Экзаменатор для исследования уровня

Авторы патента:

G01C25 - Изготовление, калибровка, чистка или ремонт приборов и устройств, отнесенных ко всем вышеуказанным группам данного подкласса (испытание, юстировка, балансировка компасов G01C 17/38)

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВМДЕТЕДЬСТВУ (6l) Дополнительное к авт. свид-вувЂ” (22) аввлено 190678 (21) 2632539/18-10 с присоединением заявки Йо (23) Приоритет

Опубликовано 2511.79. Бюллетень 4 3

Дата опубликования описании 281179

Союз Советскии

Социалистических

Республик (1)699325 (51) М. Кл.2

G 01 С 25/00

Государственный комитет

СССР ио делам изобретений и открытий (5З) УД 528. 52 (088. 8) (72) Автор изобретения

E.П.Харитонов

Новосибирский институт инженеров геодезии, аэрофотосъемки и картографии (71) Заявитель (54) ЭКЗАМЕНАТОР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ УРОВНЯ

Изобретение относится к геодезическому приборостроению и может быть использовано для исследования уровней при изготовлении (преимуществен- 5 ная область использования вЂ” исследование высокоточных уровней) .

Известные экзамена-.îpû для исследования уровня не позволяют с высокой точностью получить значение цены каждого деления уровня. Для получения среднего значения цены деления уровня необходимо произвести большой объем математической обработки.

Для исследования уровней при изготовлении применяется экзаменатор, на площадке которого устанавливается испытуемый уровень (1).

Известное. устройство для исследования уровня позволяет с высокой точ- 2О ностью определить только усредненное для всей шкалы ампулы значение цены деления, причем после сложной обработки. Значение цены деления отдельного деленИя уровня можно определить с точностью 0,1 Г, где =- цена. деления уровня, потому что отсчеты по концам пузырька берутся до десятых долей деления шкалы. При Г= 10 точность определения 1 .

Цель изобретения вЂ” определение цены каждого деления уровня и сокращение объема обработки.

Поставленная цель достигается тем, что площадка экзаменатора снабжена направляющими, по которым перемещается через реечную передачу вдоль ампулы испытуемого уровня контактная призма, положение которой фиксируется часовой индикаторной головкой.

На чертеже приведена схема предлагаемого экзаменатора.

da платформе l балки 2, имеющей перемещение относительно станины 3 экзаменатора под действием измерительного винта 4, установлены подставки 5 для испытуемого уровня 6, напрвляющие 7, держатель 8 индикаторной головки 9, щуп 10 которой контактирует с зубчатой рейкой 11, несущей контактную призму 12 и имеющей перемещение по направляющим 7 под действием шестерни 13, укрепленной на одной оси 14 с барабанчиком 15.

Пунктиром показан ход лучей от концов пузырька уровня в контактной призме и изображение этих концов.

Исследование заключается в том, что после наклона площадки экэамена699325

Формула изобретения

Составитель Л. Позднеева

Редактор Т.Иванова Техред О.Андрейко Корректор Е. Папп

Заказ 7429/43 Тираж 844

IJÍÈHÏÈ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Филиал ППП Патент, r.ужгород, ул.Проектная, 4 тора измерительным винтом на известный угол, через реечную передачу перемещают контактную призму до совмещения изображений концов пузырька уровня и берут отсчет по индикаторной головке.

В устройстве измерение смещения пузырька уровня при наклоне ампулы на известный угол осуществляется ча совой индикаторной головкой в совокупности с контактной призмой. Причем здесь на измеряемую цену деления не влияет погрешность нанесения штрихов делений. Погрешность наведения призмы на середину пузырька в 10 мкм при цене деления уровня = 10 на

2 мм вызывает погрешность Ф определения цены каждого деления, найденной из пропорции

10 вЂ” 2 мм

0,01 мм

Устройство позволяет определить цену каждого деления с .r = 0,05 .

По графику уклонений цены деления от номинального значения можно судить о качестве шлифовки ампулы уровня.

Таким образом, повышается точность исследования и упрощается обработка результатов.

Экзаменатор для исследования уровня, содержащий площадку с подставками для испытуемого уровня, установленную с возможностью перемещения посредством измерительного винта относительно станины, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью определения цены каждого деления уровня и сокра15 щения объема обработки площадка экУ заменатора снабжена направляющими для перемещения через реечную передачу вдоль ампулы испытуемого уровня призмы, положение которой фиксируется часовой индикаторной головкой.

20 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Елисеев С.В. Геодезические инструменты И приборы, М., Недра, 1973, с. 107 (прототип)..

Способ проверки момента трения опор поплавкового гироприбора // 657706

Устройство для выставки прибора относительно базиса // 627320

Способ устранения пузырей в заполненных жидкостью точноизмерительных приборах // 607104

Измеритель моментов гиродвигателя // 599592

Способ прогнозирования отказа гиродвигателя // 591036

Тест-объект для фотограмметрической калибровки съемочных камер // 553447

Устройство для заполнения гироскопических приборов жидкостью // 468091

Патент 433341 // 433341

Устройство для поверки параллельности визирной оси глухого нивелира и оси его уровня // 424008

Способ определения коэффициента качества динамически настраиваемого гироскопа // 2111456

Изобретение относится к точному приборостроению

Способ калибровки датчика угла электростатического гироскопа // 2114396

Способ контроля дрейфа гироскопического прибора // 2115094

Изобретение относится к гироскопическим приборам, а именно к способам контроля дрейфера гироприборов (одноосного гиростабилизатора - ОГС) на подвижном основании

Способ проверки работоспособности трехстепенного гироскопа с электрической пружиной // 2117917

Изобретение относится к системам управления и ориентации космического аппарата (КА), в частности к бесплатформенным гироориентаторам

Способ регулирования в составе гиростабилизатора динамически настраиваемого гироскопа и динамически настраиваемый гироскоп // 2120109

Способ калибровки гироскопов // 2121134

Способ изготовления электродной системы на сферической поверхности вакуумной камеры электростатического гироскопа // 2127868

Проекционное устройство для формирования изображения на полусферической поверхности // 2135956

Способ исправления угла i одновременно у трех нивелиров // 2138779

Изобретение относится к геодезическому приборостроению и может быть использовано для определения и исправления угла i у нивелиров всех типов

Способ изготовления рельефных рисунков на сферических поверхностях и устройство для его осуществления // 2140623

Изобретение относится к области точного приборостроения, а именно к технологии изготовления рельефных рисунков различного функционального назначения, например, при изготовлении чувствительных элементов электростатических гироскопов (ЧЭ ЭСГ)