Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

<и 926584

Союз Советских

Социалистическик

Рес убл (6! ) Дополнительное к авт. сеид-ву(22) Заявлено 15. 09.80 (2! )2982690/25-28 с присоединением заявки М 2982758/25-28 (23) Приоритет(51)М. Кл.

С 01 М 27/90!

Ъеудлрстеоеый комитет

CCCP ао делам нзобретеннй н открытнй (53) УД К620. 179 .14(088. 8) Опубликовано 07 ° 05 82. Бюллетень №17

Дата опубликования описания 07.05.82; — — —.

В. Г. Вяхорев, В. С. Ни кулыгин и П. П. Олейников ! !

1

-- " =l (72) Авторы изобретения (7!) Заявитель (54) ИМИТАТОР ДЛЯ НАСТРОЙКИ ЭЛЕКТРОНАГНИТНЫХ

ДЕФЕКТОСКОПОВ

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при дефектоскопии мате риалов и изделий методом вихревых токов.

Известен имитатор для настройки дефектоскопов, состоящий из электропроводного основания и искусственного дефекта в виде твердого тела из электропроводного материала, прикрепленного к поверхности основания 11 1. о функциональные возможности имитатора ограничены, поскол ь ку он пра ктически не позволяет имитировать под

15 поверхностные трещины с переменной глубиной и шириной раскрытия.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является имитатор для настройки электромагнит20 ных дефектоскопов,, состоящий из основания в виде многослойного электропроводного цилиндра и искусственного дефекта, выполненного по коайней мере в одном из слоев в виде сквозной, прорези Г2).

Недостатком имитгтора является то, что при изготовлении трещин перемен- . ной глубины необходимо изготавливатЬ искусственную трещи ну в нес кол ьких слоях и жестко фиксировать слои одни относительно других, образуя одну трещину.

Цель изобретения. — снижение трудо" емкости изготовления искусственных дефектов типа трещин переменной глубины и ширины раскрытия.

Поставленная цель достигается за счет того, что в имитаторе для настройки электромагнитных дефектоскопов, состоящем из основания в виде многослойного электропроводного цилиндра и искусственного дефекта, выполненного по крайней мере в одном из слоев, слой с искусственным дефектом выполнен в виде двух соосных втулок, а искусственный дефект размещен между торцами втулок.

3 92658

Для получения трещин переменной глубины втулки выполняются эксцентричными, а искусственный дефект выполняется в виде шайбы из непроводящего материала, размещенной между торцами втулок.

При этом для получения трещин с постоянным углом раскрытия, один из торцов втулки может быть выполнен в виде внешнего конуса с вершиной, лежащей на оси втулки, или в виде внутреннего конуса с вершиной, лежаI щей на оси наружного цилиндра втулки ..

Для получения трещин с переменной шириной раскрытия втулки выполнены 15 цилиндрическими и соприкасающимися в одной точке, а плоскость торца одной из втулок, обращенного к другой втулке, образует с осью втулки угол, равный 88-89,8

Основание и втулки в имитаторе могут быть выполнены из материалов с различной электропроводностью.

Имитатор может быть выполнен со шкалой исследуемого параметра ими- 25 тируемого дефекта.

На фиг. 1 показан имитатор, в котором основание выполнено в виде электропроводного стержня, размещенного внутри эксцентричных втулок; на фиг. 2 - сечение А-А на фиг. 1, на фиг. 3 - имитатор, в котором основание выполнено в виде трубы> которая охватывает эксцентричные втулки на фиг. 4 и 5 - то же основаЭ

35 ния выполнены в. виде двух слоев, между которыми. размещены эксцентричные втулки; на фиг. 6 и 7 - то же, торцы эксцентричных втулок выполнены в виде внешних конусов с вершинами, лежащими на осях отверстий втулок; на фиг. 8 и 9 - то же, торцы эксцентричных втулок выполнены в виде внутренних конусов с вершинами, лежащими на осях наружных поверхностей

45 втулок на фиг. 10 - то же, основание выпОлнено в виде стержня иэ непроводящего материала и размещено внутри цилиндрических втулок на фиг, 11 - то же, основание выполнено в виде стержня иэ электропровод50 ного материала и размещено внутри цили1>дрических втулок на фиг, 12то же, основание выполнено в виде трубы из электропроводного материала.и размещено внутри цилиндрических втулок; на фиг. 13 - то же, основание выполнено в виде трубы из проводящего материала, охватывающей

4 4 цилиндрические втулки; на фиг. 14— то же, основание выполнено в виде трубы из непроводящего материала, охватывающей цилиндрические втуЛки.

Имитатор содержит электропроводные втулки и 2 основание 3, искусственный дефект 4, шкалу 5 параметра дефекта (глубина или ширина трещины),элементы 6 крепления втулок и винты 7. В вариантах имитатора, представленных на фиг. 4 и 5, основание 3 имитатора выполнено иэ двух слоев.

Имитатор дефектов типа трещин переменной глубины изготавливают следующим образом.

Измерительным прибором, например .микроскопом, измеряют толщину стенок втулок 1 и 2 в различных точках по окружности и градуируют шкЪлу 5. После этого между втулками 1 и 2 устанавливают искусственный дефект-шайбу 4, и собирают имитатор, для чего втулки с помощью элементов 6 и винтов 7 крепят к основанию 3, при этом втулки поджимают одну к другой.

Имитатор дефектов типа трещин с переменной шириной раскрытия изготавливают, следующим образом.

Втулки 1 и 2 поджимают одну к другой с помощью элементов 6 и винтов 7.

Затем измерительным прибором, например микроскопом, измеряют ширину трещины в различных точках и градуируют шкалу 5.

С имитатором работают следующим образом.

Электромагнитный преобразователь 8 дефектоскопа устанавливают над трещиной. Снимают показания дефектоскопа и сравнивают их с его градуировкой.

Затем осуществляют настройку дефектоскопа, добиваясь показания его индикатора, соответствующего делению. шкалы 5 параметра дефекта имитатора.

Аналогичным образом проводится поверка дефектоскопа по всем величинам исследуемого параметра дефекта.

Предлагаемый имитатор прост в изготовлении, обладает хорошей воспроизводимостью, позволяет имитировать трещины с переменной глубиной и шириной раскрытия различного типа (поверхностные, подповерхностные, внутренние) . Целесообразно испольэовать имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов, предназначенных для контроля труб, прутков, листов и др.

926584 формула изобретения

Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов, состоящий из основания в виде многослойного электропроводного цилиндра и искусст венного дефект а, выполнен ного по крайней мере в одном из слоев, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью снижения трудоемкости изготовления искусственных дефектов типа трещин, слой с искусственным дефектом выполнен .в виде двух соосных втулок, а искусственный дефект размещен между торцами втулок.

2. Имитатор по и. 1, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью получения трещины переменной глубины, . втулки выполнены эксцентричными, а искусственный дефект выполнен в виде шайбы из непроводящего материала, размещенной между торцами втулок.

3. Имитатор по пп. 1 и 2, о т.л и ч а ю шийся тем, что, с 25 целью получения трещин с постоянным углом раскрытия, один из торцов втулки выполнен в виде внешнего конуса с вершиной, лежащей на оси от- . верстия втулки. зо

° 6

4. Имитатор по пп. 1 и 2, о тл и ч а ю шийся тем, что один из торцЬв втулки выполнен в виде внутреннего конуса с вершиной, лежащей на оси наружного цилиндра втулки.

5. Имитатор по п.1, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью получения трещин с переменной шириной раскрытия, втулки выполнены цили ндри чески ми и сопри касающими ся в одной точке, а плоскость торца одной из .втулок, обращенного к другой втулке, образует с осью втулки угол, равный 88-89,8

6. Имитатор по пп.1-5, о т л ич а ю шийся тем, что основание и втулки выполнены из материалов с различной электропроводностью.

7. Имитатор по пп. 1-6, о т л ич а ю шийся тем, что он выполнен со шкалой исследуемого параметра имитируемого дефекта.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

М 526652, кл. 6 01 Н 27/86, 19г4.

2. Авторское свидетельство СССР 739391, кл. G 01 N 27/86, 1978 (прототип).

926584

Составитель А.Жигарев

Редактор А.Власенко ТехредЕ.7аритончик корректор О. Билак

Заказ 2976/38 Тираж 883 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 3-35, Раушская наб., д, 4/5

Филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул.Проектная, 4

Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх