Способ магнитографического контроля
ОП ИКАНИЕ „„785726
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советскмк
Соцмапмстмческмн
Респубпмк (61) Дополнктельпое к «вт. свил-ву (22 ) 3 а я вл е но 07.08.78 (21 ) 2653275/25-28 (51)М. Кд.
Э с присоединением заявки.%
G 01 1ч 27/85
Гасударственный комитет (23) Приоритет— ло делам изобретении и открыткй
Опубликовано 07.12.80 Бюллетень,% 45
Дата опубликования описания 07.12.80 (53) УДК 620.179, .14 (0888) (72) Авторы изобретения
А. М. Шарова, В. А. Новиков, В. П. Куликов и il, М. Хилииская (71) Заявитель
Могилевский машиностроительный институт (54) СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО
КОНТРОЛЯ
Изобретение относится к способам магнитной дефектоскопии и может быть использовано нри контроле качества иэделий иэ ферромагнитных материалов.
Известен способ магнитографического койтро
S ля изделий из ферромагнитных материалов на наличие поверхностных и подповерхностных дефектов, заключающийся в том, что осуществляют намагничивание контролируемого изделия, переносят намагниченный рельеф поверхности иэделия иа ферромагнитный носитель, контактирующий в процессе контроля с поверхностью изделия, и считывают с носителя информацию о магнитном рельефе, по которой судят о наличии дефектов (1).
Недостатком его является низкая чувствитель ность контроля сварных соединений, а также значительный расход мощности.
Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ магйитографического контроля изделий из ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что контролируемое изделие намагничивают, протягивают со скольжением по поверхности изделия ферро2 магнитный носитель и считывают с него информацшо о магнитном рельефе поверхности изделия (23.
Недостатком его является значительный расход мощности, а также низкая чувствительность контроля сварных соединений, Значительный расход мощности объясняется необходимостью регулирования интенсивности подмагничивания ленты намагничиваюшим устройством. Низкая чувствительность контроля объясняется также тем, что тангенциальная составляюшая поля дефекта, которая в основном дает информацию о дефектах сплошности контролируемого изделия при магнитографическом контроле, достигает своего наибольшего значения HR некоторой высоте над поверхностью иэделия. Причем эта высота зависит от размеров дефекта, Магнитная же лента укладывается на поверхность изделия.
Целью изобретения является повышение чувствительности контроля.
Это достигается тем, что магнитоноситель располагают под углом к поверхности изделия.
Кроме того, в качестве ферромагнитного носителя используют гофрированную магнитную лен3 78 ту, интенсивность подмагничивания магнитного носителя регулируют, изменяя угол его наклона к поверхности изделия, а угол наклона магнитного носителя а выбирают в пределах 60 <
< а< 90 .
На фиг. 1 схематично показана запись поля дефекта на магнитную ленту при предлагаемом способе контроля; иа фиг. 2 — зависимость сигнала, считываемого с лепты, помещенной в однородное магнитное поле, от угла наклона плоскости ленты к вектору напряженности поля; на фиг. 3 — один из возможных вариантов исполнения магнитной ленты для осуществления контроля предлагаемым способом, Способ реализуют следующим образом, На контролируемое изделие укладывают подложку 2, а на нее — ферромагнитный носитель, выполненный в виде гофрированной магнитной ленты 3.
Магнитную ленту 3 располагают под углом а к вектору напряженности подмагничивающего поля Н . Изменяя угол а в пределах 60-90, изменяют интенсивность подмагничивания ленты.
Вектор напряженности поля дефекта Н направлен по касательной к силовой линии и образует различные углы с плоскостью магнитной ленты, в том числе и 0 < а < 60, где поле дефекта записывается практически, не уменьшаясь по сравнению с записью для случая, когда а = О.
При перемещении ленты, расположенной наклон. но к поверхности иэделия, со скольжением на ленту записывается поле дефекта в том месте, пространства, где тангенциальная составляющая
его наибольшая.
При использовании гофрированной ленты для контроля шва предварительно на поверхности иэделия 1 со швом укладывают клейкую подложку 2, а на нее — гофрированную ленту 3.
Угол наклона гофр по отношению к контроли5726 4 руемой поверхности равен 75 . 11осле записи ленту распрямляют и считывают на дефектоско° пе.
Использование предлагаемого способа магнитографического контроля позволит повысить чувствительность контроля и сэкономить расходуемую мощность.
Формула изобретения
1. Способ магнитографического контроля иэделий из ферромагнитных материалов, заключающийся в том, что контролируемое изделие намагничивают, протягивают со скольжением по поверхности изделия ферромагнитный носитель и считывают с него информацию о магнитном рельефе поверхности иэделия, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения чувствительности контроля, магнитоноситель располагают под углом к поверхности иэделия.
2, Способ по п. 1, отличающийся тем, что в качестве ферромагнитного носителя используют гофрированную магнитную ленту, 3. Способ по w. 1 и 2, о т л и ч а юшийся тем, по интенсивность подмагничивания магнитного носителя регулируют, изменяя угол его наклона к поверхности изделия.
4, Способ по пп. 1 — 3, о т л и ч а юшийся тем, что угол наклона магнитного носителя а выбирают в пределах 60 Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР N 102537, кл, 6 01 N 27/82, 1952. 2. Авторское свидетельство СССР в- 241783, кл. G 01 N 27/82, 1966 (прототип). 785726 Составитель И. Кесоян Техред А. Щепанская Корректор М. Вигула Редактор Ж. Рожкова Заказ 8832/46 Тираж 1019 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/S Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, уп. Проектная, 4
