Способ контроля сварных швов магнитным индукционным дефектоскопом
Клясс 42к, 200з
СССР г, rr. .,71 Ik
)с-...,,. )
51,"g ч;-.,;-, .
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН!"1
K АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Х. С, Маховер и Я. И. Розенберг
СПОСОБ КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ ШВОВ МАГНИТНЫМ
И НДУКЦИОН Н ЫМ ДЕФ ЕКТОС КО ПОМ
Заявлено 4 августа 1951 г. за ¹ МНП-352/445407 в Мипнстерство нефтяной промышленности СССР
Опубликовано в «Б!оллетене изобретений» ¹ 3 за 1953 г, И зоб рстш1ис 0 7 I I 0 el! òci! к способамм выявления дефектов в сварных
>ивах изделий из фсрромяпцггных металлов. Этот способ основан на использовании потоков мапштпого рассс! Iвя ни я, п05!В:1я10П1ихся Вне контролируемого объекта у места
17аспо !0>кения дефекта.
Изобретение имест целью повысить чувствительность контроля качества стыковых швов, выполненных дуговой электросваркой.
HlI фиг. 1 изображено индикаторное устройство с искателем, предпазпа Iclllioc для контроля сварных швов; ня фиг, 2 — схема прохождения магнитного потока при существовании дефекта в сварном шве; на фиг. 3 — схема прохо>кдепия магнитного потока при отсутствии дефск7Н; !Па фиг. 4 — схема прохождения з!ап!итного потока при наличии дефекта в ранее предлагавшихся индукциoll пых искателях.
Особ!с!!ность!о предлагясмог0 метода дсфск!оскопии в части нямагпичивяющсгo устройства является применение весьма слабых магнитных полей, что оказывается возможным бл я годаря высокой чувствительпостп 0IIIIc3111101 пижс инд!!каторно о устройства. 1Тяк, например, для контроля сварного шва
cTclГ!ьп01! Tpl Îhl IIIHAIOTpoxi 325 .1!.11 с толщи;юп ст,!!K!1 10 .1!л требуется намягllll! IèiiÿlOIöå0 устройство, обсспс Ив!1Iоiцсс м!!пll!ТО 7вижh щ" 10 силу в 2 —: 3; у!!7срвн7к!!).
Н ЯЗ! и Г11 1 1 1! !ВЕ!! !1С B03!XIOII В индикатор!юм устройстве искатель 1 вклю1сн ня вход усилителя 2, к выходу которого подключен э.!!ек7 17П!I(ский индикат01) 8. Искятс, ь Il pc;Ic! Фиг. 1 Фиг. 0 ствснно сон рие((с((стся с этим ОоъГакое Р Ic(jo;ION(0(i((0 чивасг наилучшие условия для прохо едсния ма IIIITI(01 потое(1 раlссеивания через сердечник искателя, в результате чего достигается высокая чувствителыюсть схемы. Благодаря высокой чувствительI(ocTH иидикапторпой части и применспию весьма слабых полей Ilàìàãничиваиия, отпадает необходимость примснспия спец!(;(г(ьн!.!х мер ограничеш!я мсшаюгцсго влия(ия перлОоч(.! О 31;I! II IITIIOI 0 ПОТОЕа (i(TO ЯВляется обязатсльпым в извсстиых схемах 1(i!.(уециониых дс((()сктоскопов). Предмет f;зооретс!(ия СИОссб коll " ро, 1(! сва!)!!ых ll(Lo(3 М(! I((IT!!bi!i(НИДТЕ(,f(OН! ff- ДС()0((ТО(КОПОМ С I)C (.",30.".С,l;!, !!CI: l :, ВЫПО;!Н Я С (! Ы 3 13 В И 1 L «J :. 1 I . i ii . -! C И 11 С а)ЕСННОй Ш(!КХМ j(;i",, И:К:)!1-СОЛЕНО-! Iд031, О Т л И 1 11 К (Ц И li (. Т(TC1(1 ТО искатель pHc(10ë Iгают o,и(им (0!IцОм В полс потоков рассс(н3!и!ия IIII НСЕОТОРОЫ PIICCTOSI I!!if(ОТ !(0(ITJ)OЛИруемого объск.i.(, и другим -- нспоС ) ЕДСТВС Ш!0 (111 Г! О 1!С .). (НОСТИ ООЪс е т(I . б л а год а )3 я I c ."i! )и I;l c I I и !) м с 3! а я к((туп!Ес-сол If(ifi ",с з,д.с. чси;и(вается, чем достигается высокая I ) ВСТЬiITC.(Ü(IOСТЬ ХСМЫ НP i (СПОЛЬ з()В(Пи!и с;(аоьlх г(О.-(сй и:13(азI .! ÷:.!ГаНИЯ.
