Способ измерения тепловой постоянной времени переход-корпус полупроводниковых приборов

 

Способ измерения тепловой постоянной времени переход-корпус полупроводниковых приборов, заключающийся в регистрации потока ИК-излучения с поверхности структуры полупроводникового прибора при подаче на него разогревающей мощности, изменяющейся по гармоническому закону с частотой, близкой к величине обратной тепловой постоянной времени переход-корпус, отличающийся тем, что, с целью уменьшения времени измерения, измеряют сдвиг фаз между разогревающей мощностью и регистрируемым потоком ИК-излучения и по величине этого сдвига фаз определяют тепловую постоянную времени переход-корпус.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерению лучистой энергии и ножет быть использовано для регистрации изменений интенсивности излучения в радиометрах, пирометрах, газоанализаторах.и т.д

Изобретение относится к технике измерения лучистой энергии и может быть использовано в газоанализаторах, радиометрах, пирометрах, спектрофазометрах, фотометрах

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к приборам для измерения характеристик интенсивного лазерного излучения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения длительности одиночных световых импульсов, прежде всего в системах лазерной техники

Способ измерения тепловой постоянной времени переход-корпус полупроводниковых приборов, измерение лучистой энергии

Наверх