Способ измерения параметров передаточнойхарактеристики компараторов

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт, саид-ву— (22) Заявлено 2805.79 (21) 2771605/18-21 с присоединением заявки ¹ (23) Г)риоритет—

Опубликовано 3006.81.Бюллетень № 24

Дата опубликования описания 3006.81 (51)М К, 3

6 01 R 31/28

Государственный комитет

СССР, по делам изобретений и открытий. 327. (72) Автор, изобретения

Г.И.Готлиб (71) Заявитель

Институт электроники и вычислительной техники

AH Латвийской ССР (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ

ПЕРЕДАТОЧНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ КОМПАРАТОРОВ

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для измерения параметров передаточной характеристики компараторов, например смещения нуля и шири5 ны петли гистерезиса.

Известны способы,.основанные на сравнении измеряемого параметра испытуемого и эталонного устройств (1) .

Недостатками известных способов являются невозможность измерения абсолютного значения измеряемого параметра и низкая достоверность измерения.

Наиболее близким по технической

15 сущности к предлагаемому является способ измерения параметров передаточной характеристики компараторов,основанный на воздействии на вход компаратора тестовых сигйалов: первого раэ вертывающего и второго, имеющего форму прямоугольных импульсов, и регистрации выходного сигнала компаратора (2) .

Недостаток этого способа заключается в невозможности его использования для измерения параметров передаточной характеристики компараторов с гистерезисом передаточной характерис- 30 тики, т.е. функциональные возможно=ти данного способа ограничены.

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей.

Указанная цель достигается тем, что в иэвестном способе, основанном на воздействии на вход компаратора тестовых сигналов и регистрации выходного сигнала компаратора, в качестве первого тестового сигнала используют регулируемый сигнал, амплитуду второго тестового сигнала выбирают переМенной, сравнивают значения скважности выходйого сигнала компаратора для различных значений амплитуд второго тестового сигнала, регулирование первого тестового сигнала осуществляют до получения постоянного значения скважности выходного сигнала и по значению первого тестового сигнала в этот момент судят о величине смещения нуля, а ширину петли гистерезиса определяют путем удвоения минимального значения амплитуды второго тестового сигнала.

На чертеже представлены диаграммы, поясняющие сущность способа.

На диаграммах обозначены границы

1 и 2 гистерезисного участка передаточной характеристики 3 испытуемого компаратора, первый тестовой регули842647

Формула из о бре тени я

ВНИИПИ Заказ 5090/53 Тираж 732 Подписное

Филиал ППН "Патент", г.ужгород, ул.Проектная,4 руемый сигнал 4, второй тестовой сигнал 5 - 7 заданной, в данном случае треугольной формы и переменной амплитуды, временные диаграммы A,В,С и D, иллюстрирующие входные и выходные сигналы испытуемого компаратора при различных значениях первого тестового

5 сигнала в процессе его регулирования и варьировании амплитуды второго тестового сигнала, выходные сигналы 8-lf испытуемого компаратора, соответствующие амплитудам второго тестового сигнала 7„6 5 соответственно.

Сущность способа состоит в следующем.

Регулируют первый тестовой сигнал, например, путем его ступенчатого . !5

Изменения, придавая ему поочередно значения 4А, 4В, 4С, 4D. В процессе его регулировки варьируют значения амплитуды второго тестового сигнала.

Сравнивают между собой значения скваж- О ности выходного сигнала испытуемого компаратора. Из диаграмм на чертеже видно, что изменение амплитуды второго тестового сигнала приводит к изменению скважности выхспного сигнала испытуемого компараторе и что скважность выходного сигнала испытуемого компаратора лишь при одном значении первого тестового сигнала (именно 4С) не зависит от амплитуды второго тестового сигнала. При этом прекращают регулировку первого тестового сигнала.

Далее вычисляют значения параметров испытуемого компаратора. Фиксируют конечное значение первого тестового сигнала (4C ) и принимают его эа смещение "нуля. Фиксируют минимальное значение амплитуды второго тестового сигнала (5C ), удваивают его и эту величину принимают за ширину петли гистерезиса на частоте измерения.

Способ позволяет снимать частотную характеристику ширины петли гистерезиса путем варьирования частоты второ го тестового сигнала. Значение этой характеристики позволяет оптимизировать выбор компаратора для требуемого диапазона частот сравниваемых сигналов, повысив этим точи. сть и быстродействие устройств, использующих компараторы.

Способ измерения параметров передаточной характеристики компараторов, например, смещение нуля и ширины петли гистереэиса„основанный на воздействии на вход компаратора тестовых сигналов и оегистоапии выходного сигнала компаратора,о т л и ч а ю щ и йс я тем,что,с целью расширения функциональных возможностей,в качестве первого тестового сигнала используют регулируемый сигнал, амплитуду второго тестового сигнала выбирают переменной, сравнивают эначения скважности выходного сигнала компаратора для различных значений амплитуд второго тестового сигнала, регулирование первого тестового сигнала осуществляют до получения постоянного значения скважности выходl ного сигнала и по значению первого тестового сигнала в этот момент судят о величине смещения нул.;, а ширину петли гистереэиса определяют путем удвоения минимального значения амплитуды второго тестового сигнала.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

9 417772, кл. G 05 В 23/02, 1972.

2. Измерительная техника 1979, вып. 3, с. 35-36 (прототип) .

Способ измерения параметров передаточнойхарактеристики компараторов Способ измерения параметров передаточнойхарактеристики компараторов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации
Наверх