Устройство для испытания интегральных схем

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ ев

<н>646709, Союз Советских

Социалистическик

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

/ (61) Дополнительное к авт. сеид-ву (51) М. Нл. (22} Заявлено 190776 (21) 2385730/18-21 с присоединением заявки М

2l/70

Н 05 К 1/04

Н 05 К 13/08

Государственный комнтет

СССР но делам нзобретеннй н открытнй (23) Приоритет (53) УДК621 396.

049 (088 8) Опубликовано 15.1279. Бюллетень Мо 46

Дата опубликования описания 15,1279 (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ

ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

На фиг. 1 изображено описываемое устройство, общий вид (крышка условно не показана}; на фиг. 2 — то же в продольном разрезе rio оси симметрии.

Внутри корпуса 1 расположены подвижная гребенка 2 с установленными в ней пружинными койтактами 3 н неподвижное основание 4 с пружинными контактами 5, в котором выполнены пазы б. Параллельно гребенке 2 установлена дополнительная подвижная гребенка 7 с пружинными контактами 8.

Устройство .содержит также нагреватель 9 с медной теплопередающей пластиной 10, температурные датчики

11 и. 12 задания и контроля температуры, верхнюю крышку 13, уплотнительную резиновую прокладку 14, разъем 15.

Устройство работает следующим образом;

Интегральные схемы 16 вкладынают в пазы б неподвижного основания 4 и закрывают крышкой 13, которая прижимает выводы 17 интегральных схем

16 к пружинным контактам 5 неподвижного основания 4, к пружинным контактам 8 подвижной гребенки 7 и к пружинным контактам 3 подвижной гребенки 2, затем.с помощью внешнего

Изобретение предназначено для испытания интегральных микросхем на воздействие климатических и электрических нагрузок, может быть применено на автоматических и техноло- . .5 гических линиях при массоном производстве интегральных схем.

Известно устройство для испытания интегральных схем, н корпусе которого расположены подвижная гребенка с ус- 1О тановленными в ней пружинными контактами и неподвижное основание с пружинными контактами (1) .

Однако это устройство ненадежно при повышенных температурах. 15

Цель изобретения — повышение надежности устройства при повышенных температурах.

Укаэанная цель достигается тем, что в известном устройстве для испыта-20 ния интегральных схем, s корпусе которого расположены подвижная гребенка с установленными в ней пружинными контактами и неподвижное основание с пружинными контактами, внутри корпу- 25 са параллельно основной гребенке установлена дополнительная подвижная гребенка с пружинными контактами, а неподвижное основание- выполнено иэ диэлектрического материала. 3(, A.Å.Êóäðÿâöåâ, В.:И.Домеников и Н.В.Михайлов

646709.

3 прйбора, например омметра (йа" чертеже условно не показан) проверяют наличие замкнутой цепи между контак-. тамй 5-основания 4, выводами 17 йй """тегрйльных схем 16, контактами 8 гребенки .7 и контактами 3 гребенки 2.

Таким образом проверяют все выводы всех интегральных схем. Наличие замкнутой"цепи свидетельствует о том, чтб вмвоцы интегральных схем каса- ются контактов 5, 8, 3 соответствен но основания 4, гребенок 7 и 2 °

После этого к разъему 15-подключаю регулятор температурй и блок -задания электрического режима (на чертеже условно не показаны),и испйтуемые ин тегральнйе схемы 16 проверяют на долговечность и безбтказйбсть.

При изйерении статических и дина" "мических параметров йспытательйый электрический режим отключают температурный режим остается без измейейия" .Перед измерением проверяют наличие контакта по линии Кельвина.

После этого измерительную головку контрольно-измерительного прибора 1 (на чертеже условно не показан) ус-

"" танаЪлййййт непосредственно на кон- .. такты 5 основания 4, идушйе "от выводов первой испытуемой интегральной схемы. После замера параметров анайогйчйуйГ"операцию" повторяют со всеми последуюцими интегральными схемами.

Температура во внутреннем объеме устройства регулируется от 40 до

150 С и более нагревателями 9 и датчиками задания температуры 11, температура контролируется датчиком 12, медная теплопередающая пластина 10 выравнивает" отклонение температур в полезном объеме. Неподвижное основание 4 из диэлектрического материала предохраняет контакты 3,5,8 от непосредственного воздействия повы- шенной температуры, благодаря чему т они не выгорают.

Форм))ла изобретения

Устройство для испытания интегральных схем, в корпусе которого расположены подвижная гребенка с установленйыми в ней пружинными контактами и неподвижное основание, с пружинными

20 контактами, о т л и ч а.ю щ е е с я тем, что„ с целью повышения его на дежности при повышенных температурах, внутри корпуса параллельно основной гребенке установлена дополнительная

25 подвижная гребенка с пружинными контактами,а неподвижное основание выполнено из диэлектрического материала.

Источники информации, g0 принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

9 479274, Н 05 К 7/12, 14.01.74.

У 4 S. S г 1Щ Я &ФФФ .Ъ

ЦНИИПИ Даказ 7864/52

Тираж 923 Подписное

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная,4