Станок для притирки мерительных поверхностей микрометров

 

Класс 67а, ),", № 79447

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

В. М. Волков и Б. M. Овечкин

СТАНОК ДЛЯ ПРИТИРКИ МЕРИТЕЛЬНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ

МИ КРОМЕТРОВ

Заявлено 3 алреля 1949 г. за М 394945 в Гостехннку СССР

Известны притирочные станки для обработки мерительных IIOBcpx ностеи микрометров с применением плоских притиров, вращающихся вокруг своей оси и совершающих плоско-поступательное круговое движение от поводковой плиты, приводимой в движение двумя кривошипами.

Недостатком таких станков является не совсем точная притирка плоскостей вследствие того, что центры вращаю цихся притиров перемещаются по постоянной траектории и образуют след на обрабатываемой поверхности

В описываемом станке этот недостаток устранен тем, что притир снабжен наружным зубчатым венцом, сопряженным с внутренним зубчатым венцом поводка, укрепленного на плите. Вследствие обкатывающего движения венца притира и по венцу поводка достигается постоянное смешение пути притира, обеспечивающее равномерную обработку всей поверхности.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема притнрочного станка; на фиг. 2 — поводок с зубчатым притиром, внд сверху.

Станок состоит из поводковой плиты 1, расположенной в горизонтальной плоскости в направляющих 2 и получающей плоско-поступательное круговое движение от кривонп1пов 3. Последние смонтированы на двух вертикальных валиках 4, снабженных шестернями 5 н связанных через общую ведущую шестерню 6, вал 7 и коническую пару 8 и 9 с приводным валом 10, вращающимся от электродвигателя.

На периферии плиты укреплены поводки 11, снабженные зубчатым внутренним венцом (фиг. 2). Притир 12 cнабжен наружным зубчатым венцом, посредством которого он сопряжен с поводком. Венец поводка и венец притира имеют некратные между собой числа зубцов, Зажимные приспособления 18 для микрометров 14 установлены вокруг плиты на неподвижном столе 15 станка.

Притиры, сцепленные зубчатыми венцами с зубчатыми венцами поводков, устанавливаются по плоскостям микрометров и поджимаются микрометрическими винтами.

Станок для притирки мерительных поверхностей микрометров 

 

Похожие патенты:

Притир // 2119422
Изобретение относится к технологии абразивной обработки и может быть использовано преимущественно на операциях доводки, а также шлифования и полирования плоских, плоскопараллельных, цилиндрических и сферических поверхностей

Изобретение относится к области отделочной обработки плоских прецизионных поверхностей, в частности к химико-механическому полированию пластин кремния большого диаметра
Наверх