Автомат для контроля и сортировки по электрическим параметрам селеновых элементов

 

№ 96738

Класс 21g, 11,>

21е, 37вз

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ h È.Гi/юо

С. П. Петров. АВТОМАТ ДЛЯ КОНТРОЛЯ И СОРТИРОВКИ ПО ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ

ПАРАМЕТРАМ СЕЛЕНОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

Заявлено 12 мая 1952 г. за № А-1532, 446503 в Министерство промышленности средств связ t

Опубликовано в „Бюллетене изобретений 5г 1 за 1954 г, Предлагаемый автомат для контроля и сортировки селеновых элементов по их электрическим параметрам относится к известному типу устройств для проверки и сортировки изготовляемых в массовом производстве деталей электрических аппаратов по их электрическим параметрам, в которых измеряемая деталь автоматически подается загрузочным механизмом.

В месте измерения деталь подключается к электрической схеме, обусловливающей срабатывание исполнительных реле, соответствующих электрическим параметрам контролируемых деталс» и управляющих заслонками на наклонных сортировочных лотках, вдоль которых эти детали перемещаются под действием сооственного веса.

Особенностью предлагаемого автомата, выполненного сдвоенным (т. е. снабженного двумя каналами, по которым сортируемые селеновые элементы подаются к месту измерения, где на них периодически накладываются контактные щупы), является ro, что сортировочные лотки, соответствующие классам, соединены между собой заслонками, выполненными в виде стрелок, и снабжены расположенными в днище заслонками, через которые эти лотки сообщаются с отделениями приемника, соответствующими различным группам.

Этим достигается одновременная сортировка селеновых элементов по классам и группам.

Предлагаемый автомат схематически изображен па фиг. 1 (вид сбоку) и:a <риг. 2 (вид сверху). На фиг. 3 представлена принципиальная электрическая схема автомата.

Автомат имеет два самостоятельных контрольно-измерптельны. канала. В каждом канале предусматриваются: загрузочное устроиство, предназначенное для автоматической подачи селеновых элементов в формовочно-измерительную lio. ÷oäêó, формовочно-измерительная колодка, предназначенная для подформовкн сеченовых элементов в процессе пх перемещения по ней н затем их измерения, сортировочные лотки на клас-. сы и группы и приемное устройство для рассортированных селеновых элементов.

¹ 96738

Оба контрольно-измерительных канала расположены в отношении вертикального распределительного вала таким образом, что они работают от эксцентриков вала по очереди. Если в одном канале происходит подформовка и измерение, то в другом канале в это время производится перемещение селеновых элементов.

На фиг. 1 кроме сочетания узлов, входящих в контрольно-измерительные каналы, показано положс.ние канала в отношении горизонта. Благодаря тому, что контрольно-измерительные каналы работают поочередно, в автомате применена только одна измерительная схема, включаемая системой механизмов от распределительного вала то на один контрольноизмерительный канал, то на другой в предусмотренной последовательности.

Загрузочные устройства (на чертеже не показаны) могут быть любого типа — поворотиь:е, с шиберной подачей элементов и т. д.

Селеновые элементы, поступающие из загрузочного устройства г формовочно-измерительную колодку, перемещаются с помощью кулачков 1, 2, 8 и 4 распределительного вала (фиг. 1).

Эти кулачки, воздействуя nа свои рычаги, по очереди открывают и закрывают зубья, которые удерживают элементы и пропускают по одному элементу на следующучо позицию.

Перед перемещением селеновых элементов в подформовочно-измерительной колодке все измерительные щу— пы снимаются, а затем в нужной последовательности включаются с гомощью эксцентриков 5, б, 7, 8 и 9.

Как видно из принципиальной схемы, представленной на фиг. 3, от стабилизованного источника 10 получают питание измерительные блоки П, 12, 18 — соответственно класса А, класса Б и брака по обрагному току, а также блоки 14, 15 и 16 — соответственно второй группы, третьей группы и брака по прямому току.

Измерение по классам осуществляется путем взаимодействия с селеновым элементом щупа 17 классов, а измерение по группам — путем взаимодействия с ним щупа 18 групп.

В зависимости от параметров испытуемого селеиового элемента срабатывают соответствующие олоки 11, !

2 или!8 и 14, 15 и rn 16, которые через промежуточные реле 19, 20, 21 и

22, 28, 24 соединены с соответству,*ощими испо, иштсльными электромагнитами 25, 26, 27, 28, 29 и 80 первого канала и такими же исполнительными электромагнитами 25, 26, 27, 28, 29 и 80 второго канала. Эти исполнительные электромагниты управляют заслонками 25;,— 80; ь

25 3 — 80 3, установленными на наклонных сортировочных лотка.; первого и, соответственно, второго измерительного каналов l и 11 (фиг. 1 и 2).

Любой из указанных исполнительных электромагнитов, срабатывая, блокируется через собственный контакт, оставляя соответствующую заслонку в рабочем положении.

После измерения, осуществляемого накладыванием с помощью эксцентриков 8 и 9 щупов 17 классов и щупов 18 групп, и освобождения очередного селенового элемента с помощью кулачка 1 от удерживающего его зуба селеновый элемент под действием собственного веса перемещается по наклонным сортировочным лоткам и, в соответствии с установко 1 заслонок, поступает в различные отделения приемника.

Одновременная сортировк: . селеновых элементов по классам и группам обеспечивается тем, что лотки, соответствующие классам, соединены между собой заслонками 25 и 2бз, выполненными в виде стрелок, и снабжены располо>кенными в днище заслонками 27> — 80з, через которые эти лотки сообщаются с отделениями приемника, соответствующими различным группам классов А и Б (отделения Л-2, А-8, Л-4, Б-2, Б-8 и т. д.).

В результате возбу>кдеиия электромагнитов 27 и 80 срабатывают заслонки 27, и 80, расположенные в днище наклонного лотка. и селеновый элемент попадает в одно из отпслеиий приемного устройства для оракованных элементов — -Б э,„;., (брака по обратному току) и Бр„„ (брака по прямому току) .

Как видно из фиг. 1 и 2, при срабатывании электромагнитов 25 и 28 се¹ 96738 леновый элемент попадает в отделение А-2, при срабатывании электромагнитов 25 и 29 — в отделение А-8, при срабатывании электромагнита

25 — в отделениеА-4, при срабатывании электромагнитов 2б и 28 — в отделение Б-2, при срабатывании электромагнитов 26 и 29 — в отделение

Б-8, при срабатывании электромагнита 26 — ь отделение Б-4, при срабатывании электромагнита 28 в в отделение В-2, при срабатывании электромагнита 29 — в отделение

В-8. Если ни один из электромагнитов не срабатывает, то селеновый элемент попадает в отделение В-4.

Разблокирование исполнительных электромагнитов производится бортовым переключателем 81 (фиг. 3), управляемым распределительным валом и переключающим схему управления на другой измерительный канал.

Предмет изобретения

Автомат для контроля и сортировки по электрическим параметрам се-леновых элементов, подаваемых по двум каналам к месту измерения, где на них периодически накладываются конта ктные щупы, включенные в электрическую схему с реле. срабатывающими при различных электрических параметрах сортируемых элементов и приводящими в действие электромагниты, управляющие заслонками на наклонных сортировочных лотках, о тли ч аю щи и ся тем, что, с целью одновременной сортировки селеновых элементов по классам и группам, лотки, соответствующие классам, соединены между собой заслонками, выполненными в виде стрелок, и снабжены расположенными в днище заслонками, через KGторые эти лотки сообщаются с отделениями приемника, соответствующими различным группам. № 96738

Фиг. 3

Отв. редактор И. Д. Тихомиров.

Стандартгиз. Подп. к печ. 10/XI-195бг. Объем 0,375 п. л. Тираж 400. Цена 75 коп„

Министерство культуры СССР. Главное управление полиграфической промышленности

Ярославский полиграфкомбинат, г. Ярославль, ул. Свободы, 97, Заказ 841,

Автомат для контроля и сортировки по электрическим параметрам селеновых элементов Автомат для контроля и сортировки по электрическим параметрам селеновых элементов Автомат для контроля и сортировки по электрическим параметрам селеновых элементов Автомат для контроля и сортировки по электрическим параметрам селеновых элементов Автомат для контроля и сортировки по электрическим параметрам селеновых элементов Автомат для контроля и сортировки по электрическим параметрам селеновых элементов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния
Наверх