Способ отбора фотоэлектронных умножителей для регистрации слабых световых потоков в одноэлектронном режиме

 

: . с1<ая

< " 2 1 5Д

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДВТВЛЬСТЕУ

Союз Сееетеккв

Социалистических расаублик (») 816534 (6l) Дополнительное к авт. свиа-ву

{22) Заявлено 23.04.76(2)) 2351211/18-25 с присоединением заявки Рй (23) Приоритет. (43) Опубликовано 26.07.78.Бюллетень М 27.Я (51) М. Кл.

Ц 01З ii1O

Гесуйврствевай каещт

CNate Манюареа ИР

N AiN}N N305pe79Ne е еткрюткй (53) УДК 621.385..В З1(088,8) (46) Дата опубликования описаиия23.06.78

Д, Н. Говорун, И, И,:Кондяленко и П, А, Коротков (72) Авторы изобретения (7! ) Заявитель

Киевский ордена Ленина государствзнный уннверситет ям. Т. Г. Шевченко (54) СПОСОБ ОТБОРА ФОТОЭЛЕКТРОННЫХ УМНОЖИТЕЛЕЙ

ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ СЛАБЫХ СВЕТОВЫХ ПОТОКОВ

В ОДЯОЭЛЕКТРОННОМ РЕЖИМЕ (9 1. к,tu) Изобретение относится к фотометрии я .может быть использовано в, спектроскопии, астрономии, ядерной физике и т. д.

Известен способ отбора фотоэлектронных умножителей (ФЭУ) для регястрапии слабых световых потоков по их одноэлектронным характеристикам fl). йля етого способа характерно отсутствяе количественных критериев для определения качества ФЭУ, Известен также способ отбора ФЭУ для регнстрапнн слабых световых пото ков в одноэлектронном режиме, включаюшяй предварительную тренировку ФЭУ под мвирвженквм в твыноте (2).

Относитепьно низкая надежность этого способа вы4вана там, что в способе не учитываются такые характеристики

ФЭУ, как спектральная чувствительность фотокатода, форма однозлек кровного распределенкя фото- я темповых импульссе на, нагрузке..

0елью изобретения являетси повыше нне тнадежностн способа отбора ФЭУ, Достягаетсн это тем, что пдсле тренировки ФЭУ измеряют одноэлоктронное распределение темновых импульсов по амплитуде, подсвечивают фотокатод моно хроматическим световым излучением, лзмеряют одноэлектронное распределение фотоимпульсов по амплитуде, подсчитывают числовой критерий где grrr — амплитуда одноэлектронного

14 импульса напряжения ФЭУ;

tf+P одноэлектронное распределение фотоямпульсов по амплитуде при подсветке фотокатода монохромм"нческнм световым язлу щ . чэннелс ц ф3 )- одноэлектронное . распределенне темновых импульсов по ампли т)чу я по его величине судят о качестве ФЭУ зз ФЭУ ср считают адеапьным.

3 61653

Существенное отличие предложенного способа от известного состоит в наличии последовательных операций измерения одноэлектронного распределения темповых импульсов по амплитуде, подсветка. фото" катода монохроматическим световым излучением измерение одноэлектронного распределения фотоимцупьсов по амплитуде при подсветке фотокатода монохроматическим световым излучением; подсчет числового значения выражении Р являю-. шегося количественным критерием качес - тва ФЭУ, работаюшего в одноэпектронном режиме, после операции тренировки ФЭУ

i темноте под напряжением.. Использование в качестве количественного критерия пригодности одноэлектронного ФЭУ

Ann регистрации слабых cseTosbfx IIOToков выражения fl позвоияет учесть основ» ные характеристики ФЭУ, опредепяюшие его качество,а именно: спектральную чувст» витальность фотокатода,форму одяоэлектронногэ распределения фото- и темповых импульсов, интегральную интенсивность тем новых одноэлектронных импульсов ФЭУ.

На чертеже дана блок-схема устройства для осуществления способа.

Устройство содержит источник 1 монохроматического светового излучения, ослабитель 2 светового излучения, светодепитепь 3, йсследуемый ФЭУ 4, высоковольтный блок 5 питания ФЭУ, ка30 либрованный радиометр 6, усилитель импуцьсое 7, многоканальный анализатор

&мппитуды и мпульсов 8е ЖЗМ 9 и циф ровой индикатор 10, Способ отбора ФЭУ дпя регистрации сиабых световых потоков s одноэпектрон. нофа режиме реализуют следующим образом.

Оспабитель 2 светового излучения находится в полщкении л.00% ослабления.

При этОМ монохроматнчюское cseTQsoe из пучение от источника 1 полностью пскиошаетси осиабитепем 2 и не. проникает на светодепитель 3 и на фотокатод исспедуемого ФЭУ 4, который питают от высоковольтного биока 5, и ид капибро вочный радиометр 6 Ч аким образом, на выходе ФЭУ.4 присутствуют иащь темно выв ояноепектрзнные импупьсы, . статистически распредепвяжае во вреьюни и по, амппиТудее Проводят тренировку ФЭУ под нащмюивнием на протяжении 100-150 час дия стабиииэации переходных процессов

" и выевечиваний стекла койбы. Ч ренировку кеиатаийно проводить nps нескфиько по- . вышенной температуре по сравнению с той, при которой иредноиагавтса функционирование ФЭУ. Темяовые одиоэиектроиные импупьсы усиливают по амппитуде уоипи4 ф телем импульсов 7 и подают на вход мн гоканального анализатора 8 амплитуды импульсов. На выходе его получают дифференциальное одноэлектронное распределение темповых импульсов по амплитуде.

Числовые данные подают на ЭВМ 9 и записывают в ее память. Между ЭВМ О и многоканальным анализатором 8 амплитуды импульсов введена цепь обретной связи с тем, чтобы получать на выходе многоканального, анализатора амппичуды имцульсов дифференциальное, однозпектронное распределение темповых импупьсов по амплитуде с наперед заданной точностью (в особенности в каналах с большим порядковым цомером). Оспабитепь 2 светового излучения переводят в положение пропускания. При этом монохроматическое световое иэпучение от источника 1 проходит через оспабитень 2 светового иэлу чения и лепится на две равные части сне= тоделителем Э. Одну половину светового потока измеряют калиброванным радиометром 6, другую пода;ют на фотокатод исследуемого ФЭУ 4, На выходе ФЭУ, наряду с темновыми, присутствуют и фотоим- пупьсы, одноэлектронное распределение по амплитуде которых отпичаетси от однОэлектроннОго распределения темновых импульсов. Как темновые, так и фотоимФ 1 пупьсы усипивают пО амплич де усили»" телем импульсов «7 и подают на вход многоканального анализатора 8 ампл„итуды. На выходе этого анапизатора получают дифференциапьное Одноалектронное распределение смеси темновых,и фотоимпульсов по амппитуде. Чисиовые данные подают в ЭНМ и,: эенйсывают в ее память.. Мелцф ЭВМ 9 и многоканальным анализатором ампяизуды импульсов введена Обратная связь с тем, чтобы получать на выходе многоканального анализатора амппитуды импульсов дифференциапъное одноэпектрояное распределение смеси темновых и фотоимпульсов по ам ппитуде с наперед заданной точностью (в особенности в, кацапах с большим и малым юряакаым номером). Дальнейшие операции производит ЭВМ 9: вычитает ий дифференциапьцого одноэлектронного рао-. ,предеиения смеси темповых и фотоимпульсов по амппитуде дифференциальное одноsneETpasaoe .распределение темповых им« пупьсов, получая тем самым дифференциаиьное одноэпектронное распределение фснтоимпупьсов по амплитуде при подсветке фотокатода ФЭУ монохроматическим световым излучениещ затем возводит в квадpaT полученное одноэлектронное распределение фотоимпульоов по амплитуде при гае Ц - амплитуда одноэпектронного импульса ФЭУ; п®(И )- оаноэпектронное распределение фотоимпупьсов но амппитуде при подсветке фотокатода моиохроматическим световым иэпучением; (Цщ)- оаноэпектронное раснредепение

-(М темповых импупьсов по амппитудеф и по его величине судят о качестве ФЭУ, Источники информации, I принятые во внимание при экспертизе:

1. Анисимова И. И., Гпухоаской Б. М.

Фотоэпектрониые умножитепи, Советское радио, М., 1874, с. 41-44.

2, Ломоносов И. И. Кандидатская дис сертапия Минск, ЬГУ, 1866.

5 6165З подсветке фотокатода ФЭУ монохроматическим световым излучением, делит полученную зависимость на дифференциальное одноэлектронн ж распределение смеси темповых и фотоимпупьсов и полученную функцию численно интегрирует в предепах номеров канапов многокаяапьного ана5 пизатора 8 амппитуды импупьсов. Число-. вое значение интегр&па индицируется циф новым индикатором 10. Исспедуемые ФЭУ ранжируют по качеству в соответствии с

1О показаниями цифрового индикатора 10, В случае необходимости осуществляют прогнозирование максимально возможной для данного ФЭУ точности измерений светового потока, мощность которого равна

l5 мощности подсветки фотокатода монохроматическим световым изпучвнием, измеряемой капиброванным радкометром, подсчитывая чисповое значение выражения

P É, где 4 - предпопагаемая величина

Мг тон ннЬЙ времени оконечное линейного фипыра системы оптимапьной обпаботки одноэпектронного сигнале ФЭУ, пимитируемая обычно временным,. интервалем набпюдения.

Использование нредпожэнного способа отбора ФЭУ для регистрации спабых световых потоков в одноэпектронном режиме обеспечивает высокую надежность и экспрессность, а. также четкий физический смысп критерия качества ФЭУ, работающего в одноэпектронном режиме.

„Формула ив обретения

Способ отбора фотоэпектронных умножителей дпя регистрации спабых световых

6 потоков в одноелектронном режиме, включающий предварительную тренировку ФЭУ под напряжением в темноте, о т и и ч ею ш и и с я тем, что, с целью повышения надежности, после тренировки ФЭУ измеряют одноэпектронное распредепение темповых имлупьсов по амплитуде, подсвечивают фотокатоа монохроматическим световым излучением, кзмвряют одноэлектронное распределение фотоимпульсов по амппитуде, подс итывают числовой критерий

Составитепь В. Бепоконь

Редактор Е. Гончар . Техред: Э. Чужкк Корректор М» Йвмчик

Заказ 4056/4Î тираж 87 2 Подписное

ЫНИИПИ Государственного комитета Совета. Министров CCCP по аелам изобретений и открытий

113035, Москва, ЖЗб, Раушская наб, д,. 4/5

Фипиал ППП Патент, r. Ужгород, ул» Цроекжая, 4

Способ отбора фотоэлектронных умножителей для регистрации слабых световых потоков в одноэлектронном режиме Способ отбора фотоэлектронных умножителей для регистрации слабых световых потоков в одноэлектронном режиме Способ отбора фотоэлектронных умножителей для регистрации слабых световых потоков в одноэлектронном режиме 

 

Похожие патенты:

Фотометр // 573723

Изобретение относится к измерительной технике в части создания эталонных устройств для передачи размера единицы средней мощности оптического излучения, поверки и калибровки средств измерений средней мощности оптического излучения, оптических аттенюаторов и источников оптического излучения в волонно-оптических системах передачи (ВОСП) и может быть использовано в ранге рабочего эталона средней мощности в ВОСП в рамках "Государственной поверочной схемы для средств измерений средней мощности оптического излучения в ВОСП" - МИ 2558-99

Изобретение относится к области измерений характеристик светорассеяния объектов

Изобретение относится к области измерений характеристик светорассеяния оптико-электронных приборов (ОЭП) и может быть использовано в технике экспериментального измерения индикатрисы отражения, пеленгационной характеристики и эффективной площади рассеяния ОЭП в лабораторных условиях

Изобретение относится к области измерения оптических характеристик объектов, более конкретно к области измерений яркостных характеристик объектов в лабораторных и натурных условиях

Изобретение относится к области космических технологий, в частности к способам полетной калибровки спутниковых сенсоров оптического диапазона в абсолютных энергетических единицах, и может быть использовано для калибровки спутниковых сенсоров высокого пространственного разрешения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в фотометрии в качестве средства измерений световой экспозиции, создаваемой источниками оптического излучения
Наверх