Способ определения токов,наведенных электромагнитным полем на поверхности электропроводящего объекта

 

(ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Социалисткческик

Республик 964552 (51)М. Кл.

501 R 29/08 (6l ) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 28.11.80 (2l ) 3211598/18-09 с присоединением заявки йв (23) Приоритет

Опубликовано 07.10,82. Бюллетень М 37

1асударстееииый камнтет

СССР да делам иэабретений и. аткрыткй (53) УДК621;317 (088.8) Дата опубликования описания р8.10.82

А.Н.Горгошидзе, Г.К.Мелешко, Н.Г. Пономарев, В

О.А.Ушаков и Ю.И.Хворостяной (72) Авторы изобретения (7I) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОКОВ, НАВЕДЕННЫХ

ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫМ ПОЛЕМ НА ПОВЕРХНОСТИ, ЭЛЕКТРОПРОВОДЯ ЩЕГО ОБЪЕКТА

Изобретение относится к технике радиоизмерений и может йспользоваться для исследования взаимодействия различных электропроводящих объектов с высокочастотным электромагнитным полем.

Известен способ, по которому измерен.

5 ние средней величины тока на объекте производится бесконтактным методом с помощью индукционного преобразователя, . расположенного вблизи поверхности (1 1.

Однако такой способ применим лишь для измерения токов, наведенных на поверхности объектов простой геометричеокой формы, при ем лишь на тех участках .этих поверхностей, где на них отсутствуют резкие локальные изменения величины токов.

Известен также способ определения токов, наведенных электромагнитным пс 2î лем на поверхности электропроводящего объекта, основанный на облучении задан ным потоком электромагнитной энергии модели исследуемого объекта (2).

Однако известный способ не обеспе. чивает измерение с высокой степенью точности щзи исследовании объектов с несимметричной формой поверхности.

Поставленная цель достигается тем,, что предварительно измеряют начальную температуру Т„поверхности модели, покрытой слоем электропроводящего материала с отношением коэффициента поглощаемой высокочастотной энергии к излучаемому инфракрасному излучению, большим- единицы, например коллоиднографитовым покрытием СБТ, нанесенным на. теплоизолирующую подложку, регист рируют поле температур Т; на поверхнооти модели после облучения ее заданным потоком электромагнитной энергии, определяют среднее значение температуры Т1 на участке поверхности модели с наиболее плавным изменением температуры, после чего облучают заданным потоком электромагнитной энергии исследуемый объект, измеряют величину тока „на поверхности обьекта на участке, coom

3 ОА45

I ветствующем укаэанному участку на поверхности модели исследуемого объекта, и величину тока „на любой точке поверхности исследуемого объекта определяют по формуле 5

Т1- 0

3 °Т„- Т0

Сущность способа заключается в следующем.

Потоком электромагнитной энергии облучают равномасштабную модель исследуемого обьекта, наружная поверхность которой покрыта слоем электропроводящего материала с большим омичесхим сопротивлением и высокой степенью черноты, например коллоидно-графитовым покрытием СБТ-, нанесенным на теплоиэолирующую подложку, регистрируют попе температур Т„, на поверхности мо20 . дели после облучейия ее потоком алектромагнитной энергии, например с помощью тепловизора, выделяют на модели область с наиболее плавным иэменени25 ем температуры вдоль човерхности модели и определяют среднее значение Т„ температуры поверхности в выделенной области.

После этого потоком- электромагнитной энергии с теми же параметрами облу-ЗО чают исследуемой объект и измеряют, ° например бесконтактным методом с помощью индукционного преобразователя величину тока 1„на поверхности объекта в области, соответствующей облас- N ти модели, и определяют величину тока в любой точке поверхности объекта из соотношения.

2 1. 0 . go

T Т т -т, 0

Предлагаемый способ позволяет проводить определение величины тока на обьектах любой геометрической формы, s любой ориентации объекта относительно

Ь2 4 излучения, что расширяет диапазон проводимых измерений.

Формула иэ обретения

Способ определения токов, наведенных. электромагнитным полем на Поверхнооти электропроводяшего обьекта, основанный на облучении заданным потоком электромагнитной энергии модели исследуемого объекта,. отличающийся тем, что, с целью повышения точности предварительно измеряют начальную температуру Т0 поверхности модели, покрытой слоем электропроводящего материала с отношением коэффициента поглощения высокочастотной энергии к излучаемому инфракрасному излучению, большим единицы, например коллоидно-графитовым покрытием СБТ, нанесенным на теплоизолируюшую подложку, регистрируют поле температур Т„. на поверхности модели после облучейия ее заданным потоком электромагнитной энергии, определяют среднее значение температуры Т на

1 участке поверхности модели с наиболее плавным изменением температуры, после чего облучают заданным потоком элекромагнитной энергии исследуемый объект, измеряют величину тока j на по1 верхности обьекта на участке, соответствующем указанному участку на поверхности модели исследуемого обьекта, и величину тока j; tn любой точке поверхности исследуемого объекта определяют по формуле 1 Т0

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Разин Г. И. и др. Бесконтактные измерения электрических токов. М.; Атом« издат, 1974, с. 65;

2. Кинг P. и др. Рассеяние и дифрак-ция электромагнитных волн. М., Иэд-во ичостр. лит., 1962, с. 171 (прототип).

Составитель А. Кузнецов

Редактор Л. Лукач Техред Ж.Кастелевич Корректор Г. Решетник

Заказ 7622/25 Тираж 717 Подписное

БНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.; ц. 4/5

Филиал ППП "Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ определения токов,наведенных электромагнитным полем на поверхности электропроводящего объекта Способ определения токов,наведенных электромагнитным полем на поверхности электропроводящего объекта 

 

Похожие патенты:

Тем-камера // 2103771
Изобретение относится к устройствам для испытания на электромагнитную совместимость электронных приоров, для исследований воздействия электромагнитного поля на живые организмы, для калибровки датчиков электромагнитного поля и представляет ТЕМ камеру, содержащую внешний пирамидальный замкнутый проводник, внутри которого в непосредственной близости от основания установлена комбинированная нагрузка, выполненная из поглощающей панели высокочастотных поглотителей и омических сопротивлений и асимметрично расположен внутренний проводник, выполненный из проводящего листа, переходящего в области нагрузки в плоскую пластину меньшей ширины, проходящую через поглощающую панель и соединенную с омическими сопротивлениями, при этом со стороны вершины пирамиды установлен согласованный переход для подключения генератора сигналов, отличающаяся тем, что внутренний проводник выполнен в форме части боковой поверхности конуса с радиусом сечения R, определяемым соотношением: R = (0,25 oC 0,3) (A + B), где: A и B - соответственно ширина и высота поперечного сечения внешнего проводника ТЕМ камеры, B = (0,7oC0,1) A

Изобретение относится к измерениям электромагнитных, оптических, тепловых, радиационных и других физических полей, образующихся в различных технологических процессах и природных явлениях, и может быть использовано в различных областях, например, сельское хозяйство, медицина, экология и т.п.

Изобретение относится к приборам, измеряющим электрические и электромагнитные поля

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к электрофизическим измерениям, в частности для измерений плотности тока проводимости либо напряженности электрического поля, и может быть использовано в океанологии, геофизических исследованиях, электроразведке

Изобретение относится к радиоэлектронике и может использоваться в измерительных комплексах, а именно для исследования структуры объектов и измерения электромагнитных излучений от исследуемых объектов

Изобретение относится к области антенной техники и может быть использовано при экспериментальной отработке антенн, контроле характеристик на стадиях создания и эксплуатации
Наверх