Микрообъектив для отраженного света

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 010278 (21) 2575273/18-10

Союз Советских

Сощивлистических

Республик (51)М. Кл.

G 02 В 21/02 с присоединением заявки М

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет (53) УДК 5 35 . 82 4 ..2 (088. 8) Опубликовано 0 50 67 9. Бюллетень М 2 1

Дата опубликования описания 05.06.79 (72) Авторы изобретения

А. Г. Арлиевский и A. П. Грамматин (71) Заявитель (54) MHKPOOBhEKTHB ДЛЯ ОТРАЖЕННОГО СВЕТА ту (3) .

Изобретение относится к области оптико-механического приборостроения и может быть использовано, например, в металлографических и рудных микроскопах.

Известны микрообъективы отраженного света, работающие в светлом поле.

Значительное влияние на качество изображения таких микрообъективов оказывает рассеянный свет, образующийся эа счет однократного отражения от оптических поверхностей объектива (так называемые рефлексы первого порядка) . Наиболее заметно действие рефлексов при изучении слабоотражающих объектов. В этом случае. рефлексы настолько снижают контраст изображения, что наблюдение тонкой структуры слабоотражающего объекта невозможно даже при применении объектива с совершенной коррекцией аберраций (1J, Применение просветляющих покрытий хотя и уменьшает величину рефлексов в 2-3 раза, однако, не устраняет рас-25 сеянный свет в достаточной степени.

Известны также микрообъективы отраженного света, где уменьшение коэффициента засветки достигается за счет того, что часть объектива, являясь общей для объективов всего комплекта, помещается в тубуСе микроскопа и, не участвуя в работе осветительной системы, не образует рефлексов первого порядка f2) . Однако конструктивно эти объективы выполнены достаточно сложными, состоят иэ большого числа линз. Кроме того, такие микрообъективы не являются взаимозаменяемыми с существующими микрообъективами и не могут применяться в уже существующих моделях микроскопов.

Наиболее близким по технической сущности является объектив, содержащий два склеенных компонента, разделенных воздушным промежутком, при этом первый и второй компоненты выполнены в виде положительных склеен-. ных плоско-выпуклых линз, обращенных плоскими поверхностями к объекОднако он обладает значительными рефлексами от оптических поверхностей, что ухудшает контраст изображения. Микрообъектив имеет недостаточную коррекцию аберраций внеосевых точек объекта: максимальная волновая аберрация лучей основного цвета, об666506

35 разующих изображение точки края поля зрения С .= 9 мм, превышает 1,1 Л"

Целью изобретения является повышение контраста изображения.

Поставленная цель достигается тем, что в микрообъективе, содержащем два двухсклеенных компонента, разделенных .5 воздушным промежутком, первый компонент выполнен в виде склеенного из двух менисков отрицательного мениска, обращенного вогнутостью к объекту, первая и третья поверхности которо- 10 го †.апланатические, а поверхность склейки — концентрическая апертурному лучу, при этом разность показателей преломления материалов менисков составляет не менее 0,2, а воздушный промежуток между первым и вторым компонентом составляет не менее 0,1 фокусного расстояния объектива, причем отношение оптических сил первого и второго компонентов находится в пределах от -0,5 до -0,7.

На чертеже показана оптическая схема предлагаемого объектива.

Микрообъектив отраженного света состоит.из двух склеенных компонентов 1 и 2, разделенных воздушным 25 промежутком. Отрицательный компонент

1 включает отрицательную 3, положительную 4 линзы и выполнен в виде склеенного мениска, обращенного вогнутостью к объекту. Причем первая

5 и третья 6 поверхности — апланатические, а поверхность склейки 7 концентрическая апертурному лучу.

Разность показателей преломления линз 3 и 4 составляет не менее 0,2. .Воздушный промежуток между компонентами,1 и 2 составляет не менее 0,1 фокусного расстояния объектива. Положительный компонент 2 включает отрицательную линзу 8 и положительную 40 линзу 9. .Отношение оптической силы компонента 1 к оптической силе компонента 2 составляет -0,5 — -0,7.Апертурная диафрагма 10 микрообъектива находится вблизи компонента 2. 45

- Первый отрицательный компонент 1 проецирует изображения объекта в переднюю фокальную плоскость положительного компонента 2 с увеличением, равным отношению показателя преломления линзы 4 к показателю преломления линзы 3. Второй положителЬный компонент 2 и дополнительная система (на чертеже не показана) создают изображение объекта в задней фокальной плоскости дополнительной системы.

При наблюдении непрозрачных объектов в режиме светлого поля пучок света осветительной системой (на чертеже не показана) и микрообъективом направляется на изучаемый объект. При этом часть светового потока отражается от оптических поверхностей линз 3,4,8 и 9 и накладывается на свет, отраженный от объекта. Световой поток, отраженный оптическими поверхностями линз 3 и 4 компонента 1, рассеивается в значительном телесном угле, что существенно снижает коэффициент засветки.

Микрообъектив отраженного света имеет достаточно высокое качество изображения по всему полю зрения и значительно уменьшенный коэффициент засветки. Величина коэффициента засветки предлагаемого объектива в пять раз меньше коэффициента засветки известного объектива аналогичного назначения, причем это соотношение практически не изменяется при уменьшении диаметра апертурной диафрагмы осветителя.

Применение предлагаемого объектива обеспечит при удобстве эксплуатации возможность наблюдения и исследования ряда слабоотражающих объектов.

Кроме того, благодаря малой чувстви— тельности к децентрировке каждого компонента и упрощению процесса сборки и юстировки микрообъектива, микрообъЕктив обладает большей эффективностью для серийного производства.

Формула изобретения

Микрообъектив для отраженного света, содержащий два двухсклеенных компонента, разделенных воздушным промежутком, отличающийся тем, что, с целью повышения контраста изображения, первый компонент выполнен в виде склеенного из двух менисKQB отрицательного мениска, рбращенного вогнутостью к объекту, первая и третья поверхности которого — апланатические, а поверхность склейки концентрическая апертурному лучу, при этом разность показателей преломления материалов менисков составляет не менее 0,2, а воздушный промежуток между первым и вторым компонентами составляет не менее 0,1 фокусного расстояния объектива, причем отношение оптических сил первого и второго компонентов находится в пределах от

-0,5 до -0,7.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Панов В.А. и др. Оптика микроскопов, Л., Машиностроение, 1976, с. 112.

2. Патент США 93428390 кл. 350-171, 1969.

3. Скворцов Г.E. и др. Микроскопы, Л., Машиностроение, 1969, с. 500-501.

666506

Составитель М.Лебедев

Техред И.Асталош Корректор С .Шекмар

Редактор О.Филиппова

Филиал ППП Патент, r.Ужгород, ул.Проектная,4

Заказ 3180/37 Тираж 587 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5