Способ определения кривизны поверхности

 

636465 на равном расстоянии несколько отпечатков с помощью алмазной пирамиды с равнонаклонными гранями, измеряют параметры отпечатков и рассчитывают кривиз% ну по формуле ст.- ат

R " Г г

Т е„ клона нормали 1 -го (1- го, 2-го) оч печатков к оси индентора;

Д, — угол огранки пирамиды;

Д вЂ” число отсчета для длины меньшей

Б диагонали отпечатка; число отсчета для длины большей полудиагонали;

8, - расстояние между отпечатками;

Я - радиус кривизны.

Способ определения кривизны поверхности, заключающийся в том, что на контролируемую поверхность наносят ин- щ деитором отпечаток и исследуют его, отличающийся тем,что,с полью расширения диапазона измерения, на кон ролируемую поверхность наносят где сС вЂ” параметр огранки алмазной пирамидыi

По известным значениям у, и Фф ф определяют среднюю кривйзну на Âcòê длиною E x между отпечатками по формуле

Дополнительно на чертеже показаны

8 - длинная диагональ отнечатка; а — . м3ньшая полудиагональ длинной диагона=, ли отпечатка.

Формула изобретения

dz где 1ау.,-tf А 1- )- - угол

Источники информации принятые во внимание при экспертизе:

1. Авторское свидетельство СССР

% 429256, кл. 501 В 5/28, 1974. цНИИПИ Заказ 6926/3 1 Тираж 8ЭО Подписное

Филиал ППП "Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4