Ультразвуковой микроскоп

 

№ 902:16

Класс 42k, 20аз

СССР р

t I

Ф, ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

И ЗАВИСИМОМУ АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

С. H. Соколов

УЛЬТРАЗВУКОВОЙ МИКРОСКОП

Заявлено 2 августа 1949 г, за j¹ 402109 в Гостехннну СССР

11сновное авт. сB..É 49420 от 3! свг.ст» i!9{1 г t!;! !!, я -о о;.. . на

В основном авт. св. № 49426 описано устройство для определанг1ч неоднородностей в твердых, жидких и газообразных средах посредством ультразвуковых колеба1н1ий, выполненное в виде электронно-лучевой трубки Брауна, экран которой представляет собой сплошную или мозаичную кварцевую пластину, заряды с которой снимаются электронным лучом, с целью воздействия ими на приемник да IbHQBH,IåíèH.

Настоящее изобретение является дальнейшим развитием ультр 1звукового микро хопа по авт. св. № — 1 ;, -125 11 имеет цель о по i сппе изображения на флуоресцирующем экране вакуумной трубки, 3 также передачу изображения на расстояние с помощью развертки электро11— ного луча ца экран другой трубки.

На фиг. 1 и 2 изображены два варгианта продлагаемого ультразв..кового микроскопа.

Микроскоп, изображенный на фиг. 1, состоит из вакуум ной трубки l, в дно которой вмонтирова1на пластинка 2, изготовленная из кьарца или другого пьезоэлектрического материала.

Внутренняя поверхность пласт1инии покрыта светочувствительным слоем, выделяющим фотоэлектрическую эмиссию прп освещении пучком 8 света, проходящими через окно 4 в трубке 1.

Фотоэлектрический ток, пройдя через диафрагыу б, вмонтированную в анод 6, и пройдя магнитную .или электростатическую линзу 7, попадает на флуоресцирующий экран 8 трубии.

Twoe устройство позволит получить на флуоресцирующем экране изображен не фотокатода 2, T. e. изобраiкение пьезоэлектр и 1егкоЙ !1,13сгинки. Неравномерности в распределении фотоэмиссии по поверхности пластинки ., вызванные пье-оэлектрпчегк1;мги зарядамц от действия

113 Il 13cTH НКх 2 l T1l 333", I oIIoi о lол я 9, ol J A T T3 KHic 3 Iмстпы 113 (IJ ll оресцирую1цем экране. Таким образом, если в утльтрозвуковом пол< 9,, падающем на пьезоэлектрическую пластинку 2, будут находиться рассматриваемый предмет или неодноро1дности, нарушающие равномер

Ультразвуковой микроскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к ультразвуковой дефектоскопии изделий и материалов и может быть использовано в различных отраслях промышленности для определения качества продукции при контроле

Изобретение относится к неразрушающему контролю ультразвуковым методом и используется для обнаружения, визуализации и определения размеров дефектов

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий ультразвуковым методом и может быть использовано для контроля толстолистового проката

Изобретение относится к медицинской ультразвуковой диагностической аппаратуре, более конкретно к ультразвуковым средствам формирования и визуализации трехмерных изображений строения костных структур при неинвазивных медицинских обследований пациентов

Изобретение относится к области контроля качества листового стекла и может быть использовано для контроля структуры листового стекла при его производстве и последующей эксплуатации

Изобретение относится к области физической оптики и акустоэлектронике и может быть использовано для контроля качества многослойных плоских пластин на предмет выявления дислокации и формы внутренних неоднородностей в таких объектах путем визуализации неоднородностей в видимом свете

Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано для эхолокации подводных объектов при задачах ультразвукового неразрушающего контроля и ультразвуковой медицинской диагностики внутренних органов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при ультразвуковой диагностике плоских металлоконструкций определенной толщины
Наверх