Дата опубликования описания 050879 (53) УДК 536.5 (088 8) (72) Авторы В. Б. Богданович, И.В. Бортовой, Н. Н. Григорьев изобретения А,С.Êàìåíñêîé, С.В.Свечников, A.Г.Синицын и (71) Заявители

Институт полупроводников AH Украинской CCP и Конструкторское бюро Киевского радиозавода (54 ) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЦ

ПОВЕРХНОСТИ

Изобретение относится к температурным измерениям, а именно устройствам для измерения температуры поверхности.

Известно устройство для преобразования теплового излучения в видимое, изображение, которое может быть использовано для измерения температуры поверхности, содержащее жидкокристаллический экран, чувствительный к температуре, осветитель и регистрируюшую систему (1). В этом устройстве распределение температуры объекта преобразуется в цветное изображение, Устройство имеет низкую точность определения температуры, так как визуальная оценка температуры сопряжена с субъективнйми ошибками., Известно устройство для исследования тепловых полей, содержащее источник света, термочувствительный элемент выполненный на основе оптически неоднородной двухкомпонентной смеси, показатели преломления компо- 2> нентов которой зависят от длины волны, два поляризатора и клиновидиые фазовые пластины. Действие устройства основано на селективном пропускании света разных длин волн в видимой области оптически неоднородной дисперсионной смеси и на зависимости длины волны пропускания света от температуры (2). Недостатками устройства являются низкая точность определения температуры и слоожйость cxew;

Иэ известных устройств наиболее близким по технической сущности является устройство для измерения темГ пературы поверхности, содержащее термохромный индикатор на жидкокристаллической пл:.нке,оптически связанный с осветителем, светофильтр с регулируемой длиной волны пропускания,блок управления светофильтром,фотопоиемник и регистратор (3) . Недостатком устройства является низкая точность

1 измерения температуры поверхности, так как производится интегральное измерение температуры всей контролируемой поверхности.

Целью изобретения яЪляется повышение точности измерения температуры по поверхности объекта и получение картины распределения температуры.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство для измерения-температуры поверхности введены объектив, расположенный между фотоприемником и термохромным индикатором на жидкокристаллической пленке и блок

678342 выделения максимума сигнала, входы которого соединены с фотоприемником, а выходы вЂ” с регистратором, соединенным с блоком управления светофильтром, причем фотоприемник выполнен многоэлементным.

На чертеже приведена схема уст- 5 ройства °

Устройство для измерения темпе. ратуры поверхности, содержит светонепроницаемый тубус 1, осветитель, имеющий источник 2 света и конден- 10 сор 3, светофильтр 4 с регулируемой длиной волны пропускания, полупроз"рачное зеркало 5, установленное под углом 45 к центральным осям осветителя и тубуса, термохромный индикатор 5

6 на жидкокристаллической пленке, многоэлементный фотоприемник 7 с чувствительными элементами 8, объектив 9, блок 10 выделения максимума сигнала, блок 11 управления светофильтром и регистратор 12.

Термохромный индикатор на жидкокристаллической пленке приводят в тепловой контакт с поверхностью объекта, . температуру которой измеряют. Свет от осветителя проходит через светоФильтр 4, попадает на полупрозрачное зеркало 5, от которого отражается на поверхность термохромного индикатора. Свет, отраженный от термохромного индикатора, проецируется объективом 9 на чувствительные элементы 8

Фотоприемника 7, в каждом из которых возникает электрический сигнал, пропорциональный величине падающего светового потока, который поступает З5 в блок 10.

Коэффициент отражения термохромного индикатора на жидкокристалли,ческой пленке, нагретого до определенной температуры, зависит от дли- 40 ны волны падающего свеТа и имеет максимальное значение при определенной длине волны. Зависимость длины волны света, соответствующая макси-мальному значению коэффициента стРа- 45 жения от температуры, определяется пу. тем предварительной градуировки устройства.

При последовательном изменении длины волны света, падающего на термохромный индикатор 6, осуществляемом светофильтром 4 совместно с блоком

11, интенсивность отраженного света от участков термохромного индикатора, нагретых до определенной температуры при определенной длине волны света, достигает максимума ° Блок 10 выделения максимума сигнала устанавливает моменты времени, при которых сигналы чувствительных элементов фотоприемника

8 имеют максимальное значение. В момент достижения максимума сигнаЛа регистратор фиксирует значение длины волны света, однозначно связанное со значением температуры данного уч; стка.

Использование новых элементов объектива, блока выделения максимума . сигнала и многоэлементного фотоприемника выгодно отличает описываемое устройство для измерения температуры. поверхности от известного, так как позволяет повысить точность измерения температуры по поверхности контролируемого объекта, что увеличивает сферу применения устройства.

Формула изобретения

Устройство для измерения температуры поверхности, содержащее термохромный индикатор на жидкокристаллической пленке, оптически связанный с осветителем, светофильтр с регу-. ли1 уемой длиной волны пропускания, блок управления светофильтром, фотоприемник и регистратор, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повыщения точности измерения температуры по поверхности объекта, в него вве" дены объектив, расположенный между фотоприемником и термохромным индикатором на жидкокристаллической пленке, и блок выделения максимума сигнала, входы которого соединены с фотоприемником, а выходы - с регистратором, соединенным с блоком управления светофильтром, причем фотоприемник выполчен многоэлементным.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

Р 402765, кл. G 01 К 11!12, 1971.

2. Авторское свидетельстзо СССР

М 415515, кл. G 01 К 11/12, 1971.

3. Патент ГДР Р 100549, кл. 42 i 10/04, 1973.

678342

Составитель Р.Куликов

Редактор Л.Тюрина Техред С. Мигай Корректор М.Вигула

Заказ 4559/30 (Уира 766 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

ll3035, москва, Ж-35, Раушская наб.,д.4/5