Способ измерения микроскопических объектов и отсчетный осветитель для осуществления этого способа

 

№ 85117

Класс 424, 14в5

СССР

% TP

Ь

1 я

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

С. Г. Гуревич и Н. С. Трухманова

СПОСОБ ИоМЕРЕНИЯ МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ И

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ ЭТОГО СПОСОБА

Заявлено 4 июля 1949 r. аа Х 400096 в Гостехннк СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» М 12 аа 1950 r.

При измерении микроскопических объектов последт ие обычно наблюда|отся увеличенными в заданное число раз, и измерение Нх элементов производитс > или по шкале на сетке нитей, имеющейся в 1IIQскости окуляра прибора, или с помощью сетки нитей и линейных шкал с кольцевыми нониусами, вдоль которых объектный столик имеет микроме1рическое движение. Однако известные сгособы не обеспечивают достаточной точности измерений.

В предлагаемом способе оптическое изображение шкалы, уменьшенное в заданное число раз, проецируют в плоскость наблюдаемых объектов, ко1орые подлежат измерению. Проекция изображения шкалы осуществляется с помощью отсчетногс освегителя, который выполнен из двух трубок, вставленных одна в другую.

На чертеже показано устройство для осуществления предлагаемого способа.

Устройство состоит из двух трубок, подвижно вставленных одна в другую. Одна из трубок 1.: а верхнем конце имеет резьбу для ввинчивания объектива микроскопа стандартного типа. Вблизи ее нижнего конца имеется стопорное гриспособление 2 для фиксации положения второй трубки 8, в верхнем конце которой неподвижно закреплена шкала, выполненная на прозрачном фоне 4 с прилегающим к пей молочгым стеклом б. На противоположном конце трубки 8 имеется осветительная лампочка б.

Верхний конец трубки 1 с помощью двух эксцентричных втулок 7 крепится в кольце 8, предназначенном в микроскопе для помещения конденсора.

Расстояние между опорной плоскостью, микрообъектива и шкалой составляет около 75 млт. Уменьшенное изображение шкалы проецируется микрообъективом 3 плоскость, где на предметном столике лежнг препарат. Оно фокусируется с помощью кремальеры конденсора и центрируется на оптической оси микроскопа при помощи двух эксцентричных втулок 7.

Путем соответствующего раздвижения трубок 1 и 3 шкала устанавливается на таком расстоянии от объектива, чтобы будучи освещена лампочкой б она изображалась уменьшенной в заданное число раз, что проверяется по эталону. После этого положение трубки 8 фиксируется стопорным приспособлением 2, н начинается наблюдение и измерение объекта.

Предмет изобретения

1, Гпособ измерения микроскопических объектов, о т л и ч а ю щ и йся тем, что, с целью повышения точности измерений, уменьшенное в заданное число раз оптическое изображение шкалы проецируют в плоскость оо ьектов, подлежащих измерению.

2. Устройство для осуществления способа по и. 1, отл и ч ающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, оно выполнено в виде двух входящих одна в другую трубок, из которых наружная верхним концом укреплена в кольце, предназначенном в микроскопе для конденсора и несет микрообъектив, а в верхнем конце второи трубки расположена шкала, нанесенная на стекло с молочным фоном, а в нижнем — осветительная лампочка. № 85l17

Редактор И. А. Рудакова Техред А. Кудрявицкая

Корректор И. А. Шпынева

Поди. к печ. 28/!! — 64 г. Формат бум. 70><108>/g6 Объем 0,18 изд. л.

Заказ 250/7 Тираж 200 Цена 5 коп, ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д,. 4.

Типография, пр. Сапунова, д. 2.