Способ определения места и характера дефектов электрической схемы

 

ОПИСАНЫ

ИЗОБРЕТЕНИ

Союз Советских

Социалистических

Реслублик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ.(61) дополнительное к авт. свид-ву— (22) аявлено 290777 (2 ) 2515202/18с присоединением заявки Я (23) Приоритет

Опубликовано 250379. Бюллетень Х

Дата опубликования описания 25.0

3l/28

Государственный к ом итет

СССР по делам изобретений и открытий

1 ° 317., (088. 8) (72) Автор изобретении

Д. В. Хорохорин (71) Заявитель

Научно-исследовательский технохимический.институт бытового обслуживания (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕСТА И ХАРАКТЕРА

ДЕФЕКТОВ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ СХЕМЫ

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано при поиске неисправностей радиотехнических и электрических схем, Известен способ определения места неисправности электрической схемы, основанный на измерениях параметров отдельных элементов схемы и сравнении 10 их с номинальными величинами (1).

Недостатком этого способа является невозможность детализации неисправностей без увеличения числа конт- 15 ролируемых элементов.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ определения места и характера 4р дефектов электрической схемы, включающий воздействие испытательным сигналом, измерение амплитуды и времени запаздывания сигнала в измерительных точках схемы и сравнении 25 измеренных величин с табличными значениями (2).

Недостатком этого способа является сложность, а также необходимость осуществления измерений в большом количестве точек, соответствующем числу элементов схемы.

Целью изобретения является сокращение времени измерения и повышение разрешающей способности.

Для достижения этой цели по известному способу определения места и характера дефектов электрической схемы, включающему воздействие испытательным сигналом, измерение амплитуды и времени запаздывания сигнала в измерительных точках схемы и сравнение измеренных величин с табличными значениями, моделируют дефекты, расположенные по направлению распространения испытательного сигнала после измерительной точки схемы, выбирают измерительные точки, соответствующие ббнаружению и разрешению моделированных дефектов и измеряют амплитуду и время запаздывания испытательного сигнала в измерительных точках схемы по направлению распространения испытательного сигнала от входа до выхода схемы, Сущность данного способа заключается в следующем, Измерение времени фазового запаздывания позволяет определить неис653588

Формула изобрет ения

Составитель A.Изюмов

Техред И. Асталош . Корректор С,Шекмар

Редакт ор Т . Ив ано в а

Заказ 1285/34 Тираж 696 Цодпис н ое

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035р Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП Патент, r.Óæãîðîä, ул,Проектная, 4 правность в тех случаях, когда неисправность в схеме, оказывающая воздействие на время фазового запаздывания, не вызывает изменения; амплитуды и формы испытательного сигнала или детализировать неисправности, когда от различных неисправностей проявляются одинаковые изменения амплитуды и формы испытательного сигнала, но имеются различные изменения времени фазового запаздывания, Выбор точек измерений на схеме с учетом их положения относительно места неисправности, при котором отдается предпочтение,.такому положению точек, когда в точках измерений преобладают неисправности, лежащие после них, исключает для этих неисправнос-. тей особые случаи, когда нельзя найти место и характер неисправности из-эа возможных обрывов и коротких замыканий магистральных цепей, приводящих к прекращению прохождения испытательного сигнала от источника к точке изме-: рений после места неисправности.

Обход выбранных точек по направлению испытательного сигнала от вхо- 25 да до выхода электрической схемы позволяет повысить степень детализации неисправности, так как в каждой последующей точке измерений неисправности, связанные с предшествующей 30 точкой, либо вовсе не определяются, либо только уточняются лишь в отцельных случаях.

Составленная при моделировании таблица неисправностей, включающая 35 в себя для каждой выбранной точки измерений комбинации времени фазового запаздывания и амплитуды испытательного сигнала, соответствующие только определяемым в выбранной точке не- 40 исправностям и одной комбинации для ,исправного состояния, а также реальные неисправности, наблюдаемые в процессе эксплуатации электрической схемы, позволяет обходиться без заведомо исправных образцов электрической схемы. Закодированная таблица неисправностей может храниться в памяти управляющей математической машины и быть использована при автоматическом поиске неисправности.

Условия воздействия испытательного сигнала на электрическую схему создают, подключая к входу схемы известный, обычно применяемый для ее контроля функционирования генератор испытательного сигнала.

Способ определения места и характера дефектов электрической схемы, включающий воздействие испытательным сигналом, измерение амплитуды и времени з апаздывания испыт ат ельного сигнала в измерительных точках схемы и сравнение измеренных величин с табличными значениями, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью сокраще- ния времени измерения и повышения разрешающей способности, моделируют дефекты, расположенные по направлению распространения испытательного сигнала после измерительной точки схемы, выбирают измерительные точки, соответствующие обнаружению и разрешению моделированных дефектов и измеряют амплитуду и время запаздывания испытательного сигнала в измерительных точках схемы по направлению распространения испыт ат ельного сигнала от входа до выхода схемы.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе ..

1, Патент СШЛ 2970260, кл. 324-73, 1959.

2, Патент CUD Р 2905892, кл, 324-73, 1959,

Способ определения места и характера дефектов электрической схемы Способ определения места и характера дефектов электрической схемы 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации
Наверх