Двухлучевой фотометр

 

Саеоз Советеиик

Сецналнстическнк республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

<1658409 .,! (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 2 .12р2 (2I) 1862924/18-25 с присоединением заявки И (23) Приоритет—

Опубликовано 250479.Бюллетень Р615

Дата опубликования описания.250479 (51) М. Кл.

6 01 У 1/04

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открыти и (53) УДК 535. 4

;(088. 8) (72) Автор изобретения

М .М . Дедлов ск ий

Ордена Трудового Красного Знамени институт радиотехники и электроники AH СССР (Фрязинская часть) (54) ДВУхлучеВОЙ ФОтОметР

Изобретение относится к области оптико-физических измерений и может быть использовано в фотометрии, а также при проведении химических исследований.

Известен двухлучевой фотометр, содержащий два источника света, оптическую систему, выполненную в виде двух зеркал и трехгранной призмы, модулятор и фотоприемник tl) .

Наиболее .близким по технической сущности и достигаемому результату является двухлучевой фотометр, содержащий источник света, оптическую систему, модулятор и фотоприемник (2y

36

Недостатком данного фотометра является низкая его виброустойчивость, обусловленная наличием большого количества оптических элементов, а также малая функциональная эффективность, обусловленная фиксированным расстоянием между его ветвями °

Такой фотометр непригоден для проведения измерений характеристик разных по геометрии объектов. 25

Целью изобретения является повышение виброустойчивости и функциональной эффективности устройства.

Это достигается тем, что оптическая система фотометра выполнена

30 в виде двух!равносторонних трехгранных призм с полупрозрачной биссектральной плоскостью, одна иэ которых установлена с возможностью продольного перемещения.

На чертеже представлена схема предлагаемого фотометра.

Фотометр включает в себя источник 1 света, равносторонние трехгранные призмы 2 и 3 с полупрозрачной биссектральной плоскостью, модулятор 4, механизм 5 перемещения первой призмы, измеряемый и эталонный объекты 6, фотонриемник 7, регистрирующая схема 8.

Работа устройства осуществляется следующим образом.

Световой пучок, падающий на одну из граней призмы 2, делится призмой на два равных по интенсивности пучка. Каждый из полученных пучков, проходя через модулятор и измеряемый и эталонный объекты 6, попадает на вторую призму, которая их суммирует.

Модулятор 4 поочередно пропускает этаЛонный и рабочий пучки на фотоприемник 7.

Если свойства исследуемого и эталонного объектов одинаковы, то сиг658409

Составитель B. Иванюк.

Редактор О.Стенина ТехредМ.Петко Корректор 0.Ковинская

Заказ 2039/36 Тираж 765 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР ио делам изобретений и открытий

113035 Москва, Ж-35 Раушская наб. д. 4 5

Филиал ППП Патент, г.ужгород, ул.Проектная,4 нал на выходе фотоприемника равен нулю. При условии неидентичности данных объектов на выходе фотоприемника формируется разносТный сигнал, который позволяет характеризовать измеряемую среду.

При проведении измерений протяженных объектов продольное перемещение призмы 2, сочлененной с механизмом перемещения 5, позволяет изменять расстояние между опорным и рабочим пусками и тем самым про- ® сканировать исследуемый объект по всей его длине, беэ существенных перестроек устройства в целом.

Кроме того такая схема фотоМатра обладает повышенной устойчиво- 15 стью к вибрапии.;

Формула изобретения

Двухлучевой фотометр, содержащий источник света, оптическую систему, модулятор и фотоприемник, отличающийся тем, что, с целью повышения виброустойчивости, эффективности, оптическая система выполнена в виде двух равнобедренных трехгранных призм с полупрозрачной бнссектральной плоскостью, одна из которых установлена с возможностью осевого перемещения.

Источники информации, принятые

so внимание при экспертизе

1. Дитчберн P. Физическая оптика, М., Наука, 1965, с.287 288.

2. Дикий. Б.Ф. лвтоматический контроль состава и свойств пищевых продуктов. М., Пищевая промышлен ность, 1968, с. 51.

Двухлучевой фотометр Двухлучевой фотометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх