Способ спектрального исследования излучения

 

(ц 724942

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 28.09.78 (21) 2669128/18-25 с присоединением заявки Ме (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.03.80. Бюллетень г"е 12 (45) Дата опубликования описания 30.03.80 (51) М. Кл.

G 01J 3/26

Государственный комитет (53) УДК 535.8(088.8) по делам изобретений и открытий (72) Автор изобретения

В. В. Рагульский

Институт проблем механики АН СССР (71) Заявитель (54) СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО ИССЛЕДОВАНИЯ

ИЗЛУЧЕНИЯ

Еч = — "г, U

Изобретение относится к спектральному исследованию оптического излучения, в спектрах которого содержатся линии с резко различающейся интенсивностью.

Известны (11 способы спектрального исследования излучения с помощью интерфер ометр ов.

Наиболее близким к изобретению техническим решением является способ (2) спектрального исследования излучения, включающий его пропусканпе через интерферометр, формирование излучения с обращенным волновым фронтом п пропускание в обратном направлении, при этом поворот светового пучка производят при помощи призмы полного внутреннего отражения или зеркала.

К недостаткам способа можно отнести слабую контрастность интерференционной картины и необходимость обеспечения высокой точности изготовления оптических элементов, поворачивающих пучок, и их прецезионность настройки.

Целью изобретения является увеличение контрастности интерференционной картины и упрощение юстировки оптических элементов, поворачивающих пучок.

Эта цель достигается благодаря тому, что из пучка света, прошедшего интерферометр, формируют излучение с обращенным волновым фронтом при помощи возбуждения вторичного излучения, например, типа Мандельштама — Бриллюэна, которое пропускают в обратном направлении через тот же пнтерферометр, а затем отделяют его от ис5 ходного излучения.

Чертеж поясняет предлагаемый способ.

Пучок линейно поляризованного света с длиной волны = 0,694 мкм последовательно пропускают сквозь поляризатор 1 (напри10 мер, диэлектрическое зеркало, расположенное под углом к пучку), интерферометр типа Фабри — Перо 2 с базой t =26 мм, четвертьволновую пластину 3 и искажающую волновой фронт фазовую пластину 4. Затем

15 с помощью линзы 5 пучок направляют в световод 6, заполненный жидким сероуглеродом, где развивается вынужденное рассеяние на гиперзвуковых волнах (тппа Мандельштама — Бриллюэна), в ходе которого происходит обращение волнового фронта. В этом процессе спектральный состав излучения не меняется, а частота всех спектральных линий сдвигается на постоянную величину

25 где V u U — скорость гиперзвуковых волн и скорость света в среде;

30 v — средняя частота света.

724942

Формула изобретения

Составители А. Смирнов

Редактор Н. Коляда Техред А. Камышникова Корректор Л, Тарасова

Заказ 145/16 Изд. ¹ 210 Тирах< 729 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретешш и открытий

113035, Москва, )К-35, Раудискал наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Сдвиг Лз = 0,194 см †при рассеянии в сероуглероде излучения с указанной длиной волны. Этот сдвиг равен области дисперсии

1 используемого интерферометра и по

2 этому не влияет на анализ света при прохождении рассеянного света через интерферометр.

Рассеянный назад свет после прохождения фазовой и четвертьволновой пластины имеет обращенный волновой фронт и поляризацию, перпендикулярную исходной, и поэтому после прохождения интерферометра в обратном направлении этот свет отводится поляризатором в сторону от исходного пучка, где его анализируют.

Способ позволяет увеличивать контрастность интерференционной картины, получаемой от интерферометра без использования аппаратуры, требующей высокой точности изготовления и настройки. Тем самым он позволяет снизить потребность в дорогостоящих оптических элементах и уменьшить затраты на проведение спектральных исследований. Способ может применяться как в видимой, так и в инфракрасной и упьтрафиолетовой областях спектра.

Способ спектрального исследования излучения, заключающийся в пропускании его срез иитерферомстр, формировании излучения с обращенным волновым фронтом и пропускании в обратном направлении, о тл и и а 1о щи йс я тем, что, с целью увеличения контрастности интерференционной картины, формируют излучение с обращенным волновым фронтом ири помощи возбуждения вторичного излучения, например, типа

Мандельштам — Бриллюэна, которое пропускают в обратном направлении через тот же иитерферометр, а затем отделяют его от исходного излучения.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Зайдель A. Н. и др. Техника и практика спектроскопии, М., 1972, с. 180.

2. Зайдель Л. Н. и др. Техника и практика спектроскопии, М., 1972, с. 181 †1.

Способ спектрального исследования излучения Способ спектрального исследования излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области астрофизических измерений и может быть использовано для мониторинга одного из важнейших параметров солнечного изображения, а именно функции потемнения к лимбу

Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано при построении приборов для спектральной фильтрации оптических изображений, например, перестраиваемых по длине волны оптических фильтров, тепловизоров, работающих в заданных узких спектральных диапазонах

Изобретение относится к оптике, к оптическим устройствам, основанным на использовании явлений интерференции световых потоков, например, резонаторов Фабри-Перо, применяемых в научных исследованиях и технике для спектрального анализа и монохроматизации света

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к технической физике, в частности к оптическому приборостроению, предназначено для долговременных наблюдений астрономических источников на заданной длине волны и может быть использовано в метеорологии, в ядерных исследованиях и при спектральных исследованиях лабораторных источников

Изобретение относится к технике измерения оптическими методами корреляционных функций когерентности турбулентных сред, находящихся между источником света и интерферометром

Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к интерференционным приборам, предназначенным для сканирования спектра при спектральном анализе оптического излучения с высокой точностью и хорошей разрешающей способностью, его можно использовать в качестве сканирующего и перестраиваемого интерферометра Фабри-Перо, а также для селекции продольных мод излучения лазеров
Наверх