Подложка для исследования политерм поверхностного натяжения металлических расплавов
ня оте
ИЗОБРЕТЕНИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик
< 7ОО824
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 0206.78(21) 2623193/18-25 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет—
К„г
G 01 Н 13/02
Государственный комитет
СССР ио делам изобретений и открытий (53) УДК 543. 542 (088.8) Опубликовано 30.11.79 Бюллетень № 44
Дата опубликования описания 12.1279 (72) Автор изобретения
Д. Т. Озниев (71) Заявитель
Чечено-Ингушский государственный университет (54) ПОДЛОЖКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОЛИТЕРМ ПОВЕРХНОСТНОГО
НАТЯЖЕНИЯ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ РАСПЛАВОВ
Изобретение относится к области исследования физико-химйческих свойстй жидкостей, а более конкретно к устройствам для исследования политерм поверхностного натяжения металлических расплавов методом лежащей капли °
Известны подложки, выполненные в виде плоских пластин с отшлифованной горизонтальной поверхностью, на которой покоится капля исследуемой жидкости (1) . Такие подложки не позволяют получить каплю строго симметричной формы, отклонение от которой приводит к резкому повышению ошибки измерения 5 поверхностного натяжения жидкости.
В связи с этим предложены, подложки, имеющие форму тел вращения с поверхностью, ограниченной кольцевым ребром, расположенньм в горизонтальной О плоскости, на которой принудительно формируется капля симметричной формы.
Наиболее близким к изобретению техническим решением является подложка, содержащая емкость, ограниченную острым кольцевым ребром, на которой принудительно формируется капля исследуемого расплава (2).
Как известно, диаметр кольцевого ребра подложки функционально зависит оТ величины поверхностного натяжения и плотности расплава при прочих равных условиях. В связи с этим, при переходе от одного исследуемого сплава к другому, возникает необходимость менять подложки, в особенности когда исследуются сплавы, существенно различающиеся по величине:поверхностного натяжения и плотности.
Замера подложки, находящейся, -например, в вакуумной камере и в условиях сверхвысокого вакуума, связана с большими трудностями и требует много времени. Например, разгерметизация камеры с целью замены подложки, замена ее и проведение вакуумной обработки перед новой серией экспериментов занимает в среднем 15-20 ч. Если учесть необходимость изготовления и калибровку каждой новой подложки, то на это уходит примерно 30-40 ч. Кроме того,, отклонения в размерах, допущенные во время изготовления подложки, при калибровке и термовакуумной обработке ее, могут вызвать ошибки в измерении поверхностного натяжения, которые по величине в отдельных случаях намного превышают сшибки самой мет одик и и э мерен и я.
700824
Формула изобретения
Яие. 2
7ив. g
ЦНИИПИ Заказ 7386/35
Тираж 1073
Подписное
Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
Указанные выше недостатки не позвбляют точно измерять поверхностное натяжение в широком диапазоне концентраций двух-или многокомпонентных расплавов в одних и тех же условиях эксперимента, Целью изобретение является повышение достоверности результатов исследования и сокращение времени проведе-. ния эксперимента.
Для этого подложка снабжена обе4айкой с несколькими кольцевыми ребрами разных диаметров, расположенны ки в одной плоскости, образуя, как бы подложку с ребром дискретно-переменного диаметра (ф„<ф <...Сфд) . Нижняя плоскость обечайки выполнена стро-15 го параллельно плоскости, проходящей через острые кромки ребер, для неПосредственного контроля за горизонтальным положением подложки во время пров едени я эк сперимента, к огда острые кромки ребер закрыты исследуемой каплей расплава.
На фиг. 1 представлена подложка, в разрезе; на фиг. 2 - то же,в плане.
Подложка содержит основание 1 с, 25 углублением, образующим емкость 2, и обечайки 3 с ребрами разных диаметров.
Подложку используют следующим образом.
УстановИв подложку так, чтобы кромки ребер совпадали с горизонтальнойй плоск ост ью, наливают ис следу емый расплав в емкость 2 до образования капли наименьшего диаметра. 35
Пут ем ф от ографировани я профиля капли и обмера фотоснимков определяют оптимальность характеристик параметров. В случае несоответствия оптимальности, добавляя исследуемый 40 расплав, получают каплю на следующем ребре и снова проверяют. операции повторяют до тех пор, пока не получают каплю оптимальных размеров, ко торая необходима для более точного измерения поверхностного натяжения
IIo известной методике.
Предлагаемая подложка позволяет исследовать поверхностное натяжение расплавов в широком интервале температур и, концентраций и намного уск ор яет процесс пров еден и я иссл едований, так как не заменяя подложку, можно проводить измерение поверхностного натяжения нескольких сплавов в одних и тех же условиях. Для изготовления подложки необязательно знать заранее приближенные значения поверхностного натяжения и плотности, по которым оценивается размер подложки.
Данная подложка позволяет контролировать горизонтальность pclcII0JIo жения кольцевых ребер в процессе эксперимента, ведя наблюдение за нижней плоской поверхностью обечайки, которая параллельна плоскости, проходящей через острые кромки ребер. одинаковость условий эксперимента и строгий контроль =-a горизонтальностью подложки повышает достоверность результатов .измерения.
Подложка для исследования политерм поверхностного натяжения металличес" ких расплавов, содержащая. емкость с одним кольцевым ребром, о т л и— ч а ющ а я с я тем, что, с целью повышения достоверности результатов исследования и сокращения времени проведения эксперимента, она снабжена обечайкой с несколькими кольцевыми ребрами разных диаметров, расположенными в одной плоскости, причем нижняя плоскость обечайки выполнена строго параллельно плоскости, проходящей через острые кромки ребер.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1 . Авт орск ое св идет ель ст в о С CCP
Ф 276509, кл. G 01 N 13/02, 1969, 2. Сб. Поверхностные явления s растворах и возникающих из них твердых фазах Нальчик, 1965, с. 212.
