Способ определения качества наклеивания тензорезисторов на бумажной и пленочной основе

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДВТВЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 22.03.72 (21) 1762500/25-28 с присоединением заявки № 1 984 785/25-28 (23) Приоритет(43) Опубликовано 25.08.78Бюллетеиь № 31

Союз Советских

Социал мстим вских

Республик (11) 62 О806

2 (51) М. Кл.

QO1 В 7/16

Гасударственный квинтет

Саветв Инннстрее СССР

N делам нзеервтеннй и еткрытнй (53) УДК 531.781. (45) Дата опубликования описания т5,0Ь.?8 .; .2:539. 3 (088:8) . (72) Авторы изобретения

А, И. Ефимов и В. А. Якунин (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА

НАКЛЕИВАНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ

НА БУМАЖНОЙ И ПЛЕНОЧНОЙ

ОСНОВЕ

Формула изо б ретен и я

Способ определения качества наклеивания тензорезисторов на бумажной и пленочной основе, заключающийся в том, что «ерез тензорезистор пропускают электрический ток и по его тепловому действию определяют качество наклеивания, отличаю1иийся тем, что, с целью повышения точности определения, через тензорезистор пропускают ток, не превышающий рабочий, и по локальным изменениям температуры тензорезистора ollределяют качество наклеивания.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Авторское свидетельство ¹ 277360, кл. G 01 В 7)16, 1969.

Изобретение относится к способам определения качества наклеивания тензорезисторов.

Известен способ определения качества наклеивания тензорезисторов, заключающийся в том, что через наклеенный тензорезистор пропускают электрический ток, в 5 в 15 раз превышающий величину рабочего тока, и по обугливанию основы обнаруживают неприклеенные участки тензорезистора (1).

Однако такой способ позволяет определять дефекты при малой площади неприклеенных участков тензорезисторов. Кроме того, при большой величине пропускаемого тока коэффициент чувствительности тензорезистора понижается или тензорезистор полностью выходит из строя.

Целью изобретения является повышение точности определения качества наклеивания тензорезисторов.

Это достигается тем, что по предлагаемому способу через тензорезистор пропускают ток, не превышающий рабочий, и по локальным изменениям температуры тензорезистора определяют качество наклеивания.

На изделие 1 (см. чертеж) наклеивают тензорезистор 2, к выходам которого подклю- 25 чают источник тока 3. При помощи термоприемника 4, передвигаемого по поверхности решетки тензорезистора 2, определяют зоны наибольшего перегрева. Сигнал с термоприемника 4 усиливается усилителем 5 постоянного тока, к выходу которого подключен вольтметр 6. Зоны перегрева определяют по отклонению напряжения на вольтметре 6 от установившего значения.

Способ определения качества наклеивания тензорезисторов на бумажной и пленочной основе Способ определения качества наклеивания тензорезисторов на бумажной и пленочной основе 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерению и контролю напряжений в конструкциях любого типа

Изобретение относится к испытательной технике и имеет целью повышение точности способа определения изгибной жесткости объектов, изготовленных из композиционных материалов

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к средствам измерения деформаций конструкций летательных аппаратов при испытаниях на прочность

Изобретение относится к области автоматизации процессов взвешивания, дозирования и испытания материалов

Изобретение относится к средствам измерения динамической деформации, измеряющим динамическое деформируемое состояние инженерных конструкций

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам, контролирующим перемещение деталей машин, и может быть использовано в системах контроля машинами и оборудованием
Изобретение относится к электрорадиотехнике, а в частности к технологии изготовления прецизионных фольговых резисторов, а также может быть использовано при изготовлении резисторов широкого применения
Наверх