Полупроводниковый материал для переключающих элементов и критических терморезисторов


H01L45 - Приборы на твердом теле для выпрямления, усиления, генерирования или переключения, не имеющие потенциального барьера, на котором имеет место скачкообразное изменение потенциала, или поверхностного барьера, например диэлектрические триоды; приборы с эффектом Овшинского; способы и устройства, предназначенные специально для изготовления или обработки вышеуказанных приборов или их частей (приборы, состоящие из нескольких компонентов на твердом теле, сформированных на общей подложке или внутри нее, H01L 27/00; приборы с использованием сверхпроводимости H01L 39/00; пьезоэлектрические элементы H01L 41/00; приборы с эффектом отрицательного объемного сопротивления H01L 47/00)

 

(19)SU(11)697016(13)A1(51)  МПК 6    H01L45/00, G01K7/22(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 17.12.2012 - прекратил действиеПошлина:

(54) ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ МАТЕРИАЛ ДЛЯ ПЕРЕКЛЮЧАЮЩИХ ЭЛЕМЕНТОВ И КРИТИЧЕСКИХ ТЕРМОРЕЗИСТОРОВ

Изобретение относится к полупроводниковым материалам, применяемым для изготовления переключающих элементов и критических терморезисторов, которые могут быть использованы в средствах связи, автоматике и телемеханике. Известен полупроводниковый материал на основе аморфных пленок диоксида ванадия (VO2). Однако аморфные пенки VO2 не обладают скачком электропроводности при фазовом переходе и из них невозможно изготовить критические терморезисторы. Известен также полупроводниковый материал для переключающих элементов и критических терморезисторов, включающий монокристаллический VO2. Этот материал имеет нестабильные параметры, поскольку под действием окружающей среды изменяется его химический состав. Так, например, напряжение переключения уменьшается на 20% после 108 переключений. Кроме того, после 6-10 термоциклов монокристаллы VO2 разрушаются и становятся непригодными для изготовления критических терморезисторов. Цель изобретения - повышение стабильности и механической прочности. Цель достигается тем, что материал дополнительно содержит связующее на основе эпоксидной диановой смолы при следующем соотношении компонентов, мас.%:
Диоксид ванадия 1-60
Связующее Остальное
При наличии в полупроводниковом материале связующего в указанном количестве обеспечивается более высокая, чем у материала, стабильность и механическая прочность: во-первых, за счет защиты связующим поверхности VO2 от воздействия внешней среды, во-вторых, за счет сохраняющейся способности к переключению даже при разрушении монокристаллического VO2. При содержании связующего менее 40 мас.% получаемый материал обладает недостаточной механической прочностью и стабильностью электрических параметров, поскольку сжатие монокристаллов связующим материалом слабое и при разрушении VO2 возможна деградация электрических параметров. При содержании связующего более 99 мас.% изготовление материала экономически нецелесообразно, так как необходима многократная ориентация материала при резке. Для изготовления полупроводникового материала монокристаллический VO2 помещают в жидкую массу связующего, включающего эпоксидную диановую смолу и аминный отвердитель, и отверждают при комнатной температуре или при нагревании. П р и м е р 1. 100 вес.ч. эпоксидной смолы ЭД-20, содержащей 21,8% эпоксидных групп, смешивают с 1,2 вес.ч. 2,4,6-трис-фенол-диметиламинометила. В полученное связующее добавляют 5,33 вес.ч. монокристаллического VO2, затем смесь вакуумируют в течение 10-15 мин для удаления пузырьков воздуха. Отверждение осуществляется при комнатной температуре в течение суток. П р и м е р 2. 100 вес.ч. эпоксидной смолы ЭД-16, содержащей 15,2% эпоксидных групп, смешивают с 10 вес.ч. полиэтиленполиамина при 40-60оС. В полученное связующее добавляют 19,41 вес.ч. монокристаллического VO2, затем смесь вакуумируют в течение 10-15 мин для удаления пузырьков воздуха и отверждают при 80оС в течение 8-10 ч. П р и м е р 3. 100 вес.ч. эпоксидной смолы ЭД-20, содержащей 21,8% эпоксидных групп, смешивают с 10 вес.ч. полиэтиленполиамина. В полученное связующее добавляют 73,33 вес.ч. монокристаллического VO2, затем вакуумируют в течение 10-15 мин для удаления пузырьков воздуха и отверждают при комнатной температуре в течение 5 суток. Из полученных согласно примерам 1-3 материалов вырезают элементы, представляющие собой часть монокристалла VO2, находящуюся в окружении связующего, включающего эпоксидную диановую смолу и аминный отвердитель. Испытание термоциклированием материалов, указанных в примерах 1-3, показало, что после 104 термоциклов изменение электросопротивления составило до 30%, тогда как известный монокристаллический материал на основе VO2 после 6 термоциклов разрушился. Таким образом, предложенный полупроводниковый материал обладает повышенной стабильностью и механической прочностью и выдерживает значительное число термоциклов.


Формула изобретения

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ МАТЕРИАЛ ДЛЯ ПЕРЕКЛЮЧАЮЩИХ ЭЛЕМЕНТОВ И КРИТИЧЕСКИХ ТЕРМОРЕЗИСТОРОВ, включающий монокристаллический диоксид ванадия, отличающийся тем, что, с целью повышения стабильности и механической прочности, он дополнительно содержит связующее на основе эпоксидной диановой смолы при следующем соотношении компонентов, мас.%:
Диоксид ванадия - 1 - 60
Связующее - Остальное



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области полупроводниковой электроники и может быть использовано в вычислительной технике, средствах связи и устройствах автоматики и телемеханики

Изобретение относится к полупроводниковой электронике и вычислительной технике и может быть использовано при построении запоминающих устройств, переключателей

Изобретение относится к области микроэлектроники, в частности, к полупроводниковым приборам, обладающим эффектом памяти при выключенном питании

Изобретение относится к полупроводниковой электронике и вычислительной технике и используется при построении запоминающих устройств, переключателей

Изобретение относится к устройствам для измерения температуры, а именно температуры поверхности, и может использоваться в качестве датчика температуры для измерения нагрева поверхности двигателя внутреннего сгорания

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при разработке малогабаритных полупроводниковых высокочувствительных преобразователей деформации и температур

Изобретение относится к методам электрических измерений температуры
Наверх