Прибор для количественного определения качества отражателей в светооптическом отношении

 

,% 84210

Класс 424, 35о1 ссср

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ЗАВИСИМОМУ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

В, В. Новиков и Л. Н. Скрипкарь

ПРИБОР ДЛЯ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА

ОТРАЖАТЕЛЕЙ В СВЕТООПТИЧЕСКОМ ОТНОШЕНИИ

Заявлено 10 мая 1948 г. за М 379272 в Комитст по изобретениям и открытиям гри Совете Министров СССР

Основное авт. св. X 44705 от 5 мая 1935 г. на имя В. В. Новикова

В основном авт. св. ¹ 44705 описан прибор для количественного определения качества отражателей в светооптическом отношении, снабженный двумя интегрирующими шарами и расположенным между ними фотометрическим кубиком с визирной трубкой, служащей для сравнения яркости визируемого места одного полушара с яркостью визируемого места второго 1измеритсльпого) полушара.

Предлагаемый прибор является дальнейшим усовершенствованием указанного известного прибора; конструкция его дает Возможность произВОдить измерения Объективным способом, С этОЙ целью интегpllpA ;ощие шары снабжены индикаторными Окнами, ОСВсщснности которых замеряются фотоэлектрическим люксметром.

На чертеже изображена схема предлагаемого прибора.

Прибор имеет осветительную камеру 1, с расположенной в ее центре лампой накаливания, и два интегрирующих шара: шар сравнения

2, соединенный с осгстительной камерой, и несколько больший приемный шар 8.

Благодаря одновременно открывающимся ирисовым диафрагмам световой поток Fp, выходящий из прибора, равен световому потоку F„.

Входящему в шар сравнения, т. е.

Fp =

Прибор устанавливается перед отражателем 4 и ориентируется так, чтобы весь световой поток F, падал на испытуемый отражатель и посл отражения полностью попадал в приемньш шар 8. При среднем коэффициенте зеркального отражения „отраженный световой пото г

F1=,р0 с

Л 8 2 (() в шаре сравнения E„, Согласно теории IIIITerpilp ) Ioir(его шара

:(ых мсст в указанных шарах будст равна д/ в — ——

)Ђ !) освещенность индикатор в приемном шаре где . ),,„— площадь приемного шара; .,,„— площадь шара сравп(«ия: ! — и — — — коэффициенты, показывак)!п«с, какая доля сферы»вл I(тся интегратором:

) — коэффициент отражсни,l окра(.ки шаров ..)ти (ро!Змулы яв (я10тся Основными и используlотся как:I,.lÿ 8!Iзу.

; ль«ого, так «для объективного способа измерения.

Для визуа!!ы(ого способа измерения прибор имеет фотометричес кую головку 5 с фотометрическим клином 6, которым регулируется яркость индикаторного поля шара сравнения. Таким образом, яркости фотомстрпческих полей сравнения будут отвечать выражс-ниям: у приемного шара В „,, К„,),F,, у шара ср-внения В,.„К, . Р„, где т, — пропуска«не фотомстрич(ского равновсси» В „„В„,, и «и) ому, „=== К.г, f(a), где К постоянная прибора «и отсчст «о ««(а,!< фотомстричсс ()! )

l(r1 ина. для шара сравнения «,, ";W„,Е,.„-. И „,f „, для приемного шара (. „„.И„„Е „„--М „,,)"„;,;! 1!здел ив Одно !) a не«ство «;I . 1!))(Г()с . ««,1 i l им:

Ta1(как «PoIIУска1«!е T»,.(Ро 011(TPII»LcI(or() I(, IIIHH «a\IOII»cTc» «( пропорционально показанию прибора, то необходимо !юльзоваться градуированным графиком;„=-f а) . Градуировка прибора производится посредством градуировочного приспособления (с известным коэффициентом полезного действия), направляющего световой поток «рибора в приемный шар, и набора эталонных светофильтров, устанавливаемы; между фотометрическим кубиком и индиксlторпыми местами соотв(.тствукнцих шаров. При наличии градуировочного графика визуальное

Оп!)еделсние кОэф финнеl!та OTpa )кения отражателя «с требует )(и каки х вычислений. . (л)1 об ьсктивного способа измерения коэффициента отражс««Я и обеих шарах прибора спела;!ополнителы!О два интикатор«ых ок«п.

«срскрытых молочными стеклами. к которым прикладывается селе«о вый фотоэлемент. Отсчет и Iio шкале присосJJHIIBI«loro к фотоэг!Смс".!т) гальваномстра пропорциона lc«освсщсншк ти F. ««л«катор«ого мс,"! !.

Это приводит к следующим уравнениям:

Следовательно, искомый коэффициент отражения находится как произведение постоянной прибора M на отношение отсчетов по гальванометру.

Предмс изооретеllèÿ

Прибор для количественного определения качества отражате.ге в светооптическом отношснии по авт. св. № 44705, от л и ч а ю щи и с я тем, что, с целью измерений объективным способом, интегрирующие шары снабжены индикаторными окнами, освещенности которых замеряются фотоэлектрическим люксметром.

Прибор для количественного определения качества отражателей в светооптическом отношении Прибор для количественного определения качества отражателей в светооптическом отношении Прибор для количественного определения качества отражателей в светооптическом отношении 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для калибровок диаграмм направленности фотоприемных устройств

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения и калибровки диаграмм направленности светоизлучающих устройств, светодиодов, излучающих диодов инфракрасного диапазона волн и других светоизлучающих устройств оптического диапазона волн (фотоприемных устройств, фотодиодов), определения размеров и положения диаграмм направленности устройств

 // 410263

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения расстояния до места повреждения оптического кабеля и, в частности, для определения расстояния до места повреждения оболочки оптического волокна, для оценки зоны повреждения кабельной линии, длины кабельной вставки
Наверх