Способ определения качестваконтактов

 

Союз Советск их

Сецивпистмчесина

Реснублни

О П И С А Н И Е ().808976

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

4

Ф

l .,б -" (6I ) Дополнительное к авт. свид-ву (22)Заявлено 05.04.79 (21) 2749300/18-21 (5I)M. Кл.

G 01 и 27/02 с присоединением заявки М—

1ввударствалльй камктет

CCCP ае делам взебретеккк и аткрмтвв (28) Приоритет—

Опубликовано 28.02.81. Бюллетень М 8

Дата опубликования описания 02.03.81 (53} УДК 62131733 (088.8) (72) Автор изобретения

В.— С, С. Зарецкас (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА КОНТАКТОВ

Изобретение относится к электротехнике

:и может быть использовано для определения чистоты коммутирующих поверхностей контактов, предпочтительно жидкометаллических, а также разбраковке герконов по состоянию

5 контактирующих поверхностен.

Известен способ определения качества контактов, основанный на физике отказов жидкометаллических контактов, позволяющий определять качество контактов путем сокращения испытаний при повышенной температуре fl).

Однако такой способ относится к категории разрушающих и является малоинформативным в зоне безыскровых режимов коммутации .

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ определения взаимодействия материалов, заключающийся в измерении сопротивления контакта при коммутации им электрической цепи. При

20 этом одновременно контролируют сопротивле. ния образца с жидкой средой и этой жидкой среды за пределами образца, и по характеру изменения сопротивлений судят о

2 взаимодействии материалов — проникновении жидкой среды в твердую и растворении жидкой . средой твердой среды (2).

Недостатком этого способа является его непригодность для исследования качества разрывных жидкометаллических и "сухих" контактов при выполнении ими функции коммутации в наносекундном диапазоне времени, в частности, для определения наличия на контактирующих поверхностях посторонних поверхностных пленок, которые могут нарушить надежность коммутирующих контактов.

Цель изобретения — обеспечение определения наличия на поверхности коммутирующего контакта поверхностных пленок.

Поставленная цель достигается тем, что в способе определения качества контактов путем измерения сопротивления контакта при коммутации им электрической цепи, разделяют коммутирующим контактом на две части широкополосную электрическую цепь с постоянным волновым сопротивлением, одну иэ частей этой цепи заряжают постоянным

Составитель О. Панчерников

Техред И. Асталош

Корректор О. Билак

Редактор С, Шевченко

Тираж 743

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подтисное

Заказ 405/49

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 напряжением, затем контакт замыкают, форми. руют во второй части цепи импульсно-потенциальный сигнал прямоугольной формы наносекундной длительности, по искажению фронта, вершины и спада которого судят об изменении во времени сопротивления контакта и о наличии на его коммутирующих поверхностях посторонних поверхностных пленок, а также тем, что определение качества контактов производят при различных температурах.

Способ реализуется следующим образом.

Берут отрезок коаксиального кабеля и подключают его чере испытуемый контакт, например жидкометаллический магнитоуправляемый геркон, ко входу широкополосного запо минающего осциллографа, входное сопротивление которого соответствует волновому сопротивлению отрезка кабеля. Отрезок кабеля дополнительно подключают к источнику постоянного тока с большим внутренним сопротивлением (свыше десятков килоом) и регулируемым выходным напряжением в пределах

0,001 — 1 В. После заряда отрезка кабеля до потенциала 1В, замыкают контакт и разряжают этим кабель на согласованную нагрузку, которой является входное сопротивление осциллографа. При этом на входе осциллографа формируют импульсно-потенциальный сигнал прямоугольной формы наносекундной длительности, который регистрируют на экране осциллографа. Затем повторяют эксперимент при меньших значениях потенциала заряда кабеля.

Если форма импульса остается неизменной во всем диапазоне 0001 — 1 В, то контакт счи- тают чистым и выдержавшим испытание.

Если при изменении потенциала заряда обнаруживаются искажения формы импульса (растягиваются фронт и спад или искажается вершина импульса), то это свидетельствует о наличии на контакте поверхностных пленок, 808976 4 которые препятствуют предписанному измененйю динамического сопротивления контакта геркона. Изменение формы импульсно-потенциального информативного сигнала пропорционально изменению во времени сопротивления коммутирующего контакта.

Формула изобретения о

1. Способ определения качества контактов путем измерения сопротивления контакта при коммутации им электрической цепи, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью обеспечения определения наличия на поверхности ком:мутирующего контакта поверхностных пленок, разделяют коммутирующим контактом на две части широкополосную электрическую цепь с постоянным волновым сопротивлением, одну из частей этой цепи заряжают постоян-, ным напряжением, затем контакт замыкают, формируют во второй части цепи импульснопотенциальный сигнал прямоугольной формы наносекундной длительности, а по искажению фронта, вершины и спада которого судят об изменении во времени сопротивления контакта и о наличии на его коммутирующихповерхностях посторонних поверхностных пленок.

2. Способ по п. 1, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что с целью получения дополнительной информации о природе поверхностной пленки, определение качества контактов производят при различных температурах.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Всесоюзное совещание по физике отказов. Рефераты докладов. М., Институт .проблем управления, 1975.

2. Авторское свидетельство СССР по заявке У 2638842/18-25, 22.12.78.

Способ определения качестваконтактов Способ определения качестваконтактов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике электрических измерений и предназначено для профилактических испытаний изоляции крупных электрических машин и аппаратов, имеющих большую постоянную времени

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для измерения резисторов, сосредоточенных сопротивлений и сопротивления изоляции в электрических цепях
Изобретение относится к исследованию и анализу материалов с помощью электрических средств и предназначено для контроля неоднородности электропроводного изделия по толщине материала, например, при проверки возможной подделки изделия в форме слитка из драгоценного или редкого металла

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров индуктивных элементов, а также исследования и оценки свойств ферромагнитных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборостроении для построения параметрических измерительных преобразователей, инвариантных к изменениям параметров источников питания и другим влияющим величинам

Изобретение относится к электроизмерительной технике, а именно к способам определения сопротивлений, и может быть использовано при экспериментальных измерениях

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано в качестве частотно-независимой меры активного сопротивления в диапазоне 1 - 100 кОм

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборостроении для построения параметрических измерительных преобразователей, инвариантных к изменениям параметров источника питания

Изобретение относится к электроизмерительной технике и предназначено для контроля параметров конденсаторов, катушек индуктивностей и резисторов в процессе их производства

Изобретение относится к бесконтактным неразрушающим способам измерения удельной электропроводности плоских изделий с использованием накладных вихретоковых датчиков
Наверх