Способ получения изолиний рельефа на фотоснимке

 

ОПИС "ЙЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалнстинвеких

Республик

"(tl) g J Q79g

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6I) Дополнительное к авт: свиа-ву (22) Заявлено 061 76 (2l) 242б489/18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликоваио1 0878. Бюллетень № 30 (45) Дата опубликования описания 0607.78 (5l) М. Кл.

q 01: С 11/04

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений н открытий (63) УДК 526.721.11 (088.8) (72) Авторы изобретения

М.A. Иояявко и А.М. Муталлимов

Киевский ордена Трудового Красного Знамени инженерно-строительный институт

Pl) Заавитель (54 ) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЙ ИЗОЛИНИЙ

РЕЛЬЕФА НЛ ФОТОСНИИКЕ

Изобретение относится к области фотограмметрии н может бить использовано для получения изолииий поверхности объекта с указанием направления превышения непосредственно иа фотоснимке.

Известен способ получения иэоянний рельефа объекта на фотоснимке, основанный на использовании муарового эффекта путевт непОсредственного нанесения на исследуемый объект периодических растровых решеток и его фотографировании через другой растр (11 .

)Ь

Однако этот способ сложен и неприменим в ряде случаев из-за невозможности нанесения растра на исследуемый объект.

Известен способ, устраняющий необходимость нанесения. растра на объект путем проектирования растров иэ двух разных точек.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ(2), по которому изолинии рельефа объекта определяют на фотоснимке в результате проектирования растров на объект из двух разных точек и его фотографирования.

Однако этим способом невозможно определить превышение по фотоснимку.

Для получения из плиний на фотоснимке с указанием направления превышения по предлагаемому способу проектируют на объект из двух разных точек взаимно коррелированные разнотипные растры с противоположной ориентацией в каждой точке, а направление превышения определяют ориентировкой структуры муаровых полос.

На фнг. 1 приведена схема, поясняющая описываемый способ получения изолиний рельефа; на фиг. 2 и 3 взаимно коррелированные разнотипные растры; на фиг. 4 и 5 — муаровая картина на наклонной плоскocòи и дBóскатной поверхности.

Растры (фиг. 2 н 3) проектируют на экран таким образом, что темные треугольники растра 2 налагаются на светлые треугольники растра 3 и наоборот, что дает в плоскости экрана равноосвещенную поверхность. Смещение экрана вверх илн вниз, эквивалентное изменению рельефа, приводит к сдвигу одного растра относитсльно другого, что выражается в получс;нии иа фотоснимке системы линий. При сдвиге экрана вверх на негативе свет619794

Формула изобретения

<Руг, 3

Рог. 9

Составитель Б. Поставнин

Редак.тор С. XeAgau Техред А.Алатырев Корректор C. Гарасиняк

Заказ 4491/37 Тираж В72 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Сонета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035 Москва, Ж-35 Раушская наб. д. 4 5

Филиал ППП Патент, r. ужгород, ул. Проектная, 4 лые линии наклонны и имеют внд ром бов . При сдвиге вниз светлые линии на нега;;:ле представляют собой вертикальные пунктиры. На уровнях рельефа, где имеет место полная корреляция, .на негативе имеется темная полоса, а слева и справа от темной полосы имеются зоны с различными системами линий.

Иа фиг. 4 показана форма полос на негативе при съемке поверхности, снижаюшейся вправо.

Зоны сплошной черноты соответстствуют отстояниям поверхности съемки от объективов проекторов, определяемых по формуле:

Ъ РЯ т Н(г-г) где Ь вЂ” базис фотографирования, фокусное. расстояние проекторов, Р - iaap растра в проекторе, М вЂ” номер зоны, — расстояние фокусировки растра.

Йа фиг. 5 приведен снимок, отоб ражающый двускатную поверхность с

ызломом в точке О, по которому можно судить о направлении превьваения путе а» ли а ot)HE-*HTHpG>

Способ получения изолиний рельефа на фотоснимке, включавший в себя р проектирование растров на объект из двух разных точек и его фотографирование, отличающийся тем, что, с целью получения изолиний на фотоснимке с указанием направления превышения, проектируют взаимно коррелированные разнотипные растровые решетки С противоположной ориентацией в каждой точке, а направление превышения определяют ориентировкой структуры муаровых полос.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Люрели А, Паркс В. Анализ деформаций с использованием муара.

Я5 М., Мир, с. 43-46, 1974.

2. Авторское свидетельство СССР

Р 545864, кл. Q 01 С 11/04, 1976.