Способ фотометрического анализа силикатов и тому подобных пород

 

)(<3!Ясс <)21, 30(>

421, 3;.Мв> 90970

С С С Е-

ОПИСАНИЕ ИЗОВРКт

К АВТОРСКОМУ СБИДЕТЕЛЬС

С. И. Хвостенков

СПОСОБ ФОТОМЕТРИЧБСКОГО АИАЛИЗА СИДИКАТОВ

И Т. П. ПОРОД

Заявлено 15 апреля 1950 г. за . >>«416576 в Гостехнику CCCP

Опубликовано в «Б(оллстснс нзобрстснн)»> . >«7 за 1951 г.

)00 (х — a! х—

100 — a

Предмет пзоорстсния

1(оличсственный анализ минералов посредсп)ом окулярной сетки и окул(ц)ной( линейки является трудоемким и не дает необкодимой lочности.

Предлагалось ироиЗВОдить анализ минералов иутси ()ютограФпрования )илш1>ов i( сравнения полу(cHHI>tx. спим;ов со cHi!)f1 ами cTHHTH))THI>lx и(ли(1>ов. Одна! О H 3TOT гиосоо являетсl(сложным п не дает треб у смой точности.

Предлагаемый способ устраняет этп недостатки Il имеет то отличие, что Фотосгпнки шлиФов просвсчиг„иот и о наличии тек или t(HIIx. компонентов в шлиФС судят по интенсивности прошеди(его через снимок светового потока, измеряемой, например, (1>отозлементом.

В ",àâèñèìîñòè от вс;и(ни!и,! площадей, занятык на снимке светлой и темной част)ио. через снимок пройдет соответствующий световой поток, падающий иа (1>0T03лемент, соединенный с гальваномстp0)t. Так как сами снимки шлиФов и пк отдельные части им(пот различные плотности тонов, а следовательно. различиу10 иропускаемост! света, то определение производят с применением комиенсаторов — пластинок, прозрачность котоPI>I>(ИЗЫСНЯЕТСЯ.

Если имеется снимок микроструктур(я силиката, на котором минералы соответствуют прозрачной части на снимке, а стекловидная Фаза — темной, то определение производят в следу!о(цем порядке: подбирают комиенсатор для прозрачной части снимка, подбирают компенсатор для темной части снимка, устанавливают стрелку гальганометра на 100 путем изменения светового потока лампы с по3O >P!1HHI>1М КО)И(СНС;11ОРОМ ДЛЯ СВ T.1011 ч

3а И) О, ()>иксщл (от показание стрелки гальваномстра со вставленным в п)шбор исследуемым снимком.

По (c (ст результатов произгодят ио

Формуле где: х — истинная площадг,, следогат(л!по, и объем ltp03pn(Hoii части !мпчсралов ). с/о, .Вг — показ(ив(с прибора с псследуса(ым снимком; а — проис!>т проке)кд(си (H светового и<пока через комиснсатов для тс)ии>й

Способ (>)Отоыстри Icc!>01 o BHB;II!30 clfликатов и т. и. пород путем предварительного ФотограФирогания шли(1>ов, о т;(1I и а 10 )Ц I! и с я Tc)f что (1>отосии>и;>f шлш1>ов просвечп!кают H о количестве тек

ИЛН .>Н(!К КОД(ИСНЕНТОВ С) (>(T ИО ИИ(СНС!!ВИ >CT!! IIPÎIH IH(CI ЧЕРСЗ С >II)10!> СВСТОВОго потока, замеряемой, иаир!Вм р, (1>отозлемснтом.

Способ фотометрического анализа силикатов и тому подобных пород 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способу получения метасиликатов металлов, применяемых в оптическом стекловарении

Изобретение относится к силикатам на основе щелочноземельного металла, меди и (в случае необходимости) титана, синим или фиолетовым пигментам на основе этих силикатов, способу их получения
Изобретение относится к области химии

Изобретение относится к области химии силикатных материалов

Изобретение относится к производству бумаги и картона

Изобретение относится к химической технологии и неорганической химии силикатов

Изобретение относится к способам получения галлосиликатов с атомным отношением Si/a 20, применяемых в качестве катализаторов и адсорбентов

Изобретение относится к способам получения силикатов металлов, в частности силиката свинца, широко применяемого в стекловарении, а также в качестве связующего в керамике и одного из компонентов в отвердителях для смол и т.д
Наверх