Способ визуальной настройки на оптимальную фокусировку электронного растра на экране электроннолучевой трубки

 

! э " ° > ч с

ОПИСАНЙЁ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Сеюз Соаетскнх

4:ециалмстнчвскмх

Республик () 678716

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к аат. санд-ау(22) Зааалвно 060577 (21) 2485138/18-09 с присоедннвнием заявки И9(23) Приоритвт(5!)М. Кл.

Н 04 Н 7/02

Государственный комнтет

СССР но делам нзобретеннй н открытнй (53) УДК 821. 397 (088. 8) Опубликовано 05Ы79. фоллатань р(о 29

Дата опубликования описания 050879 (72) Автор изобретения

11. И. Рез ник (7 1 ) Заявитель (54) СПОСОБ ВИЭУАЛЪНОЙ НАСТРОЙКИ HA ОПТИМАЛЪНУР.

ФОКУСИРОВКУ ЭЛЕКТРОННОГО РАСТРА НА ЭКРАНЕ

ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВОЙ ТРУБКИ

Изобретение относится к телевизионной и радиолокационной технике и может использоваться при настройке и контроле оконечных индикаторных устройств, выполненных ", применением электроннолучевых трубдк (ЭЛТ) .

Известен способ визуальной настройки на оптимальную фокусировку электроннот.о растра на экране ЭЛТ, заключающийся в формировании на экране ЭЛТ измеряемого электронного растра, установлении наличия четко видимой растровой структуры и определены качества фокусировки как отношения 1/Н, где N — число линий электронного растра на 1 мм (1).

Однако этот способ отличается сложностью настройки на оптимальную

Фокусировку.

Целью изобретения является упрощение настройки.

Для этого в способе визуальной настройки на оптимальную фокусировку электронного растра на экране

ЭЛТ, заключаккаемся в формировании на экране ЭЛТ измеряемого электронного растра, установлении наличия четко видимой растровой структуры и определении качества фокусировки как отношения 1/N, где N — число линий электронного растра на 1 мм, измеряемый электронный растр сонмещают с эталонным растром, например, типа муармикрометра, до получения на экране ЭЛТ комбинационных муаровых полос, регулировкой напряжения на фокусирующем электроде ЭЛТ с последующим изменением размера электронного растра получают комбинационные муаровые полосы с наибольшим контрастом, с помощью линии, проходящей через точки перегиба комбинационных муаровых полос, по шкале муармикрометра определяют соответствующее тэ число линий электронного растра на

1 мм.

Предложенный способ заключается в следующем: телевизионный (электронный) растр совмещают с эталонным растром (с муармикрометром) в муаровом сопряжении, изменяя напряжение или ток фокусировки и размер растра, добиваются максимального контраста воэникакщих при совмещении комбинационных муаровых полос. На этом заканчивается операция настройки на предмет получения оптимальной фокусировки. Далее, получив максимальный контраст комбинационных муаровых полос, определяют соответствую678716

Формула изобретения

Составитель Г. Теплова

Редактор И. Мархонская Техред И.Асталош Корректор И. Муска

Заказ 4588/51 tТиРаж 775 Подписное

ЦНИИПИ Государстненного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035. Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, r Ужгород, ул. Проектная, 4 щее значен«е телевизионных линий/мм по шкале муармикрометра„ при котором получен максимальный контраст.

Качество фокусировки определяют как

1/И, где N — количество телениэион— ных линий на 1 мм.

Способ визуальной настройки на оптимальную фокусировку электронного растра на экране электроннолучевой трубки, заключающийся н формировании на экране электроннолучевой трубки измеряемого электронного растра, установлении наличия четко видимой растровой структуры и определении качества фокус«ронни как отношения

1/N где N — число линий электронного растра на 1 мм, or л и ч а ю шийся тем, что, с целью упрощения настройки, измеряемый электронный растр совмещают с эталонным растром, например, типа муармикрометра, до получения на экране электроннолучевой трубки комбинационных муаровых полос, регулировки напряжения на фокусирующем электроде электроннолучевой трубки с последующим изменением размера электронного растра получают комбинационные муаровые полосы с наибольшим контрастом, с помощью

l0 линии проходящей через точки перегиба комбинационных муаровых полос, по шкале муармикрометра определяют соответствующее число линий электронного растра на 1 мм.

15 Источники информации, принятые но внимание при экспертизе

1. Миллер P. A. и Куракин Л, A.

Приемные электронно-лучевые трубки.

М... Энергия, 1964, с. 160.