Зондовая измерительная головка

 

Оп ИСАНИЕ

Союз Советскик

Социалистических ()930435

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву .— (22) Заявлено 17.09.80 (21) 3215895/18-2 1 (51) М.К . с присоединением заявки №вЂ”

Н 01 L 21/66

Гее74арстаеннма камитет

СССР (23) Приоритет— (53) УДК 621.315. .684 (088.8 )

Опубликовано 23.05.82. Бюллетень № 19

Дата опубликования описания 28.05.82 ле делам лзабратений в аткрмтий

У

В. И. Юрченко, П. Ф. Емельянович и В. Л. !Шушкевмй4Ъд ; (72) Авторы изобретен ия

11, ч

;,.„й 1 (71) Заявитель (54) ЗОНДОВАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ГОЛОВКА

Изобретение относится к электронной и радиоизмерительной технике, в частности к зондовым головкам устройств контроля полупроводниковых структур.

Известно зондовое устройство для контроля поверхностного сопротивления тонких пленок, содержащее корпус, насадку и подпружиненные зонды, размещенные в диэлектрической трубке (! ).

К недостаткам указанного устройства кроме большой величины индуктивности относится сложность визуальной установки игольчатого зонда на контактные площадки малой величины.

Известна зондовая головка, содержащая зонд в виде коаксиального кабеля, центральный проводник которого выполнен в виде упругой иглы, коаксиальную линию для подключения зонда к измерительному блоку (2) .

Однако известное устройство имеет недостаточно надежное контактирование с площадками малой площади в импульсном наносекундном режиме и СВЧ диапазоне.

Цель изобретения — повышение надежности контактирования в импульсном наносекундном режиме и СВЧ диапазоне.

Эта цель достигается тем, что в зондовой измерительной головке, преимущественно для подключения контактов полупроводниковых структур, содержащей зонд в виде коаксиального кабеля, центральный провод5 ник которого выполнен в виде упругой иглы, коаксиальную линию для подключения зонда к измерительному блоку, внешний проводник коаксиального кабеля зонда выполнен в виде упругой вилки, между зубцами вилки больше диаметра контакта подключаемой полупроводниковой структуры.

На фиг. 1 схематически изображена зондовая измерительная головка с полупроводни ко вой структурой; на ф и г. 2 — схема контактирования и протекания токов на при15 мере меза-элементов диодов Ганна для пластины; на фиг. 3 — для одиночного элемента; на фиг. 4 — установка, общий вид.

Зондовая измерительная головка для подключения полупроводниковой структуры 1 с контактами 2, сформированными мезаэлементами, размещается на столике 3 микроманипулятора и содержит зонд в виде коаксиального кабеля, центральный проводник которого выполнен в виде упругой иглы 4, а внешний проводник — в виде вил930435 венно связаны с коаксиальной линией. Конструктивное выполнение зондов в виде иглы и вилки и их взаимное расположение позволяют достаточно просто обеспечить подключение полупроводниковых структур на общей пластине и одиночных структур.

Формула изобретения

3 ки 5 из позолоченной бронзы, между зуб цами которой размещена игла 4 зонда.

Расстояние между зубцами вилки 5 боль ше диаметра контакта 2 подключаемой по лупроводниковой структуры 1. Игла 4 зонда соединена с внутренним проводником 6 ко аксиальной линии для подключения зонда к измерительному блоку, а вилка 5 — с внешним его проводником 7.

Столик 3 микроманипулятора имеет возможность плавного перемещения в двух взаимно перпендикулярных направлениях, а зондовая головка — перемещения вверх и вниз. Коаксиальная линия через коаксиальный разъем 8 соединена с измерительным блоком.

Головка работает следующим образом.

После установки структуры 1 измеряемый меза-элемент ориентируется относительно иглы 4 зонда путем перемещения столика микроманипулятора в двух взаимно перпендикулярных направлениях микрометрическими винтами. Затем, опуская зондовую головку, осуществляют подключение мезаэлемента к измерительному блоку. Замыкание токов через измеряемый меза-элемент, в случае расположения элементов на общей низкоомной подложке без нижнего контакта, обеспечивается через эту подложку, основание и значительную совокупность элементов, перекрываемых вилкой 5. Причем, чем больше элементов перекрывает вилка 5, тем точнее будут измерения.

Повышение рабочих частот достигается тем, что измерительные зонды непосредстЗондовая измерительная головка, преимущественно для подключения контактов полупроводниковых структур, содержащая зонд в виде коаксиального кабеля, центральный проводник которого выполнен в виде упругой иглы, коаксиальную линию для

15 подключения зонда к измерительному блоку, отличающаяся тем, что, с целью повышения надежности контактирования в импульсном наносекундном режиме и СВЧ диапазоне, внешний проводник коаксиального кабеля зонда выполнен в виде упругой вилки, между зубцами которой размещена игла зонда, причем расстояние между зубцами вилки больше диаметра контакта подключаемой полупроводниковой структуры.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 481546, кл. G 01 R 31/02, 1973.

2. Авторское свидетельство СССР № 790372, кл. Н 05 К 1/04, 1978 (прототип).

930435

Составитель Л. Прокопенко

Редактор Н. Рогулич Техред А. Бойкас Корректор А. Ференц

Заказ 3335/71 Тираж 758 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по дела м изобретений и оз крытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Зондовая измерительная головка Зондовая измерительная головка Зондовая измерительная головка Зондовая измерительная головка 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин
Наверх