Способ определения адгезии жид-кости k подложке по смачиваемости

 

Союз Советскик

Социалистических республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (ii>800834 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 12. 02.79 (2 ) 2733286/25-28 (5t)М. Кл. с присоединением заявки ¹

01 N 19/04

3Ъвудврстввниый квмктвт

СССР (23) Приоритет

IIo делам нзввретений к аткрнтнй

Опубликовано 30. 01. 81. Бюллетень № 4

Дата опубликования описания 02.02.81 (53) УДK 620.179. .4(088.8) Г. Т. Петровский, А. В. Тулуб, Я. M. Бейтлин и E. К. Скалецкий (72) Авторы изобретения (7I) Заявитель (54) СПОСОВ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АДГЕЗИИ ЖИДКОСТИ

К ПОДЛОЖКЕ ПО СМАЧИВАЕМОСТИ!

Изобретение относится к испытаниям материалов, а именно к способам определения адгезии жидкости к подложке по смачиваемости.

Известен способ определения адгеэии жидкости к подложке, заключающийся в том, что на подложку наносят слой жидкости и определяют угол смачивания, по величине которого судят об адгеэии жидкости к подложке (1J.

Недостатком этого способа является низкая точность определения,. так как измерение угла смачиваемости производят в устойчивом состоянии жидкости на подложке, а под действием приложенной

1j на слой жидкости нагрузки измерение провести невозможно.

Наиболее близкий к предлагаемому способ определения адгезии жидкости к подложке по смачиваемости заключается в том, что между полированными поверхностями двух подложек размещают слой жидкости, прикладывают сжимающую нагрузку, измеряют микроскопические силы

2 взаимодействия Ван-дер-Ваальса как функцию величины контактного промежутка между подложками и определяют константы Гамакера микроскопических сил, по величинам которых судят об адгезии (2)

Недостатком этого способа является низкая точность определения, так как нет возможности непрерывно следить за процессом сближения поверхностей из-за наличия радиуса кривизны одной из контактирующих подложек.

Цель изобретения — повышение точности определения.

Укаэанная цель достигается тем, что на полированной поверхности одной из подложек выполняют выемку заданной глубины, прикладывают нагрузку до момента разрушения молекулярного контакта жидкости, определяют на каждом шагу измерения изменение расстояния контактного промежутка в области выемки, а константы Гамакера определяют экстраполяцией данных измерений по убываю р" = соль (д„-*)

LhOl р ) 30 где 1

5P„. емки;

Ф1 - глубина выемки; (T g) — параметры температуры и циэлектрической проницаемости

COASt — константы Гамакера (для

О 2) 4 =3 при сх uh и 4 =4 при

45 6„- со ).

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Зимон А. Q. Адгезия жидкости и смачивание. М., "Химия", 1974, 10-19.

3 800 щим и возрастающим последовательностям толщины из соотношения 1, " =conn<)(a„-И), Йа (T М где 3 — индекс шагов измерений; аР, - измерение усилий на каждом шагу измерения;

ЬЙ вЂ” изменение толщины молеку1 лярного контактного слоя;

Й вЂ” толщина молекулярного кон1 тактного слоя в области выемки;

h — глубина выемки; (T K)- параметры температуры и диэлектрической проницаемостии;

COAGt — константы Гамакера (для (Ti+) 4 =3 при и „-+ha g =-4 при

6,- îÎ )

Способ реализуется слецующим образом.

На полированной поверхности подложки выполняют выемку заданной глубины, наносят на эту поверхность слой жицкости, а сверку накрывают второй подложкой с полированной поверхностЬю. К подложкам прикладывают сжимающую нагрузку, измеряют расстояние контактного промежутка между подложками в области выемки цо момента разрушения молекулярного контакта жидкости с подложками и микроскопические силы взаимодействия Ван»дер-Ваальса как функцию величины кон- . тактного промежутка между подложками.

При этом константы Гамакера определяют экстраполяцией данных измерений по убывающим и возрастающим последовательностям измерений контактного промежутка межцу подложками в области выемки, с учетом температуры и циэлектрической проницаемости жидкости из соотношения " = Conehj(6„-*)

Аа (т В)

Выполнение выемки заданной глубины на полированной поверхности одной из подложек способствует сохранению молекулярного контакта жидкости с подложками в этой зоне и позволяет точно определить момент нарушения сплошности этого слоя. Точность определения констант

Гамакера повышается с увеличением шагов измерений в момент приложения сжимающей на груэки.

834 4

Формула изобретения

Способ определения адгезии жидкости к подложке по смачиваемости, заключающийся в том, что между полированными поверкностями двух подложек размещают слой жидкости, прикладывают сжимающую нагрузку, измеряют микроскопические силы взаимодействия Ван-дер-Ваальса в функции от расстояния контактного промежутка между подложками и определяют константы Гамакера микроскопическик сил, по величинам которых судят об адгеэии, отличающийся тем, что, с целью повышения точности опредеnews, на полированной поверхности одной из подложек выполняют выемку заданной глубины, прикладываюT нагрузку до момента разрушения молекулярного щ контакта жидкости, опрецеляют на кажцом шагу измерения изменение расстояния контактного промежутка в области выемки, а константы Гамакера определяют экстраполяцией данных измерений по убывающим и возрастающим последовательностям толщины иэ соотношения — индекс шагов измерений; — изменение усилий на каждом шагу измерений; — изменение толщины молекулярного контактного слоя;

- толщина молекулярного контактного слоя в области вы. 2..3.Таврог % nterton. Proc,, R.$îñ, ьondon, А-312, 435, 1969 (прототип).

ВНИИПИ Заказ 10408/57 Тираж 91 8 Подписное

Филиал ППЙ Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4