Устройство для измерения характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (1)907466 (6i) Дополнительное к авт, свид-ву (22) Заявлено 1705.79 (21) 2766536/18-09 с присоединением заявки Но (23) Приоритет

Опубликовано 2302.82. Бюллетень Мо 7

151) М.Кл

G R 27/32

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621. 317 (088. 8) Дата опубликования описания 230282

М. N. Власов и Н. К. Чернухин (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ПРОХОДНЫХ

СВЕРХВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ В ПОЛОСЕ ЧАСТОТ

Изобретение относится к радиоизмерительной технике.

Известно устройство для измерения характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот, содержащее частотно-модулированный рефлектометр с клеммами для подключения входа исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента и эталонную нагрузку (1).

Однако известное устройство не обеспечивает высокую точность измерений.

Цель изобретения — повышение точности измерений.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство для измерения характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот, содержащее частотно-модулированный рефлектометр с клеммами для подключения входа исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента, и эталонную нагрузку, введен отрезок регулярного сверхвысокочастотного тракта, выход которого подсоединен к эталонной нагрузке, а его вход служит для подключения выхода исследуемого проходного сверхвысокочастот.ного элемента.

На чертеже приведена структурная схема устройства.

Устройство для измерения характе5 ристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот содержит частотно-модулированный рефлектометр 1 с клеммами для подключения входа исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента 2, эталонную нагрузку 3 и отрезок 4 регулярного сверхвысокочастотного тракта, выход которого подсоединен к эталонной нагрузке 3, а его вход служит для подключения выхода исследуемого проходного.сверхвысокочастотного элемента 2.

Устройство работает следующим образом.

Зондирующий линейно-частотно-модулированный (ЛЧМ) сверхвысокочастотный (СВЧ) сигнал частотно-мсдулированного рефлектбра 1 распространяется через исследуемый проходной сверхвысокочастотный элемент, отрезок 4 регулярного сверхвысокочастотного тракт а и отразившись от эталонной нагрузки 3, распрастраняется обратно.

В частотно-модулированном рефлекторе 1 происходит смешение отраженного СВЧ сигнала с опорным ЛЧМ сиг907466

Формула изобретения

Составитель A.À.Kóýíåö0â

Редактор P.Öèöèêà Техред Ж.Кастелевич

Корректор В.Бутяга

Подписное

Заказ 583/54 Тираж 719

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и .открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Филиал ППП Патент, г.Ужгород, ул.Проектная,4 налом квацратурным смесителем. Амплитуды квадратурных низкочастотных сигналов (биений), полученные на выходе смесителя, определяются коэффициентом отражения эталонной нагрузки

3, и промодулированы частотной характеристикой исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента 2 и отражениями от неоднородностей отрезка 4. Причем частота модуляции за счет отражений тем выше, чем дальше по расстоянию разнесены плоскость отражения эталонной нагрузки 3 и местоположение нерегулярностей отрезка 4. Частота модуляции за счет частотной характеристики исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента 2 определяется только параметрами ЛЧИ сигнала и не зависит от длины отрезка 4. Поскольку частотные составляющие спектров квацратурных сигналов, определенные отражениями от неоднородностей, представляют собой ошибку измерения и отфильтровываются фильтрами частотно-модулированного рефлектометра 1, а частотные составляющие спектров, определяющие 25 частотную характеристику исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента 2 должны пройти в полосу пропускания фильтров.. длина отрезка

4 выбирается не менее электрической длины исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента 2.

Устройство по сравнению с известным обеспечивает более высокую точность измерений.

Устройство для измерения характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот, содержащее частотно-модулированный рефлектометр с клеммами для подключения входа исследуемого проходно(о сверхвысскочастотного элемента, и эталонную нагрузку, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерений, введен отрезок регулярного сверхвысокочастотного тракта, выход которого подсоединен к эталонной нагрузке, а его вход служит для подключения выхода исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Авторское свидетельство СССР

Р 406172, кл. G 01 R 27/28, 1971 (прототип)

Устройство для измерения характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот Устройство для измерения характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот 

 

Похожие патенты:

В п т б // 406172

Изобретение относится к области измерений в электронике СВЧ

Изобретение относится к способам определения неоднородностей электрофизических и геометрических параметров диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств твердых покрытий в химической, лакокрасочной и других отраслях промышленности

Изобретение относится к радиотехнике СВЧ
Наверх