Устройство для измерения толщины металлических покрытий

 

(»! 724918

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Cowceg

Ййиалистическик

Республик (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 09.10.78 (21) 2672661/18-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.03.80. Бюллетень № 12 (45) Дата опубликования описания 30.03.80 (51) М, Кл.

G 01В 7/06

Госудаустненный комитет

СССР но делам изобретений и открытий (53) УДК 531.717 (088.8) (72) Авторы изобретения Н. И. Давыдов, А.,А. Капитонов, Л. E. Гудина и Н. И. Чернышев (71) Заявитель Пензенский филиал Всесоюзного научно-исследовательского и технологического института приборостроения (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛШИНЫ

МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборостроении и машиностроении.

Известно устройство для измерения толщины покрытий, основанное на кулономет- 5 рическом методе, содержащее электролитический зонд, стабилизированный источник тока, пороговый элемент, электронный ключ, генератор импульсов и счетчик (1).

Недостатком данного устройства является 10 низкая точность измерения.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является устройство для измерения толщины металлических покрытий, содержащее электролитический зонд, 1 стабилизированный источник тока, подключенный к зонду, блок памяти, входом соединенный с зондом, пороговый элемент, вход которого подключен к зонду, усилитель, входом соединенный с выходом блока памяти, а выходом — с управляющим входом порогового элемента, и реле времени, выходом подключенное к управляющему входу блока памяти (2).

Недостатком известного устройства является невысокая точность измерения, вызванная изменением момента фиксации окончания растворения покрытия на различных участках, вследствие различия микропрофиля основы, на которую нанесено покрытие. 30

Цель изобретения — повышение точности измерения.

Для этого предлагаемое устройство для измерения толщины металлических покрытий снабжено эталонным резистором, включаемым между стабилизированным источником тока и основой, на которую нанесено измеряемое покрытие, управляемым резистором, входом соединенным с эталонным резистором, дополнительным усилителем, выход которого соединен с управляющим входом управляемого резистора, блоком вычитания, выход которого соединен с входом дополнительного усилителя, первый вход соединен с выходом блока памяти, а второй вход — с зондом, интегратором, информационный вход которого соединен с выходом управляемого резистора, и блоком задержки, вход которого подключен к выходу порогового элемента, и выход — к управляющему входу интегратора.

На чертеже приведена блок-схема устройства.

Устройство содержит электролитический зонд 1, стабилизированный источник 2 тока, блок 3 памяти, усилитель 4, пороговый элемент 5, реле 6 времени, эталонный резистор

7, управляемый резистор 8, дополнительный усилитель 9, блок 10 вычитания, интегратор

11, блок 12 задержки, 724918

Устройство работает следующим образом.

При включении источника 2 тока через электролитический зонд 1 начинает протекать ток. По окончании переходного процесса в электролитическом зонде 1 реле 6 времени выдает сигнал на блок 3 памяти, который запоминает установившееся значение напряжения на зонде 1. С выхода блока 3 памяти напряжение поступает на один из входов блока 10 вычитания и через усилитель 4 — на управляющий вход порогового элемента 5. На второй вход блока 10 вычитания и на сигнальный вход порогового элемента 5 поступает напряжение с электролитического зонда 1, В течение всего времени растворения на эталонном резисторе 7 присутствует напряжение, которое через управляемый резистор

8 поступает на вход интегратора 11.

Коэффициент передачи К управляемого делителя, состоящего из эталонного 8 и управляемого 9 резисторов, поддерживается таким, чтобы в течение всего времени раст покр варения выполнялось равенство К= †" "

Я где 5,„р — текущее значение площади растворенного покрытия; 5 — площадь контролируемого участка.

При частичной перфорации покрытия часть тока, протекающего через электроли- тический зонд 1, идет на растворение основы, однако 5,„р=, 5, К(1, и интегратор 11 интегрирует сигнал, пропорциональный току, идущему на растворение покрытия. При полной перфорации покрытия $,о,р=0, и сигнал на входе интегратора 11 равен нулю, что соответствует полному растворению контролируемого покрытия.

Вследствие неидеальности элементов, входящих в управляемый делитель, реальный диапазон изменения передачи лежит ориентировочно в пределах 0,01<К<0,99, поэтому, чтобы исключить погрешность, введен блок 12 задержки.

При превышении напряжения на электролитическом зонде 1 порогового напряжения, поступающего с выхода усилителя 4, срабатывает пороговый элемент 5, который запускает блок 12 задержки, который задерживает сигнал на время, достаточное для полного растворения контролируемого покрытия, после чего производится отключение входа интегратора 11 от выхода управляемого резистора 8.

Ввиду того, что в описанном толщиномере покрытий производится полное растворение покрытия и при этом учитывается только та часть тока электрического зонда, которая идет на растворение покрытия, точность изIp мерения повышается.

Формула изобретения

Устройство для измерения толщины ме11 таллических покрытий, содержащее электролитический зонд, стабйлизированный источник тока, подключенный к зонду, блок памяти, входом соединенный с зондом, пороговый элемент, вход которого подключен к зонду, усилитель, входом соединенный с выходом блока памяти, а выходом — с управляющим входом порогового элемента, и реле времени, выходом подключенное к управляющему входу блока памяти, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью повышения точности измеренйя, оно снабжено эталонным резистором, включаемым между стабилизированным источником тока и основой, на которую нанесено измеряемое покрытие, упЗп равляемым резистором, входом соединенным с эталонным резистором, дополнительным усилителем, выход которого соединен с управляющим входом управляемого резистора, блоком вычитания, выход которого соединен с входом дополнительного усилителя, первый вход соединен с выходом блока памяти, а второй вход — с зондом, интегратором, информационный вход которого соединен с выходом управляемого резистора, и блоком задержки, вход которого подключен к выходу порогового элемента, а выход — к управляющему входу интегратора.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 462062, кл. G 01В 7/06, 1973.

2. Авторское свидетельство СССР по заявке № 2639522/18-28, кл. G 01В 7/06, 50 1978 (прототип).

724918

Составитель В. Николаев

Редактор О. Юркова Техред А. Камышникова Корректоры: Т. Трушкина и А, Степанова

Заказ 352/7 Изд. Ме 211 Тираж 810 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Устройство для измерения толщины металлических покрытий Устройство для измерения толщины металлических покрытий Устройство для измерения толщины металлических покрытий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх