Устройство для градуировки фотометрических шкал

 

ОП ИСАНКЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТИЗЬСТВУ

Союз Советскик

Социапистическик

Республик

ii i> 879328 (6! ) Дополнительное к авт. саид-ву (51) Ni. Кл. (22) ЗаЯвлено 24. 05. 78 (21) 2622892/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет

G 01 J 1/04

Гоеуаарстванны11 квинтет

СССР но делан нмбретеннй н открытнй

Опубликовано 07. 11.81.Бюллетень hh 41 (5З) 1 ДK 535.242 (088.8) Дата опубликования описания 07 . 1 1. 8 1 (72) Авторы изобретения

П,Л. Клименко, В.Н. Ватулев, А,И. Сомсиков, Е.И. Лебедев, Н,С. Голяндин и О.В ° Алекс. г

1.:

Институт химии высокомолекулярных соединЫий

АН Украинской ССР (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ГРАДУИРОВКИ ФОТОМЕТРИЧЕСКИХ

ШКАЛ

Изобретение относится к устройствам для градуировки фотометрических шкал и может быть использовано для точной граДуировки шкал фотометров, спектрометров, спектрофотометров и других оптических приборов.

Точность количественных измерений в абсорбционной спектрофотометрии в значительной мере определяется точностью градуировки фотометрических шкал применяемого прибора.

Известны устройства для градуировки фотометрических шкал, например, вращающийся секторный диск, используемый в качестве первичного неселек"

is тивного эталона пропускания для градуировки фотометрических шкал оптических приборов 1 ).

Недостатком известных устройств является то, что получается ограниченное число точек.

Укаэанные недостатки устранены в

/ устройстве для градуировки фотометрических шкал, принцип действия кото рого основан на беээталонном методе градуировки, в основу которого положено деление светового пучка непроз" рачными заслонками на дополняющие друг друга по геометрии и интенсивности части(2).

Известное устройство содержит основание с двумя основными заслонками снабженными механизмом для пе) ремещения по сечению светового пучка и механизмом ввода и вывода из пучка.

Наряду с такими очевидными преимуществами, как простота конструкции и возможность использования одного устройства для получения любого количества точек, оно не лишено и некоторых недостатков. Так, при нахождении с помощью устройства последовательного ряда точек градуируемой шкалы теряются ранее найденные точные положения заслонок, соответствующие найденным точкам на шкале пропускания; для дальнейшей градчировки

79328 4 чертеже не показан), например спектрометра. В световой пучок вводят заслонки 2 и 3. С помощью пластин

5 6 заслонки 2,3 устанавливают в плоскости 1 так, чтобы рабочие грани заслонок 2,3 соприкасались и световой пучок был полностью перекрыт.

Затем одну из заслонок, например 2, с помощью поворотного механизма 10

10 выводят из пучка и самописец спектрометра регистрирует ту часть пучка, которая проходит через отверстие 9.

Затем заслонку 2 возвращают в исходное положение (т.е. вводят в пучок), а заслонку 3 выводят из пучка. В этом положении самописец регистрирует вторую часть пучка, а именно ту, которая раньше диафрагмировалась заслонкой 3. Обе части пучка, последователь20 но регистрируемые самописцем, явля.ются дополнительными по геометрии и интенсивности, если за время между двумя измерениями интенсивность исходного пучка не изменилИсь.

Перемещением заслонок 2 и 3 в плоскости поперечного сечения светового пучка добиваются изменения соотношения его частей.

Так, например, если для заслонок 2, 3 выбрано такое положение, что при введении в внучок только заслонки 2 или только заслонки 3 получают одинаковые положения пера самописца, а при одновременном введении заслонок

2, 3; пучок полностью перекрывается

35,(т ° е. заслонки смыкаются рабочими гранями, то такое положение заслонок

2,3 соответствует точке 50ХТ пропускания.

55 йеобходимо воспроизвести эти ранее найденные положения заслонок, что приводит к потере времени при градиуровке и уменьшает точность измерений, поскольку многократное нахождение одних и тех же положений заслонок вносит дополнительную пог. решность в суммарную ошибку измере" ний.

Целью изобретения является сокращ уие времени градуировки с одновременным повышением ее точности.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство для градуировки фо тометрических шкал, содержащее основание с двумя заслонками, каждая иэ которых снабжена механизмом для перемещения по сечению светового пучка до положения, исключающего частичное или полное затенение одной заслонки другой, и механизмом ввода и вывода иэ пуска введена по меньшей мере одна дополнительная заслонка, установленная на основании и снабженная ме. ханизмом для перемещения по сечению светового пучка до положения, исключающего частичное или полное затенение одной из ограничивающих пучок заслонок другой, при этом по форме рабочие грани основных и дополнительной заслонок соответствуют друг другу и указанные заслонки установлены в плоскостях, параллельных друг другу.

На чертеже схематично изображено ( устройство для градуировки фотометрических шкал.

Устройство содержит основание 1 с двумя установленными в одной плоскости непрозрачными заслонками 2,3. и с заслонкой 4, установленной в плоскости, параллельной плоскости заслойок 2,3. Заслонки 2,3,4,связаны с приспособлениями для перемещения каждой из них в указанных плоскостях.

Эти приспособления выполнены в виде пластин 5,6,7, расположенных.в направляющих 8 и закрепленных на основании 1, в котором имеется отверстие

9 для исходного светового пучка.

Заслонки 2,3,4 связаны с поворотными механизмами 10,11 12, выполненными н виде салазок .для вывода и ввода заслонок 2,3,4:в световой пучок.

Формы рабочих граней заслонок 2,3, 4 соответствуют друг другу

Устройство работает следующим образом.

Основание 1 жестко закрепляют на корпусе градуируемого прибора (на Выводя из светового пучка заслонки 2,3, вводят в пучок с помощью поворотного механизма 12 заслонку 4 и перемещают ее в плоскости поперечного сечения светового пучка до тех пор, пока ее не установят .в такое положение, чтобы перо самописца остановилось у деления, соответствующего

50ХТ (выведя заслонку 4 из пучка, мы можем сохранить это или любое другое найденное значение пропускания в памяти устройства для использования его в процессе градуировки, так как заслонка 4 может воспроизводимо вводиться . в световой пучок). Затем при введен-. ной заслонке 4 перемещением заслонки 2, 3 в плоскости поперечного сечения пучка добиваются разделения оставшейся части пучка на две равные по интенсивности части (по методи879328 ке, указанной вьппе, для разделения всего исходного пучка на две равные части), получая таким образом точку

25Х Т.

Следовательно, комбинируя положение трех заслонок, можно .отградуировать шкалу прибора в точках 100X T (все заслонки выведены из пучка), 75Х Т (заслонки 3,4 выведены из пучка, заслонка 2 введена в пучок), 50% Т (заслонка 4 введена в пучок, заслонки 2,3 выведены из пучка), 25% Т (заслонки 3,4 введены в пучок, заслонка 2 выведена из пучка), ОХ Т (заслонки 2,3 введены в пучок).

При необходимости более дробной градуировки фотометрических шкал при условии "запоминания" найденных точек требуется большее количество дополнительных заслонок (например, для фиксации точек от OX T до 100Х Т с интервалом. 12,5% Т необходимо ввести две дополнительные заслонки и т.д.).

Описанное вьппе устройство для градуировки фотометрических шкал представляет собой лишь один из возможных вариантов устройства. В более общем случае заслонки необязательно должны примыкать к одной плоскости.

Достаточно того, чтобы в этой плоскости располагались их рабочие грани. Более того, рабочие грани засло-.. нок необязательно должны перемещать. ся именно но плоскости. В качестве рабочей может быть выбрана и любая другая поверхность;необходимо лишь, чтобы рабочая грань одной заслонки никогда не попадала в область частичного затемнения от другой. Это усло вне соблюдается, если касательная в любой точке этой поверхности отклоняется от оси светового пучка на угол больший, чем наклон лучей действующего светового пучка.

Таким образом, благодаря тому, что предложенное устройство снабжено по крайней мере одной дополнительной заслонкой, установленной с возможностью перемещения в поперечном сечении пучка и вывода из него, появляется возможностью сохранить любое най; денное значение пропускания в памяти устройства для использования его в процессе градуировки, что сокращает вреия градуировки фотоиетрической шка.лы и повышает точность измерения вследствие устранения дополнительных !

О погрешностей, возникающих при много кратном воспроизведении ранее найден.| ных положений заслонок.

35 Формула изобретения

Устройство для градуировки фотометрических шкал, содержащее основание с двумя заслонками, каждая из которых снабжена механизмом для перемещения по сечению .светового пучка до положения, исключающего частичное или полное затенение одной заслонки другой, и механизмом ввода,и вывода йз пучка, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью сокращения времени градуировки с одновременным повышением ее точности, в устройство вве-.. дена по меньшей мере одна дополнительная заслонка, установленная на основании и снабженная механизмом для перемещения по сечению светового пучка.

2, Устройство по п. 1, о т л и ч а35 ю щ е е с я теи, что по форме рабочие грани основных и дополнительной заслонок соответствуют друг другу.

3. Устройство по п. 1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, указанные заслонки установлены в плоскостях, па40 раллельных друг другу.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Никитин В. А., Воробьев В. Г.

tl

Журнал прикладной спектроскопии", у 14, 1971, с. 1051.

2. Авторское свидетельство СССР

Р 465б11, кл. G 02 В 27/32, 1972 (прототип).

879328

Составитель А. Буров редактор Н. Коляда Техред А. Ач Ко ектор В. Бутяга

РР Р

Заказ. 9701/б Тираж 910 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР .по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/

4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород. ул. Проектная, 4

Устройство для градуировки фотометрических шкал Устройство для градуировки фотометрических шкал Устройство для градуировки фотометрических шкал Устройство для градуировки фотометрических шкал 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх