, неизбежные при использовании универсальной (миллиметровой) шкалой иль прецизионным ходовым винтом с лимбом.

Набор фотошкал представляет собой стеклянную пластинку, на которую нанесены несколько вертикально расположенных, параллельных между собсао шкал в виде пронумерованных индексов, расстояние между которыми соответствует шагу между резами. Пластинка с набором фотошкал 19 крепится на поворотном диске 20, который смонтирован на системе координатных кареток 21 и 22, соответственно ориентированных в направлении продольной и поперечной подачи стола. В свою очередь, координатные каретки смонтированы на консоли 23, жестко закрепленной на каретке поперечной подачи стола, благодаря чему при поперечной подаче стола вместе с ним перемещается и набор фотошкал. При продольной подаче стола (рабочем ходе) набор фотошкал остается на месте.

С помощью предложенной системы кареI ток и поворотного круга любой участок любой из шкал набора может быть установлен в оптическом поле экранного микрсскопа и воспроизведен на экране, При этом, поперечное перемещение стола 3 вызовет движение ин.дексов на экране вдоль шкалы, воспроизведя последовательно один за другим все индексы.

Изготовление точных фотошкал и негативов фотолитографических трафаретов для нанесения электродов производят путем экпонирования на стеклянные, пластинки увеличенных фотооригиналов одной установки репродукционного аппарата, Фотооригиналы трафаретов и шкал выполняют в одинаковом (увеличенном масштабе) на координатографе (как зто делается для топологических рисунков электронных микросхем), Такая методика изготовления обеспечивает высокую точность совмещения трафаретов и шкал, Подлежащий обработке пакет 24 с выходящими на торцы следами скрытого рисукка закрепляют с помощью воска, парафина или чегкоплавкой мастики на керамической или иной подложке 25, которая крепится на квадратный металлический столик

26, две смежные стороны "а" и в которого являются базовыми. Закрепление пакета и прокладки на столике производят на установочном приспособлении по. угольнику

27 так, чтобы края пакета 24 точно сов613908!

35

60 декса шкалы с местом реза, производят операцию прорезки и визуально проверяют на картинке на экране правильность места ега проведения, 11алее изделие с помощью поперечной подачи стола перемещают да совмещения индекса 4 2 шкалы с перекрестием на экране, проверяют соответствие полученного места реза по картинке торца изделия на экране, производят следующую прорезку и падали с базовыми сторонами столика. Несколько таких столиков 26, содержащих па-; кеты 24 на подложке 25, устанавливают на станочное приспособление 9, прижимая одной из базовых сторон к борту приспособления. йри этом направление борта должно строга совпадать с направлением рабочего хода стола станка. Перемещая стол станка в направлении рабочего хода, находят такое его положение, при котором на экране микроскопа получается четкое изображение торца пакета (белая широкая полоса керамики и темные полосы "следы электродов) и фиксируют это положение стола стопорным винтом. Поперечной подачей стола станка изображение торца изделия на экране микроскопа устанавливают в такое положение, при котором перекрестие в центре экрана оказалось бы точно на середине зазора между следами электродов, Если положение алмазного кру- 20 га 8 на стенке будет точно согласовано с положением микроскопа, то проведенный после такой установки реза окажется точно на нужном месте, что можно проконтролировать на экране микроскопа, Таким образом, перемещая разрезаемый пакет поперечной подачей стола станка, можно установить на экране место следующего реза и т.д.

Применение фотошкал производят следующим образом: после установки пакета в полажение, когда перекрестие на экране находится точно в точке реза, на изображении торцового рисунка, зеркало 17 поворачивают ва "вспомогательное" положение, благодаря чему на экране возникает изображение требуемой шкалы, после чего с помощью каретки 22 совмещают индекс N 1 этой шкалы с перекресгием на экране.

Теперь положение шкалы согласно с положением изделия, в чем можно убедиться, откидывая зеркало 17 в "рабочее положение" и возвращая его во "вспомогательное

При этом поочередно будет возникать та изображение рисунка на торце изделия с перекрестием экрана на месте реза, то индекс шкалы, совмещенный с перекрестием.

Убедившись в точном совмещении 1-го инт.д„до полной прорезки полос в заданном

Направлении. После выполнения прорезак пакегав в одном направлении столики с этими пакетами разворачивают на 90, прижимая к бор0 ту станочного приспособления второй базовой атороИой. Зачем кареткой 21 перемещают набор шкал с тем, чтобы перенести на экран требуемую шкалу, например, шкапу % 3, и в том же порядке производит прорезку в поперечном направлении. Отдельные фазы поперечной прорезки показаны на фиг, 5 (Ll, E, ж, И).

Согласование положения экранного микроскопа с положением алмазного круга производят следующим путем.

На стеночное приспособление закрепляеься, прижимаясь своей базовой стороной к борту приспособления, шлифованная керамическая пластинка, у которой торец, обращенный к микроскопу, выполнен равным и перпендикулярным к базовой стороне. Указанный торец проектируют на экране, после чего производят неглубокую прорезку пластинки. Наблюдая профиль прорезки на экране микроскопа, последний с помощью каретки поперечной подачи приводят в полажение совмещения перекрестия на экране точно с серединой ширины изображения профиля прсрезки, В случае рассогласования положения микроскопа относительно круга такое рассогласование будет обнаружено после первой же прорезки, так как в этом случае середина профиля канавки на экране микроскопа не совпадает с перекрестием последнего, Формула изобретения

Станок для резки керамических изделий, преимущественно групповых пакетов керамических конденсаторов, на отдельные элементы, включающий станину, рабочий стол с приводом, шпиндель с алмазным кругом и электроприводом и систему водяного охлаждения алмазного круга, а т л и ч а юшийся тем, что, с цельюповышения точности резки, станок дополнительно снабжен двумя системамм кареток, каждая из которых выполнена из двух взаимно перпендикулярных кареток, причем одна система снабжена экранным микроскопом с откидным зеркалом и установлена на станине станка, а другая снабжена сменными фотошкалами и установлена на рабочем столе станка, Источники информации, принятые во внимание при экспергизе:

1. Авторское свидетельство СССР

Н 315762, кл. В 28 < 1/04, 1969.

2, Авторское свидетельство СССР

М 311757, кл. B 28 cL 1/04, 1969.

613908

Фиг. 5

Составитель К, Хамидулов

Редактор И. Квачадзе Техред И. Климко . Корректор С. Шекмар

Заказ 3590/12 Тираж 683 Подписное

ИНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„д, 4/S

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Станок для резки керамических изделий Станок для резки керамических изделий Станок для резки керамических изделий Станок для резки керамических изделий Станок для резки керамических изделий Станок для резки керамических изделий Станок для резки керамических изделий Станок для резки керамических изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при резке полупроводниковых слитков на пластины

Изобретение относится к режущему инструменту, а именно к алмазным дисковым сегментным пилам для распиловки и окантовки природного камня

Изобретение относится к кругам, предназначенным для сухой резки твердых и хрупких неметаллических материалов
Наверх