Компенсация неидеальной поверхности рефлектора в системе спутниковой связи - заявка 2015124128 на патент на изобретение в РФ

1. Система (200), содержащая
формирователь (224) пучков, выполненный с возможностью измерения амплитуд и фаз сигналов, отраженных от рефлектора (220) спутника (202), причем эти амплитуды и фазы формируют первую совокупность результатов измерения, и
вычислительное устройство (226), выполненное с возможностью расчета корреляционной матрицы элементов как функции от указанной первой совокупности результатов измерения, причем корреляционная матрица элементов представляет диаграмму излучения облучающего элемента рефлектора (220),
причем формирователь (224) пучков выполнен с возможностью создания диаграммы направленности сформированного пучка, отрегулированной на основании указанной корреляционной матрицы элементов, что обеспечивает компенсацию неидеальной поверхности рефлектора (220).
2. Система (200) по п. 1, в которой диаграмма направленности сформированного пучка представляет собой функцию от диаграммы направленности облучателя и весовых коэффициентов пучка, а формирователь (224) пучков выполнен с возможностью создания диаграммы направленности сформированного пучка как функции от весовых коэффициентов пучка, отрегулированных на основании указанной корреляционной матрицы элементов.
3. Система (200) по п. 1, в которой формирователь пучков (224) выполнен с возможностью измерения амплитуд и фаз по мере того, как происходит поворот спутника (202) с предварительно определенной скоростью в предварительно определенном диапазоне.
4. Система (200) по п. 1, в которой формирователь пучков (224) дополнительно выполнен с возможностью направления сигналов на спутник (202) для отражения от рефлектора (220), причем спутник (202) выполнен с возможностью приема этих сигналов через фидерные линии связи (210) в антенне (228) фидерной линии связи, при этом обеспечена возможность поворота антенны (228) фидерной линии связи в обратном направлении при повороте спутника (202).
5. Система (200) по п. 1, в которой спутник (202) выполнен с возможностью приема сигналов через фидерные линии связи (210), а формирователь (224) пучков содержит первый и второй формирователи пучков, причем первый формирователь пучков выполнен с возможностью измерения амплитуд и фаз сигналов, отраженных от рефлектора, а второй формирователь пучков выполнен с возможностью измерения амплитуд и фаз сигналов, прошедших через платформу (216) связи спутника (202) и вернувшихся обратно через фидерные линии (210) связи, независящие от рефлектора (220), при этом указанные соответствующие амплитуды и фазы формируют вторую совокупность результатов измерения, а вычислительное устройство дополнительно выполнено с возможностью расчета корреляционной матрицы элементов как функции от указанной второй совокупности результатов измерений.
6. Система (200) по п. 1, в которой формирователь пучков (224) содержит первый и второй формирователи пучков, причем первый формирователь пучков выполнен с возможностью измерения амплитуд и фаз сигналов, отраженных от рефлектора (220),
причем первый и второй формирователи пучков выполнены с возможностью измерения первой и второй амплитуд и фаз вторых сигналов, принятых в соответствующих формирователях из первого и второго формирователей пучков от спутника (202) через фидерные линии (210) связи, при этом спутник (202) принимает вторые сигналы через фидерные линии связи (210), независящие от рефлектора (220), а указанные соответствующие первая и вторая амплитуды формируют первую и вторую совокупности результатов измерений, причем вычислительное устройство выполнено с возможностью расчета результата измерения разницы как функции от разницы между указанными первой и второй совокупностями результатов измерений и дополнительно с возможностью расчета корреляционной матрицы элементов как функции от указанных первой и второй совокупностей результатов измерений и результата измерения разницы.
7. Способ, согласно которому
измеряют амплитуды и фазы сигналов, отраженных от рефлектора (220) спутника (202), причем амплитуды и фазы формируют первую совокупность результатов измерения,
рассчитывают корреляционную матрицу элементов как функцию от указанной первой совокупности результатов измерения, причем корреляционная матрица элементов представляет диаграмму излучения облучающего элемента рефлектора (220), и
регулируют диаграмму направленности сформированного пучка формирователя (224) пучков на основании указанной корреляционной матрицы элементов, что обеспечивает компенсацию неидеальной поверхности рефлектора (220).
8. Способ по п. 7, согласно которому диаграмма направленности сформированного пучка представляет собой функцию от диаграммы направленности облучателя и весовых коэффициентов пучка, при этом регулирование диаграммы направленности сформированного пучка включает регулирование весовых коэффициентов пучка на основании указанной корреляционной матрицы элементов.
9. Способ по п. 7, согласно которому амплитуды и фазы измеряют по мере поворота спутника с предварительно определенной скоростью в предварительно определенном диапазоне.
10. Способ по п. 7, согласно которому дополнительно направляют сигналы на спутник (202) для отражения от рефлектора (220), причем спутник (202) принимает сигналы через фидерные линии связи в антенне (228) фидерной линии связи, которую поворачивают в обратном направлении по мере поворота спутника (202).
11. Способ по п. 7, согласно которому спутник (202) принимает сигналы через фидерные линии (210) связи, причем согласно способу дополнительно:
измеряют амплитуды и фазы сигналов, прошедших через платформу (216) связи спутника (202) и вернувшихся обратно через фидерные линии (210) связи, независящие от рефлектора (220), причем указанные соответствующие амплитуды и фазы формируют вторую совокупность результатов измерения, при этом корреляционная матрица элементов дополнительно рассчитана как функция от указанной второй совокупности результатов измерений.
12. Способ по п. 7, согласно которому формирователь пучков (224) содержит первый и второй формирователи пучков, причем согласно способу дополнительно
измеряют первые и вторые амплитуды и фазы вторых сигналов, принятых в соответствующих формирователях из первого и второго формирователей пучков от спутника (202) через фидерные линии (210) связи, причем спутник (202) принимает вторые сигналы через фидерные линии (210) связи, независящие от рефлектора (220), а соответствующая первая и вторая амплитуды формируют первую и вторую совокупности результатов измерений, и
рассчитывают результат измерения разницы как функцию от разницы между указанными первой и второй совокупностями результатов измерений,
при этом корреляционная матрица элементов дополнительно рассчитана как функция от указанных первой и второй совокупностей результатов измерений и результата измерения разницы.
Наверх