Способ измерения шероховатости поверхности при ее обработке на станке

Авторы патента:

G01B11/30 - для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Союз Советских

Социалистических

Респубпнк (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено 23.05.77 (2! ) 2487697/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 05.01.793юллетень №1

Дата опубликования описания06.01.79 (51) M. Кл, Q 01 В 11/ЗО

Государственный комитет ссср на делам изабретений и открытий (5З) УЙК 531,71 (088.8) (72) Авторы изобретения Р. Б. Мартиросян и С. Р. Маркарян ь

I с (Ереванский политехнический институт имени Карла Маркса (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ l1lEPOXOBATOCTH ПОВЕРХНОСТИ

ПРИ ОБРАБОТКЕ EE НА CTAHKE

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерениям, основанным на явлении интерференции света.

Известен способ определения качества обработки поверхности, заключающийся в том, что на исследуемую поверхность направляют скользящий по поверхности пучс< световых лучей и по отношению спектральных коэффициентов отражения этих лучей от исследуемой и эталонной поверхностей судят о средней высоте неровностей поверхности (l ).

Такой способ определения шероховатости поверхности приемлем только для матовых стеклянных шлифованных поверхностей.

Известен способ измерения шероховатости поверхности при обработке ее на станке, заключающийся в том, что на исследуемый участок поверхности направляют световой пучок лучей н наблюдают интерференционную картину (2).

При этом на измеряемую поверхность накладывают плоское стекло. Интерференционная картина возникает в результате образования воздушного клина между плоскопараллельной стеклянной пластиной и контролируемой поверхностью, К недостаткам данного способа относятся. невозможность оценки шеро".оватости цилиндрических поверхностей; субъективность оценки яркости интерференционной картины наблюдателем; невозможность измерения точной величины высоты неровностей поверхности внесение в результат измерения погрешности, обусловленной неточным изготовлением плоскопараллельной стеклянной плас-. тины.

Целью изобретения является увеличение точности и упрощение измерения шероховатости поверхности и пределах Кв вЂ” вЂ” 0,8вЂ”

20 мкм.

Поставленная цель достигается тем, что определяют угол падения луча на исследуемый участок поверхности, длину волны; соответствующую цвету интерференционной картины исследуемого участка поверхности, угловые параметры режущего инструмента и по ним судят о шероховатости поверхности.

2О

Предложенный способ поясняется чертежом.

Пучок параллельных лучей l лампы 2 накаливания направляют на исследуемую поверхность 3 детали 4 в плоскости, перпен

Способ измерения шероховатости поверхности при ее обработке на станке

Устройство для контроля качества обработки отверстий деталей // 637705

Устройство для контроля диффузноотражающих поверхностей // 637704

Оптическая линейка для контроля отклонения поверхности от прямолинейности // 632899

Устройство для контроля радиусов кривизны и местных ошибок оптических поверхностей деталей // 629447

Способ измерения параметров дисперсных систем // 619792

Устройство для контроля отклонений поверхности от прямолинейности // 616532

Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов // 593070

Устройство для контроля формы поверхности трехмерных объектов // 587327

Образец для оценки волнистости покрытий // 587326

Устройство для определения качества поверхности // 2104480

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Способ исследования оптического диска оригинала и устройство для его осуществления // 2107893

Устройство для измерения шероховатости и волнистости поверхности при фиксированных значениях базовой длины // 2116616

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Устройство для измерения поверхностных характеристик // 2124701

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Способ и устройство для высокоточного бесконтактного измерения расстояний поверхностей // 2148790

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Способ контроля параметров наружной резьбы и устройство для его осуществления // 2151999

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Способ контроля параметров внутренней резьбы и устройство для его осуществления // 2152000

Способ детектирования положения линии сгиба на упаковочном полотне и устройство для его осуществления // 2153160

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Устройство для определения шероховатости поверхности // 2156437

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия // 2156955

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия