Электромагнитный дефектоскоп

 

r :-- 1., - ::-: -.асщ )

9к 1 1а з 1 она 1 й+ф

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

1«632945

Союз Соеетскмз

Соцмалмстмческм к

Реслублмк

К ЛВТ01тСКОМУ С11ИЛ1-:ТГЛЬСТИУ (61) Лополннтельи те к авт. свнд-ву (22) Заявлено 10.05.77 (21) 2486470/25-28 с присоединением заявки % (23) Приоритет (43) ОПубЛИКттяаио1511 8. тОЛЛЕтЕНЬ 3А 42 (45) Лата опубликования описания 20.11,78 (51) М. Кл.

G0l М ?7/86

Госудврственный комитет

Совета MHHHcTpAR СССР но делам и итбретений и открытик (53) УЛК620.179. . 14 (088.8) (72) Лвторы изобретения

Б.A.Добнер и В. К. Жуков

Научно-исследовательский институт электронной интроскопии (71) Заявитель (54 ) ВЛЕКТРОМАГНИТНЫИ ДВФЕКТОСКОП

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при дефектоскопии протяженных металгических изделий.

Известны электромагнитные дефектоскопы для дефектоскопии протяженных металлических изделий tl) .

Наиболее близким техническим решением к предлагаемому устройству является электромагнитный дефектоскоп, содержащий два последовательно установленных датчика дефектов, два измерительных канала, первый из которых состоит из формирователя и блока регулируемой задержки, датчик скорости изделия, связанный с управляющим входом блока регулируемой задержки, логическую схему и индикатор дефектов (2) .

Недос татк ом и эн ес тных ус тройств являетс я низкая точность, связанная с ноттмированистм сигналов по амплитуде и длительности в логической схеме, что приводит к потере информации о параметрах дефектов.

Цель изобретения — повыщение точности контроля.

Это достигается тем, что электромагнитный дефектос-.коп снабжен ключом, управляющий вход которого соединен с выходом первого измерительного канала, сигнальный вход — c выходом нторого измерительного канала, а выход подключен к индикатору дефектов.

На чертеже представлена блок-схема предлагаемого дефектоскопа.

Дефектоскоп содержит датчики 1 и 2 дефектов, измерительные каналы 3 и 4, первый из которых включает в себя формирователь 5 и блок 6 регулируемой задержки; функциональный преобразователь 7, датчик 8 скорости изделия, ключ 9 и индикатор 10 дсфектов.

Датчики 1,2 дефектов и датчик 8 скорости изделия установлены пос:ледовательно относительно контролируемого иэделия 11.

Устройство работает следующим образом.

При прохождении дефектного участка контролируемого изделия через датчики дефектов сигнал от дефекта поянниетсн сначала на выходе первого датчика и через время t,=d/ч (где д — расс:таяние между датчиками, à V — скорость ннижения иэделия) — на выходе в торого.

В формирователе 5 и блоке 6 регу— лируемой задержки первого иэмеритс.иьного канала сигнал преобраэонынаетск в прямоугольный импульс, нормирован632945 формула изобретения

Составитель Е.Артамонова

Редактор Г,Моэжечкова Техред A.Ëëàòûðeâ КорректорН.Ковалева

Заказ 6545/35 Тираж 1070 Подпис ное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035» Москва, Ж-35 Раушская наб.с д. 4 5 филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ный по амплитуде и длительности к задержанный на время 1 =1

Во втором канале 4 сигнал не нормируется;: проходит на сигкальный вход ключа 9, на управляющий вход которого в это время поступает прямоугольный импульс с выхода первого канала.

Ключ открывается и пропускает сигнал с выхода второго канала на индикатор дефектов.

Блок б и датчик 8 служат для изменения времени задержки при изменении 10 скорости изделия так, чтобы выполнялось условие t > 1„

Такое выполнение устройства позволяет повысить точность контроля за счет сохранения информации о парамет- 15 рах дефекта.

Электромагнитный дефектоскоп, содержащий два последовательно установ- ® ленных датчика дефектов, два измерительных канала, первый из которых состоит из формирователя и блока регулируемой задержки, датчик скорости, связанный с управляющим входом блока регулируемой задержки, и индикатор дефектов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, он снабжен ключом, управляющий вход которого соединен с выходом первого измерительного канала, сигнальный вход — с выходом второго измерительного.канала, а выход подключен к индикатору дефектов.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Авторское свидетельство СССР

Р 336588, кл. Й 01 Й 27/86, 1972.

2. Авторское свидетельство СССР

Р 386330, кл. G 01 М 27/86, 1973.

Электромагнитный дефектоскоп Электромагнитный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительным приборам и может быть использовано для контроля жидких сред, например молочных продуктов

Изобретение относится к аналитическому приборостроению и может быть использовано для определения концентрации паров ароматических углеводородов в атмосфере промышленных объектов и при экологическом контроле

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля анизотропии прочности твердых металлических и строительных материалов и изделий

Изобретение относится к области исследования физико-механических свойств металлов и может быть использовано при диагностировании фактического состояния конструкции летательного аппарата после определенной наработки в процессе профилактических осмотров самолета

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа материалов путем определения их физических свойств, в частности предела прочности

Изобретение относится к геофизике (гравиметрии, геомагнетизму), к общей физике и может быть использовано при определении взаимодействия материальных тел, при расчетах магнитной напряженности вращающихся тел, объектов, тяжелых деталей аппаратов, вращающихся с большой скоростью

Изобретение относится к способам анализа смесей газов с целью установления их количественного и качественного состава и может быть использовано в газовых сенсорах
Наверх