Способ спектрографического анализавеществ

 

Союз Советских

Сониалистнческих

Республик

<1828032

ОПИСАНИЕ

И ЗОБ Р ЕТЕ Н И Я

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (б1) Дополнительное к авт, свид-ву— (22) Заявлено 11.03.79 (21) 2734435/18-25 с присоединением заявки— (23) Приоритет— (43) Опубликовано 07.05.81. Бюллетень № 17 (45) Дата опубликования описания 11.06.81 (51) М.Кл з С 01 N 21/72

Государственный комитет по делам изобретений и открытий (53) УДК 535.8 (088.8) (72) Автор изобретения

Э. Н. Северин (71) Заявитель

Институт черной металлургии

Министерства черной металлургии СССР (54) СПОСОБ СПЕКТРОГРАФИЧЕСКОГО

АНАЛИЗА ВЕЩЕСТВ

Изобретение относится к области спектрального анализа.

Известны способы спектрографического анализа с учетом действия фона (1).

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ с учетом действия фона по Шипицыну, включающий регистрацию серии спектров для анализа,и дополнительной серии спектров с суперпозицией двух .интенсивностей света, построение характеристической кривой и учет действия фона (2).

К недостаткам можно отнести сложность процесса анализа и недостаточную точность.

Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса анализа при учете действия фона.

Для достижения цели в способе спектрографического анализа вещества, включающем регистрацию серии спектров для анализа и дополнительной серии спектров с суперпозицией двух интенсивностей света, построение характеристической кривой и учет действия фона, при учете действия фона через регистрацию дополнительной серии спектров ширину щели спектрографа устанавливают. равной М J3D — 2К).® К где зХ вЂ” интервал длин волн между двумя спектральными линиями дополнительной серии, р — увеличение спектрографа, 5 D — обратная линейная дисперсия.

На чертеже появляется сущность изобретения, где серии спектров 1, 2 и 3, высота каждого спектра h, линии А и В, шири1С íà I), 1з и 1з изображения спектральных линий А и В в сериях спектров 1, 2,и 3, соответственно, интервал длин волн между двумя спектральными линиями, участки а, Ь, a+b спектра.

Способ осуществляют следующим образом.

Регистрируют на фотопластинке спектры для анализа, подлежащие учету фона— серия спектров,1.

В области длин волн расположения аналитической спектральной линии -10 нм выбирают пару близко расположенных одна к другой (близлежащих) спектральных линий. Вблизи выбранной пары в окрест25 ности +-ЛХ не должно быть помех в виде других линий, полос и т. п. Одна пз линий имитирует интенсивность линии 1 „а другая интенсивность фона 1@.

Устанавливают щель спектрографа, равной М/р — 2ЛХ/PD.

828032

Так как между шириной щели S спектрографа и шириной L изображения спектральной линии на фотопластинке существует соотношение l = SP, а линейное расстояние AL между двумя данными спектральными линиями с интервалом Ai длин волн между ними равно М. =

= Ai,/D, то при установке ширины щели, равной AXIPD, изображения данных спектральных линий будут касаться друг друга (начало суперпозиции) . При дальнейшем увеличении ширины щели ширина участка суперпозиции будет возрастать, так что при ширине щели 2ЛХф13 ширина участка суперпозицни станет,равной ширине сво-. бодных от суперпозиции участков изображения спектральных линий.

Через ступенчатый (например, девятиили шестиступенчатый) ослабитель регистрируют спектр, содержащий выбранную пару близлежащих линий (серия спектров 2).

Из вышеприведенного ясно, что серия 2 будет содержать три ады почерне ни и с суперпозиц,ией.

Пластинку обрабатывают. На обработанной пластинке измеряют почернения S +, и 54, серии ¹ 1 и триады,почернений S,„

S@ и Sip> ceps 2.

Серия спектров 1 зарегистрирована с относительно узкой щелью спектрографа, при которой на фотопластинке изображения спектральных линий получаются с шириной

L,, причем Lt((Ai,. Перед регистрацией серии спектров 2 щель опектрографа была уве,личена настолько, чтобы ширина щели изображения L почти достигла величи ны An.

При этом изображения линий А и В почти соприкасаются. Наконец, серия спектров 8 снята при столь широкой щели спектрографа, что изображения линий частично перекрылись, т. е. произошла суперпозиция.

Действию суперпозиции подвержен участок а + b спектра, à его участки а и Ь подвержены действию интвнсивносги только одной линии, соответственно А и В. В результате в серии спектров 8 по участку а можно измерить почернение SI линии А, по участку

b — почернение S линии В и по участку а + b — почернение S,, образованное суперпозицией. Для соответствующих интенсивностей 1 л, 1в и 1лв, справедливо равенство 1A + 1в = 1л+в, причем время экспозиции всех трех почернений одно и то же.

Триада почернений $,, Sq, Sz образована действием сбалансированной системы марок количества освещения и поэтому может быть .использована для построения характеристической кривой.

По измеренным почернениям серии 1, используя построенную характеристическую кривую, находят искомую величину S, так, как это делается в известных способах учета.

Свойства фотографической эмульсии

10 учитываются при построении самой характеристической кривой.

Предлагаемый способ позволяет существенно упростить как нрименяемую спектрографическую установку, так и сам процесс анализа, отпадает необходимость в применении двух источников, зеркала и диафрагмы, вместо семейства изофонов строят единственную характеристическую кривую.

20 Формула изобретения

Способ спектрографического анализа веществ, включающий регистрацию серии спектров для а нализа, установку ослабителя и регистрацию дополнительной серии спектров с суперпозицией двух,интенсивностей света,и дальнейшую отработку результатов изменения, включающую построение характеристической кривой и учет действия фона, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса анализа при учете действия фона, перед регистрацией дополнительной серии спектров ширину щели спектрографа устанавливают, Зб равной AiÄ/(3D — 2 Л/,/PD, где: Ai. — интервал длин волн между двумя близлежащими спектраль;ным и линиями дополнительной

40 серии;

P — увеличение спектографа, D — обратная тинейная дисперсия.

Источники информации, принятые во

45 внимание при экспертизе:

1. Прокофьев В. К. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов .и сплавов. М.— Л., Гос50 техиздат, 1951, т. 2, с. 94.

2, Шипицын С. А. Об учете фона при измерении и нтенсивностей спектральных линючий фотографическим способом. Известия АН СССР, серия физическая ¹ 1, 55 1955,;с. 138 (прототип).

828032

/ /!

/ I

// с/

Составитель А. Смирнов

Редактор Л. Курасова Техред А. Камышннкова Корректор И. Осиновская

Заказ 577/509 Изд. № 354 Тираж 915 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, /К-35, Раушская наб., д. 4/5

Тип. Харьк. фил. пред. «Патент»