Профилированная химическая нить

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОУСК©МУ СВ ЕТЕЛЬСТВУ

Союз, Советских

Соцналнстнческнк

Реслублннк

„874771 (61) Дополнмтельное к авт. сеид-ву(22) Заявлено 240779 (21) 2804739/28-12 с присоединенмем заявки H9(23) Приормтет-Опублмковано 231081. Бюллетень Н9 39

Дата опубликования описания 231081.(51)hh. Кл З

0 01 0 5/253

D 02 G 3/00

Гвеударстаенный комитет

СССР не делам изобретений н аткрытнй (53)УДК 677.051. .125.262. .42(088.8) A.A.ÄóáûíHí, Е.Л.Чистяков, Л.Е.Фридкин, A Чеголя, Н.И.Павлов, В.A.Òoðñïîâ и Л.Г.Чукаре а

Всесоюзный научно-исследовательский институт синтетических волокон, (72) Авторы изобретения (71).Заявитель (54) ПРОФИЛИРОВАННАЯ ХИМИЧЕСКАЯ НИТЬ

Изобретение относится к легкой промышленности, конкретнее к изготовлению химической нити.

Известна химическая нить, профиль поперечного сечения которой ограничен двумя соединенными между собой многоугольниками со скругленными вершинами (1 .

Недостатком укаэанной нити является заниженная сорбция и десорбция нити, что не дает четкости печати при использовании волокна для лент быстропечатающих машин.

Цель изобретения — повышение потребительских свойств нити. 15

Указанная цель достигается тем, что профилированная химическая нить, .профиль поперечного сечения которой ограничен двумя соединенными, между собой многоугольниками со скругленны- 20 ми вершинами, при этом профиль поперечного сечения выполнен в виде двух параллелограммов, которые соединены между собой с частичным наложением один на другой по линии малых диагоналей, при этом отношение расстояния . от оси сиьметрии до выступа, расположенного на.большей диагонали параллелограмма к расстоянию от оси симметрии до впадины, -расположенной в 30 месте соединения параллелограммов, составляет 2,0-2,5.

Кроме того, отношения длин больших диагоналей параллелограммов к малым диагоналям составляет (1,5-2,0):1.

На чертеже представлен профиль по перечного сечений химической нити, один филомент.

Профиль поперечного сечения указанного филомента имеет большую диа гональ А, малую диагональ b, ось симметрии СС, выступ 0 ., впадину Р величина наложения малых диагоналей

В, расстояние от оси симметрии до выступа R,,расстояние от оси симметрии до впадины r ..

Предложенный-профиль характерен отношением дальних диагоналей А к малым b, отношением величины наложения. малых диагоналей В к малым диагс>налям в и коэффициентом профилирова ния К, который выражается отношением расстояния:й от оси симметрии СС..до, конца выступа I) к расстоянию г от ос," симметрии СС до основания впадины для достижения коэффициента профилирования К=2-2,5 величина соотноше- ния больших и малых диагоналей составА1 5-2 ляет =- --- .а отношение величины

Ь 1

874771

В 1

Ь 3, 2-3,.5

Формула изобретения

Составитель Р.Морозова

Редактор Н.Пушненкова Техред И.Асталош

Корректор М.Шароши

Заказ 9265/44 Тираж 485 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035„ Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул.Проектная, 4 наложения малых диагоналей к малым диагоналям. Такой профиль сечения филамента, как за счет капиляров элипиптарных нитей, так и за счет образования капилляров между соседними филаментами в комплексной нити,.сообщающихся с ее наружной поверхностью, обеспечивает улучшение качества отпечатка, увеличивает срок службы изделия.

1. Профилированная химическая нить, профиль поперечного сечения которой ограничен двумя соединенными между собой многоугольниками со скругленными вершинами, о т л и ч аю,щ а я с я тем, что, с целью повышения потребительских свойств нити профиль поперечного сечения выполнен в виде двух параллелограммов, которые соединены между собой с частичным наложением один на другой по линии малых диагоналей, при этом отношение расстояния от оси симметрии до выступа, расположенного на большой диагонали параллелограмма к расстоянию от оси симметрии до впадины, расположенной в месте соединения параллелограммов, составляет 2,0-2,5.

2. Нить, по п.1, о т л и ч а ю— щ а я с я тем,что отношение длин больших параллелограммов к малым

15 .диагоналям составляет 1,5-2,0 :1.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент США В 3131427, Щ кл. 425-464, 1964.