Способ выявления геологических структур

 

Союз Советскмк

Соцмалмстмческкз

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОВВЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (,890347 (6! ) Дополнительное к ввт. свид-ву (22)Заивлено 16.04.80(2I) 2911974/18 25 с присоединением заявки М (23) Прморитет—

Опубликовано 15.12.81.Бюллетень № 46 (5 I ) М. Кл.

Cq ОДЧ 9/00 йердврстванаВ кемнтнт

СССР ае лавам нэвбрвтвннй н втсрьпнй (53) УД,К 550.83 (088. 8) Дата опубликования описания 18.12.81

О. Н. Кутузов, Е. А. Соловьев и Ю. С. Шилов (72) Авторы изобретения

Всесоюзный научно-исследовательский институт природных газов ВНИИГАЗ (71) Заявитель (54) СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ ГЕОЛОГИЧЕСКИХ

СТРУКТУР

Изобретение относится к поиску и разведке месторождений полезных ископаемых с помощью измерения освещенности, отраженной от земной поверхности.

Известен сйособ выявления геологических структур, в котором измеряют темS пературу в мелких скважинах на разной от поверхности глубине, определяемой как 0,23-0,30 величины слоя с изменяющимися годовыми температурами. В результате обработки полученных данных устанавливают повышение значений температуры над антиклиналями )1), Недостатками этого способа являются" необходимость бурения скважин, а так15 же определение мощности слоя с изменяющимися годовыми температурами.

Известен также способ поиска геологических структур, основанный на регистрации инфракрасного излучения Земли, Обычно инфракрасная съемка проводится с летательного или космического аппарата в диапазоне длин волн 0,761„1 мкм, Дешифрирование снимков позволяет выявить геологические объекты, отличающиеся по температуре от окружающей среды (2).

Недостатками этого способа являются его малая чувствительность и, как следствие, низкая разрешающая способность, Пель изобретения - повышение эффекI тивности изучения глубинного геологического строейия.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу выявления геологических структур, основанном на регистрации отраженного от поверхности Земли излучения, измеряют отраженную от земной поверхности освещенность в диапазоне 100-9500 лк в условиях затене- - . ния, причем изменения освещенности, происходящие в период съемки корректируют по изменениям в базовых точках, Изобретение основано на том, что участки поверхности Земли, соответствующие геотермическим аномалиям, обладают повышенной отражающей способностью, 890347 4 заньi средние значения отраженной освешенности> полученные при полевых наблюдениях, Наиболее оптимальные значения получены в точках 1-4 (1009500 лк) с эффективностью, составляющей 55-90%. При значениях отраженной освещенности свыше 10000 лк (точка 5) эффективность уменьшается до 40%, Выбор оптимального диапазона наблюto дений достигается затенением объекта от прямого попадания солнечных лучей. При облачной и пасмурной погоде производят затенение как в базовой, так и точках наблюдения. Результаты измерения от1s раженной освещенности в пунктах наблюдения корректируют по наблюдениям, получаемым в базовой точке. ви- В результате сопротивления данных

У- наблюдений в пунктах замера с данными наблюдений, полученных в базовых точъе- ках, получают различия впокаэаниях отраженной освешенности, Значения отраженной освешенности по точкам наблюдения наносят на карту и строят карту изолюкс, по которой затем выявляют антиклинали. ро- В процессе практической реализации в способа установлено, что над антиклиналями, которые могут содержать залежи нефти и газа, регистрируют повышенные значения отраженной освешенностк л- Использование данного способа выявлея ния геологических структур ло сравне» нию с известными позволяет ускорить работы по выявлению геологических струки тур и .удешевить работы по их съемке.

Способ реализуют следующим образом.

Плошадь, подлежашая исследованию, в случае разнородного строения в зависимости от характера растительного покрова почвы, поверхностной литологии, рельефа местности и др. разделяют на ряд участков, В каждом из этих участков намечают базовую точку (плавающий ноль вследствие изменения освешенности),характеризующуюся осредненными для данного участка условиями (растительный покров, рельеф и др. ). Исследования проводят на плошади по профиля располагаюшимся в плане по взаимно .перпендикулярным линиям, В базовой то ке каждого участка проводят через коро кие промежутки времени (3-5 мин в зй симости от времени перехода из предыд шей точки на последуюшую) измерения о раженной освешенности наблюдаемого об кта при затенении, При переходе к иссл дованиям другого участка наблюдения н чинают параллельными замерами в стар и новой базовых точках, Замеры отраженной освешенности и изводят люксметром (например Ю-16) затененных условиях наблюдаемого объе та, для чего точки замеров (и базовую) изолируют от прямого попадания солнеч ных лучей, Длительность затенения до жна составлять не менее 20 с, учитыва инерционность прибора, Замеры осушест вляют при расположении прибора параллельно земной поверхности на расстояни в пределах 1-1,3 м от нее (строго оди35 ,иаковом расстоянии прибора от поверхности земли}. Указанное расстояние удобно для наблюдений. Практически при изменении расстояния прибора от поверхности

40 земли 0,5-3 м изменения отраженной освешенности не превышают 2-4%, в то время как разница в точках наблюдения колеблется в пределах 5-80%. Время замера определяется стабильностью показаний прибора и не превышает 10-15 с, На чертеже показана кривая зависимости эффективности измерений от отраженной освещенности в условиях затенения, Оптимальное значение измеряемой отраженной освещенности должно находиться в пределах 100-9500лк. Подтверждение правильности выбранных пределов показано на чертеже, На оси абсцисс показаны логарифмы полученных эначе- 55 ний отраженной освешенности в затененных условиях, по оси ординат — эффективность в процентах. В точках 1»»5 покаФормула изобретения

Способ выявления. геологических структур, основанный на регистрации отраженного от поверхности Земли излучения, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что, с целью повышения эффективности изучения глубинного геологического строения, измеряют отраженную от земной поверхности освешенность в диапазоне 1009500 лк в условиях затенения, причем изменения освещенности, пооисходяшие в период съемки, корректируют по изменениям в базовых точках.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1, Авторское свидетельство СССР

М 625177, кл. C„O1V 9/00, опублик.

1974.

2. Кац Я. Г, и др. Космические методы в геологии. М., МГУ, 1976, с, 133 134(прототип) .

890347

Зр рек тихость

100 б

lvE

Составитель Э. Волконский

Редактор Ю. Петрушко Техред С. Мигунова Корректор С. Шомай

Заказ 10986/76 Тираж 735 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

1 1 3035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ выявления геологических структур Способ выявления геологических структур Способ выявления геологических структур 

 

Похожие патенты:
Наверх